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- [发明专利]多指数误差外推法-CN202180040762.2在审
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蔡臻禹;西蒙·本杰明
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牛津大学创新有限公司
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2021-07-01
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2023-04-25
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G06N10/00
- 一种在使用量子计算机时减少误差的方法,包括:S101,多次对量子位的状态执行第一运算21;其中第一运算21具有第一误差率32;S102,获得量子位的平均状态的第一测量;S103,将量子计算机的误差率从第一误差率32修改为第二误差率34;S104,多次对量子位的状态执行第二运算23;其中第二运算23具有第二误差率34;S105,获得量子位的平均状态的第二测量;S106,将量子计算机的误差率从第二误差率修改为第三误差率;S107,多次对量子位的状态执行第三运算;其中第三运算具有第三误差率;S108,获得量子位的平均状态的第三测量;S109,将量子计算机的误差率从第三误差率修改为第四误差率;S110,多次对量子位的状态执行第四运算;其中第四运算具有第四误差率;S111,获得量子位的平均状态的第四测量;S112,将第一、第二、第三和第四测量拟合到多指数衰变曲线35;以及S113,使用所拟合的曲线35来外推第五误差率37处的量子位的平均状态,其中第五误差率37低于第一、第二、第三和第四误差率。
- 指数误差外推法
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