专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果1718864个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]一种遥感卫星多光谱数据的大气订正方法-CN201110119645.3有效
  • 王爱春;傅俏燕;闵祥军;李杏朝;潘志强;韩启金 - 中国资源卫星应用中心
  • 2011-05-10 - 2011-12-21 - G01S7/497
  • 一种遥感卫星多光谱数据的大气订正方法,(1)读取数据,将数据转换为表观辐亮度数据和表观反射数据;(2)依据表观反射数据计算决策树法中的决策因子:比值植被指数、土壤可调植被指数和归一化水体指数,通过决策树法实现暗目标自动提取;(3)根据表观反射数据获取上述暗目标区域的表观反射数据,并计算大气路径反射;(4)根据大气路径反射和瑞利反射比值与气溶胶光学厚度的关系,确定多光谱各波段的气溶胶光学厚度;并依据多光谱各波段的气溶胶光学厚度和瑞利散射光学厚度,确定出550nm处总的光学厚度;(5)依据上述550nm处总的光学厚度,利用查找表获取反演参数,通过辐射传输方程求解地表反射,完成大气订正。
  • 一种遥感卫星光谱数据大气订正方法
  • [发明专利]HJ-1A卫星超光谱成像仪在轨辐射定标方法-CN201010241124.0无效
  • 顾行发;余涛;高海亮;李小英;巩慧;李家国;程天海;孙源 - 中国科学院遥感应用研究所
  • 2010-07-30 - 2012-02-08 - G01J3/42
  • 本发明公开了HJ-1A卫星超光谱成像仪在轨辐射定标方法,具体为:1)根据大气参数,将场地平均反射重新采样成2.5nm间隔,并计算出2.5nm间隔的表观反射曲线;2)利用超光谱成像仪各通道中心波长对表观反射曲线进行插值,得到超光谱成像仪各通道等效表观反射;3)计算超光谱成像仪各通道对应的表观辐亮度;4)提取出超光谱成像仪图像各通道平均DN值;5)计算得到各通道的表观辐亮度定标系数。本发明的超光谱成像仪在轨辐射定标方法,利用大气参数,然后利用相关公式实现表观辐亮度的计算,有效避免了根据6S模型计算结果计算量大的问题。另外,在定标过程中采用线性插值方法对表观反射曲线进行插值,提高了处理速度,简化了定标过程。
  • hj卫星光谱成像辐射定标方法
  • [发明专利]一种基于最小反射法的高分辨遥感影像大气校正方法-CN202010194430.7在审
  • 陈伟 - 中国矿业大学(北京)
  • 2020-03-19 - 2020-07-14 - G06T5/00
  • 本发明公开了一种基于最小反射法的高分辨遥感影像大气校正的方法,其包括:对所述高分辨遥感影像进行预处理,获取表观辐亮度影像;对表观辐亮度影像消除云层阴影;通过最小反射方法,对消除云层阴影的表观辐亮度影像提取暗目标区域;基于最小反射方法,在暗目标区域中提取的暗目标;通过查找预先构建的查找表,根据所述目标获得校正参数,然后计算得到地表反射,由此得到地表反射影像。该方法克服目前主要光学传感器缺少短波红外波段难以获取气溶胶信息的现实困难,通过最小反射法获取地表暗目标,并以此为基础获取暗目标的大气与地表反射信息,从而实现对光学传感器遥感影像的大气校正。
  • 一种基于最小反射率高分辨率遥感影像大气校正方法
  • [发明专利]一种气溶胶光学厚度反演方法及装置-CN202210894502.8在审
  • 王诗圣;王宇翔;黄葵;陶进 - 南京航天宏图信息技术有限公司
  • 2022-07-28 - 2022-08-30 - G06F30/20
  • 本申请提供了一种气溶胶光学厚度反演方法及装置,涉及卫星遥感影像技术领域,包括:获取FY4A AGRI传感器的遥感影像,从遥感影像中获取每个像元的观测几何参数和蓝光数据;基于每个像元的蓝光数据得到第一蓝光波段表观反射;利用所述像元的观测几何参数和预先建立的查找表,通过理论模拟方法计算每个像元的多个模拟气溶胶光学厚度对应的第二蓝光波段表观反射;利用所述像元的第一蓝光波段表观反射和多个模拟气溶胶光学厚度对应的第二蓝光波段表观反射,拟合得到每个像元的一次线性方程;基于每个像元的第一蓝光波段表观反射和对应的一次线性方程,计算每个像元的气溶胶光学厚度。
  • 一种气溶胶光学厚度反演方法装置

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top