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- [发明专利]一种硅片的缺口检测方法及装置-CN201711205182.6在审
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李阳;周璐;李铭
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浙江华睿科技有限公司
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2017-11-27
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2018-05-08
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G06T7/00
- 本发明公开了一种硅片的缺口检测方法及装置,所述方法包括:获取硅片图像,提取所述硅片的边界点;针对每个边界点,根据该边界点及与该边界点相邻的两个边界点,确定该边界点对应的方向角变化量;针对每个边界点,判断该边界点对应的方向角变化量是否大于预设的方向角变化阈值;如果是,确定该边界点处存在缺口。由于在本发明实施例中,针对硅片的每个边界点,根据该边界点及与该边界点相邻的两个边界点,确定该边界点对应的方向角变化量,并当该边界点对应的方向角变化量大于预设的方向角变化阈值时,确定该边界点处存在缺口,直接根据硅片的边界点对硅片是否存在缺口进行检测,无需对边界点进行拟合,提高了硅片的缺口检测的精度与效率。
- 一种硅片缺口检测方法装置
- [发明专利]一种基于边界环收缩的聚类系统及方法-CN202110477832.2在审
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马弢
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中国航天空气动力技术研究院
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2021-04-30
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2021-10-08
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G06K9/62
- 本发明一种基于边界环收缩的聚类系统及方法,系统包括:边界点检测模块、边界聚合模块和边界环收缩模块:边界点检测模块,对于待聚类的数据点,采用边界点检测算法确定属于边界点的数据点,形成边界点集合P,从而获取聚类边界点;边界聚合模块,对边界点检测模块得到的边界点集合P,根据聚类数目k对边界点集合P进行边界聚合,即将边界点集合P,根据聚类数目k,划分为若干的新集合,每个新集合为每个聚类的边界,为每个新集合分配一个标签,且每个新集合分配的标签不同;边界环收缩模块,对于各个新集合形成的边界内的未标记点进行标签分配,完成对该新集合所有待聚类的数据点的标签分配,从而实现聚类。
- 一种基于边界收缩系统方法
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