专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]荧光探测的校准方法及荧光探测-CN202110246561.X在审
  • 刘树然;吴再辉;刘莹;安帅;昝明辉 - 郑州中科生物医学工程技术研究院
  • 2021-03-05 - 2022-09-09 - G01N21/64
  • 本发明涉及荧光探测的校准,特别涉及荧光探测的校准方法及荧光探测荧光探测的校准方法包括以下步骤:步骤一、使用待校准荧光探测检测校准用样品,得到检测值a;步骤二,若检测值a>设定值b,根据检测值,通过待校准荧光探测的控制装置以闭环方式降低激发光源的光强,使检测得到的检测值=设定值b;若检测值a<设定值b,根据检测值,通过待校准荧光探测的控制装置以闭环方式增加激发光源的光强,使检测得到的检测值=设定值b。荧光探测能够根据检测值调整荧光探测的激发光源,使激发光源的光强降低或增加;上述方案能够解决现有的荧光探测校准时装配调试困难、CV值不易控制的问题。
  • 荧光探测器校准方法
  • [实用新型]一种基于LED光源紫外荧光智能水质监测设备-CN201920980778.1有效
  • 谢林伸;李玮;陈纯兴;廖国威 - 深圳市环境科学研究院
  • 2019-06-27 - 2020-04-07 - G01N21/33
  • 一种基于LED光源紫外荧光智能水质监测设备,适用于环境工程水质检测;解决现有在线水质监测装置体积大、能耗髙和结构相对复杂,且不能同时监测蛋白质类物质、腐殖质类物质和微生物等问题。本实用新型包含样品采集部分、紫外荧光检测部分和信号控制部分,紫外荧光检测部分包含深紫外LED灯、紫外探测荧光探测1和荧光探测2。深紫外LED灯设置于样品采集部分的上方,紫外探测设置于样品采集部分的下方,它们在一条轴线上。荧光探测1和荧光探测2垂直设置于深紫外LED灯、样品采集部分、紫外探测所在轴线的两侧面;信号控制部分分别与荧光探测1、荧光探测2和紫外探测电性相连。
  • 一种基于led光源紫外荧光智能水质监测设备
  • [发明专利]一种用于II型糖尿病药物筛选的装置-CN201310739789.8在审
  • 张翔;徐涛;贾策;仓怀兴;罗志勇;纪伟;付彦辉;孟涛 - 中国科学院生物物理研究所
  • 2013-12-30 - 2015-07-01 - G01N21/64
  • 本发明基于荧光探针构建和转基因技术,提出了一种用于II型糖尿病药物筛选的装置,本发明利用光学检测手段,将药理研究从细胞水平提升到整体动物水平,并且能够对药物作用进行实时监测和分析。其包括:单色光源,连接输入光纤的一端,将单色光源的发射光引至探测点,激发探测点产生荧光;输出光纤,接收探测点的荧光;与输出光纤连接的二色分光,由二色分光将接收到的荧光分成红色荧光和绿色荧光;红色荧光探测,安置在红色荧光的光路上;绿色荧光探测,安置在绿色荧光的光路上;处理,连接红色荧光探测和绿色荧光探测,接收并处理红色荧光探测和绿色荧光探测的信号。本发明涉及大体相同、但荧光分离光路不同的两种形式的装置。
  • 一种用于ii糖尿病药物筛选装置
  • [实用新型]荧光检测装置以及荧光检测系统-CN202222458212.7有效
  • 汪远;李东;孙腾骞;时雷 - 南京微纳科技研究院有限公司
  • 2022-09-16 - 2023-01-20 - G01N21/64
  • 本申请提供了一种荧光检测装置以及荧光检测系统,该荧光检测装置包括激发光源、探测、光波导以及阻挡结构,其中,激发光源用于产生激发光,激发光用于激发待测物体发出荧光探测位于激发光源的一侧,探测用于探测荧光;光波导与激发光源、探测以及待测物体分别连接,光波导用于将激发光源发出的激发光传输至待测物体,光波导还用于将待测物体发出的荧光传输至探测;阻挡结构位于探测与激发光源之间,阻挡结构用于阻挡探测接收激发光阻挡结构可以阻挡空间中的激发光到达探测,通过设置光波导,使得荧光检测装置的体积较小,保证了荧光检测装置的体积较小且检测的准确性较高。
  • 荧光检测装置以及系统
  • [发明专利]一种光电探测-CN202211686334.X在审
  • 何伟;胡继闯;陈志明;张景龙;张子豪;牛辉 - 纳克微束(北京)有限公司
  • 2022-12-27 - 2023-04-14 - G01N23/2206
  • 本发明涉及一种光电探测,属于光电探测技术领域,能够实现阴极荧光信号与电子信号同时探测,且极大提高荧光信号的收集效率;该光电探测包括电子源、加速电极、物镜、反射光栅、CL荧光探测和BSE探测;所述电子源设置在顶部正中产生电子束;所述加速电极设置在电子源下方;所述物镜设于加速电极的下方;所述BSE探测设置在物镜的下方;待扫描的样品设置在最底部;所述加速电极、所述物镜和所述BSE探测同轴设置,电子束依次穿过三者后照射在样品的表面;所述BSE探测接收经样品反射的背散射电子;所述反射光栅和所述CL荧光探测均设置在BSE探测的外围,并将经样品上表面传来的光子反射到CL荧光探测上。
  • 一种光电探测器
  • [实用新型]一种光电探测-CN202223536046.4有效
  • 何伟;胡继闯;陈志明;张景龙;张子豪;牛辉 - 纳克微束(北京)有限公司
  • 2022-12-27 - 2023-06-30 - G01N23/2206
  • 本实用新型涉及一种光电探测,属于光电探测技术领域,能够实现阴极荧光信号与电子信号同时探测,且极大提高荧光信号的收集效率;该光电探测包括电子源、加速电极、物镜、反射光栅、CL荧光探测和BSE探测;所述电子源设置在顶部正中产生电子束;所述加速电极设置在电子源下方;所述物镜设于加速电极的下方;所述BSE探测设置在物镜的下方;待扫描的样品设置在最底部;所述加速电极、所述物镜和所述BSE探测同轴设置,电子束依次穿过三者后照射在样品的表面;所述BSE探测接收经样品反射的背散射电子;所述反射光栅和所述CL荧光探测均设置在BSE探测的外围,并将经样品上表面传来的光子反射到CL荧光探测上。
  • 一种光电探测器
  • [发明专利]射线探测基板及射线探测-CN202011014668.3在审
  • 周琳 - 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方传感技术有限公司
  • 2020-09-24 - 2020-12-22 - H01L27/146
  • 本公开实施例公开了一种射线探测基板及射线探测,涉及光电检测技术领域,用于提高对射线的探测能力。射线探测基板,包括衬底、光电探测、调光部、第一闪烁体层及第二闪烁体层。光电探测包括第一光电探测和第二光电探测;调光部包括第一调光部和第二调光部。第二闪烁体层被配置为,将射线中的一部分射线转换为第一辐射荧光并使另一部分射线透过第二闪烁体层。第一闪烁体层被配置为,将另一部分射线转换为第二辐射荧光。第一调光部被配置为,反射第二辐射荧光并使第一辐射荧光透过被第一光电探测探测。第二调光部被配置为,反射第一辐射荧光并使第二辐射荧光透过被第二光电探测探测。本公开提供的射线探测基板用于探测射线。
  • 射线探测器
  • [实用新型]一种微型化荧光测温电路板-CN202020444499.6有效
  • 张文松;张继超 - 西安和其光电科技股份有限公司
  • 2020-03-31 - 2020-12-04 - G01K11/32
  • 本实用新型属于荧光光纤测温技术,提供了一种微型化荧光测温电路板,解决现有荧光电路板体积较大、可靠性较差的技术问题。该荧光测温电路板包括电路板、发光二极管、荧光信号探测;发光二极管和荧光信号探测设置在电路板的基板同一面,且荧光信号探测为贴片焊接;所述发光二极管的管脚向荧光信号探测一侧弯折,且发光二极管的出射光路和荧光信号探测的接收光路相交于一点发光二极管和荧光信号探测采用贴片焊接,大量减少人力,提高生产效率;将发光二极管弯折布置,使得发光二极管与荧光信号探测的光路相交,该光路布置方式简单,可靠性好。
  • 一种微型荧光测温电路板
  • [发明专利]单离子束双路信号同步探测方法-CN201210073317.9有效
  • 詹福如;陈连运;袁航;吴李君;黄青 - 中国科学院合肥物质科学研究院
  • 2012-03-20 - 2012-08-15 - G01N23/22
  • 本发明公开了一种单离子束双路信号同步探测方法,包括有单离子束装置、电离室探测荧光探测,还包括有显微镜,其具体方法步骤如下:将待测样品置于单离子束装置的发射端口的上方;将电离室探测置于显微镜的物镜端口之下、待测样品之上;在电离室探测的顶面和底面分别开有一个小孔,两个小孔位置处于中心线上,且用一种对飞行离子的阻碍很小的薄膜密封;电离室探测的工作气体是P10气体;将荧光探测置于显微镜的荧光通道出口的正上方;先开启电离室探测、显微镜、荧光探测,再开启单离子束装置。本发明所用的装置简单、易实现,实现了在探测离子信号的同时,还能探测样品的荧光信号。
  • 离子束信号同步探测方法
  • [发明专利]组合XRF分析装置-CN202210924236.9在审
  • 张雪娜;洪峰;王翠焕 - 深圳市埃芯半导体科技有限公司
  • 2022-08-02 - 2022-11-01 - G01N23/223
  • 公开了一种组合X射线荧光(XRF)分析装置。根据实施例,组合XRF分析装置可以包括:射线发射通道,包括射线源;能量色散XRF(EDXRF)探测通道,包括EDXRF探测,EDXRF探测被配置为探测对象被来自射线发射通道的射线照射而发出的荧光中一定能量范围内不同能量处的荧光;以及波长色散XRF(WDXRF)探测通道,包括WDXRF探测,WDXRF探测被配置为探测对象被来自射线发射通道的射线照射而发出的荧光中一个或多个特定波长处的荧光
  • 组合xrf分析装置

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