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[发明专利]一种防盗窃的红外伪装实现方法及系统-CN202211231335.5在审
发明人：贺小亮;高桂清;张芳;尚鑫 -专利权人：中国人民解放军火箭军工程大学
申请日： 2022-10-10 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： H05B44/00 文献下载
摘要：本发明公开一种防盗窃的红外伪装实现方法及系统，通过将红外伪装材料包覆在防盗窃的目标物体上，所述红外伪装材料采用红外电致变发射率组件改变防盗窃的目标物体表面发射率；使所述防盗窃的目标物体的表面发射率低于防盗窃的目标物体的背景发射率，由于防盗窃的目标物体的红外表面图像与背景融合了，可使犯罪分子无法分辨目标物体，因此，可实现主动防御对目标物体的探测，另外，通过判断当前时间是否为背景温度开始上升的预定时间，并在判断结果为是后控制所述红外电致变发射率组件的发射率与防盗窃的目标物体的背景发射率保持恒定的发射率差值，可减少红外电致变发射率组件的发射损耗。
一种盗窃红外伪装实现方法系统

[发明专利]一种低红外发射率隔热材料及其制备方法-CN201811610801.4在审
发明人：艾兵;张世超;孙现凯;陈玉峰;孙浩然;方凯;陶柳实;闫达琛;赵洋 -专利权人：中国建筑材料科学研究总院有限公司
申请日： 2018-12-27 - 公布日： 2019-04-26 - 主分类号： B32B7/12 文献下载
摘要：本发明公开了一种低红外发射率隔热材料及其制备方法，该低红外发射率隔热材料包括依次连接的基底隔热层、反射屏材料及低红外发射率涂层；其制备方法包括：将低发射率填料与胶粘剂混合，搅拌均匀，以得到低红外发射率涂层；将所得到的低发射率涂层均匀刷涂在反射屏材料的表面，烘干；将所得到的刷涂有低发射率涂层的反射屏材料与基底隔热层组合为一体，压力成型，烘干。本发明的低红外发射率隔热材料可以有效降低高温部件表面的发射率，减少各个部件之间的热量传递，提高材料隔热性能。
低红外发射率隔热材料反射屏制备低发射率涂层基底隔热层烘干刷涂胶粘剂低发射率高温部件隔热性能热量传递压力成型依次连接发射率

[发明专利]一种通过图像分割修正表面发射率的红外热成像测温方法-CN201310097108.2有效
发明人：徐立军;李小路;成艳亭;陈路路 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2013-03-25 - 公布日： 2013-07-10 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：一种通过图像分割修正表面发射率的红外热成像测温方法；针对红外热像仪所拍摄目标对象表面的红外图像，利用图像分割算法，区分红外图像中发射率不同的区域；基于发射率测量仪测量不同区域的发射率，建立与红外图像像素一一对应的发射率分布矩阵，利用该发射率分布矩阵修正目标对象表面红外图像的灰度矩阵，从而得到符合目标对象表面发射率分布特征的红外图像，从而可以计算得到目标对象表面的温度场分布。现有红外热成像测温方法由于无法对目标对象表面的发射率分布进行正确设定而导致测温结果误差较大，本发明所提供的红外热成像测温方法能够有效减小误差，使得测温结果更符合目标对象表面实际的温度分布情况，该方法对设备要求简单
一种通过图像分割修正表面发射红外成像测温方法

[发明专利]一种常温状态下试件损伤部位发射率测量装置及方法-CN202111114622.3在审
发明人：李益文;姜迪凯;化为卓;陈戈;李玉琴;赵志宇;邰会强;焦朝强;张浦幼森;王彦丰 -专利权人：中国人民解放军空军工程大学
申请日： 2021-09-23 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： G01N25/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种常温状态下试件损伤部位发射率测量装置及方法，属于发射率测量技术领域，用于提供克服常用测试手段简单且测量精确不够精确的问题。通过红外热像仪接收被测物体表面的辐射来确定被测部位的红外发射率，解决了测量计算红外发射率操作复杂的难题，提高了测量效率。利用红外热像仪细化了试件表面损伤部位的发射率分布情况，解决了测量损伤部位发射率粗糙的难题，可以得到损伤部位不同位置的发射率测量结果，提高了发射率的可探测性。由辐射温度与真实温度的关系式，推出热像仪测量目标发射率计算公式，利用保护罩遮挡降低了背景辐射影响，多点测试取平均值降低了偶然误差，测量得到的发射率结果误差在5％之内。
一种常温状态下试件损伤部位发射测量装置方法

[发明专利]装置和用于制造装置的方法-CN201910806739.4在审
发明人： I·拉姆斯特纳;A·赫勒切克;H-J·施瓦茨 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2019-08-29 - 公布日： 2020-03-10 - 主分类号： G01S7/481 文献下载
摘要：本发明涉及一种尤其呈传感器形式的装置，所述装置包括壳体，所述壳体具有表面，所述表面具有至少一个部分区域，该部分区域具有在第一波长范围内具有第一发射率并且在与第一波长范围不同的第二波长范围内具有第二发射率的光谱发射率，其中，所述第一发射率小于第二发射率并且所述第二发射率与所述第一发射率之间的比至少为1.5。
装置用于制造方法

[发明专利]一种透明介质半球红外发射率的测量方法-CN202210852726.2在审
发明人：孙腾飞;赵欣;刘铮;刘庆志;周宇鹏;刘伟;高宇纯;侯飞;李挺豪;许峰 -专利权人：北京空间飞行器总体设计部
申请日： 2022-06-29 - 公布日： 2022-11-04 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种透明介质半球红外发射率的测量方法，步骤为：建立辐射计测量透明材料半球红外发射率模型；选取具有不同红外发射率的材料作为基底材料并测量基底材料的半球红外发射率；将透明或半透明材料制备成片状试样；分别以不同的基底材料作为基底，使用辐射计测量试样不同表面的半球红外发射率，得到半球红外发射率测量值；将基底材料的半球红外发射率及试样表面的半球红外发射率测量值代入辐射计测量透明材料半球红外发射率模型进行求解
一种透明介质半球红外发射测量方法

[发明专利]晶圆测温装置和方法-CN202211482029.9在审
发明人：朱孟辉 -专利权人：上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司;上海集成电路研发中心有限公司
申请日： 2022-11-24 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种晶圆测温装置和方法，装置包括：腔体，所述腔体用于容纳晶圆、发射率板、高温计和加热模组；所述晶圆的表面与所述发射率板的表面平行设置；所述加热模组包括若干加热件，用于加热所述晶圆和所述发射率板，所述发射率板受热后发出热辐射信号；其中，对应所述发射率板同一区域的所述加热件的加热功率正相关；所述发射率板的不同区域的发射率相同，所述发射率不因更换所述晶圆而变化；所述高温计用于测量所述发射率板的不同区域的热辐射信号
测温装置方法

[发明专利]一种光谱发射率的稳态测试系统与方法-CN201410253718.1有效
发明人：符泰然;段明皓;唐佳琦 -专利权人：清华大学
申请日： 2014-06-09 - 公布日： 2017-01-25 - 主分类号： G01N21/47 文献下载
摘要：本发明公开一种光谱发射率的稳态测试系统及方法，该系统包括样品加热单元，用于对样品进行热辐射加热，所述样品为具有漫射表面的不透明材料；光谱辐射能量测量单元，用于对样品表面的多光谱有效辐射能量进行测量；光谱发射率反演单元，用于根据多光谱有效辐射能量反演样品的光谱发射率与温度。相比于光谱发射率直接测量法，本发明提供的方法无需参考黑体源，并克服了对高温样品温度进行准确测量的依赖性；相比于基于发射率模型的光谱发射率测量方法，本发明提供的方法不依赖于光谱发射率建设模型，克服了发射率假设模型给应用带来的局限性问题
一种光谱发射稳态测试系统方法

[发明专利]阵列式发射率参考物-CN201711220806.1在审
发明人：李文军;王潇楠 -专利权人：中国计量大学
申请日： 2017-11-27 - 公布日： 2018-03-13 - 主分类号： G01J5/52 文献下载
摘要：本发明涉及阵列式发射率参考物，包括长方体金属基底，矩形槽，矩形翅，对称线，所述长方体金属基底上表面存在一系列矩形槽和矩形翅，所述长方体金属基底表面存在一根对称线。本发明通过设计阵列式发射率参考物，能够作为参考物在红外测温技术领域提供比较广泛的发射率区间，并提供连续可选的表面单元，可选的表面单元在工作温度区间内有连续稳定的发射率，其对称式结构可使温场更加稳定，对该阵列式发射率参考物标定后可作为发射率参考样品
阵列发射参考

[发明专利]计算设备中的黑体辐射-CN201780021174.8有效
发明人： A·D·德拉诺;A·A·欧罗;K·库鲁马达里 -专利权人：微软技术许可有限责任公司
申请日： 2017-03-22 - 公布日： 2021-12-31 - 主分类号： G06F1/20 文献下载
摘要：外壳包括内表面。外壳的内表面的一部分具有第一发射率。计算设备还包括定位在外壳内的热管理设备，该热管理设备与外壳的内表面的该部分相距一距离。热管理设备包括外表面。热管理设备的外表面包括第一部分和第二部分。热管理设备的外表面的第一部分具有第二发射率，并且热管理设备的外表面的第二部分具有第三发射率。第二发射率大于第三发射率，而第一发射率与第二发射率基本相同。
计算设备中的黑体辐射

[发明专利]一种基于光线捕获的高发射率星载黑体辐射源的设计方法-CN202210384936.3在审
发明人：郝小鹏;周晶晶;宋健 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2022-04-13 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： G01J5/53 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于光线捕获的高发射率星载黑体辐射源的设计方法，首先从光路传输模型上确定了黑体辐射源的多次反射和吸收以达到高发射率的机理。通过仿真模拟的手段研究了黑体辐射源的发射率随表面设置、位置、角度等变化的规律。通过制作两个黑体辐射源样件开展对波段发射率和光谱发射率的测量实验，比对仿真和实验结果的差异，显示实验结果与仿真结果一致，表面反射分量为近镜面反射的基于光线捕获的星载黑体辐射源具有更高的发射率和更好的发射率均匀性
一种基于光线捕获发射率星载黑体辐射源设计方法

[发明专利]一种涂层材料表面高温发射率测试方法-CN202210710811.5在审
发明人：王曲;王刚;李凌锋;张琪;杜鹏辉;王来稳;赵世贤;李虹屿;梁鹏鹏 -专利权人：中钢集团洛阳耐火材料研究院有限公司
申请日： 2022-06-22 - 公布日： 2022-09-23 - 主分类号： G01N25/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种涂层材料表面高温发射率的测试方法，测试方法为将待测涂层材料涂敷于已标定发射率的刚玉耐火材料片的一侧表面，已标定发射率的刚玉耐火材料片的一侧表面不涂覆待测涂层材料；将非接触式红外测温仪分别对准已标定发射率的刚玉耐火材料片两侧表面的中心位置进行检测；通过未涂覆涂层刚玉耐火材料片一侧的非接触测温仪传送回来的信号，控制两个氧燃气喷枪的燃气及氧气的流量；氧燃气喷枪同时加热刚玉耐火材料片的两个表面，当已标定发射率的刚玉耐火材料片达到待测温度点，通过调节待测涂层一侧红外测温仪的发射率数值，当温度达到待测温度点时，即可得到待测涂层材料的表面发射率。本发明适用于各类材料的表面发射率的在线快速测量。
一种涂层材料表面高温发射测试方法

[实用新型]一种阵列式发射率参考物-CN201721620946.3有效
发明人：王潇楠;李文军 -专利权人：中国计量大学
申请日： 2017-11-27 - 公布日： 2018-06-08 - 主分类号： G01J5/52 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种阵列式发射率参考物，包括长方体金属基底，矩形槽，矩形翅，对称线，所述长方体金属基底上表面存在一系列矩形槽和矩形翅，所述长方体金属基底表面存在一根对称线。本实用新型通过设计一种阵列式发射率参考物，能够作为参考物在红外测温技术领域提供比较广泛的发射率区间，并提供连续可选的表面单元，可选的表面单元在工作温度区间内有连续稳定的发射率，其对称式结构可使温场更加稳定，对该一种阵列式发射率参考物标定后可作为发射率参考样品，小巧简单，操作方便。
发射率参考物阵列式长方体金属本实用新型表面单元对称线矩形槽矩形翅可选的工作温度区间对称式结构基底上表面参考样品红外测温基底表面标定基底温场

[发明专利]一种高发射率、低热导率涂层及其制备方法-CN201910841764.6在审
发明人：田伟智 -专利权人：北京星航机电装备有限公司
申请日： 2019-09-06 - 公布日： 2019-11-19 - 主分类号： C23C4/073 文献下载
摘要：本发明属于热防护涂层制备技术领域，具体涉及一种高发射率、低热导率涂层及其制备方法。该制备方法包括在零件基体表面依次喷涂CoNiCrAlY底层、氧化锆过渡层和高发射率面层，得到高发射率、低热导率涂层。利用本发明得到的高发射率、低热导率涂层，涂层厚度结构合理，可有效避免各层材料之间因热膨胀系数差异导致的失效；采用高发射率材料、氧化锆过渡层、底层等材料的组合，可提高表面发射率的同时，降低高温高速气流对基体的热传导
高发射率低热导率过渡层氧化锆制备热膨胀系数差异高发射率材料高温高速气流制备技术领域表面发射率高温结构件热防护涂层厚度结构零件基体热传导热载荷面层喷涂

[发明专利]一种发射率测量装置的校准方法-CN202111474386.6有效
发明人：张宇峰;安东阳;王洋;唐增武;戴景民;刘钊;贾辉;刘文皓 -专利权人：渤海大学;北京星航机电装备有限公司;哈尔滨工业大学
申请日： 2021-12-03 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G01N21/3563 文献下载
摘要：本发明涉及一种发射率测量装置的校准方法，属于红外测试领域，解决了现有发射率测量装置校准成本高的问题。校准方法包括：根据需要得到的标准氧化膜的发射率E理论，计算得到标准氧化膜的厚度d；根据氧化膜的厚度d确定电解液的质量浓度c；以质量浓度c的电解液对作为阳极的铝片进行电化学氧化，在铝片表面制备得到标准氧化膜；采用傅里叶红外光谱发射率测量装置检测制备得到的标准氧化膜的发射率E测，E测作为标准发射率；用发射率测量装置测量采用步骤1至步骤3的方法制备得到的一系列已知标准发射率的标准氧化膜，通过测得的数值与标准发射率进行比较，以校准发射率测量装置。本发明的方法能够快速进行发射率测量装置的校准。
一种发射测量装置校准方法

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