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[发明专利]粒径分布测量装置及粒径分布测量方法-CN202080080007.2在审
发明人：山口哲司;森哲也;名仓诚 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 2020-11-09 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明提供一种粒径分布测量装置，能边使试样的状态变化边测量粒径分布，所述粒径分布测量装置(100)具备：光源(LS)，对收容在具备彼此分开规定距离的一对的透光板(C1)的池(C)内的试样射出测量光；一个或多个检测器(D1、D2)，检测在试样中被散射的测量光；粒径分布计算器(P2)，根据所述检测器(D1、D2)的输出信号，计算所述试样(S)中包含的粒子群的粒径分布，还具备通过使一对的所述透光板的至少一方移动来对所述池内的试样施加压力或剪切力的力施加机构(1)，所述粒径分布计算器(P2)构成为计算对试样(S)施加的压力或剪切力从第一状态变化为第二状态的时点的粒径分布。
粒径分布测量装置测量方法

[发明专利]粒径分布测量装置及粒径分布测量方法-CN201310045898.X无效
发明人：栩野成视;澤弘义 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 2013-02-05 - 公布日： 2013-08-21 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明提供粒径分布测量装置及粒径分布测量方法，能对应试样容易地设定计数器的选通门打开的时间。根据从所述粒子群发出的散射光的光子数输出脉冲信号；并列设置的多个多位计数器，具有选通门，在该选通门打开时对脉冲信号的脉冲数进行计数；相关器，从所述脉冲数的时序数据生成自相关数据；计算部，根据该自相关数据计算粒子群的粒径分布
粒径分布测量装置测量方法

[发明专利]粒径分布测定装置-CN200610151709.7有效
发明人：东川喜昭;北村裕之;清水猛 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 2006-08-29 - 公布日： 2007-03-07 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：上生成的散射光及透过光的强度进行检测；致动器控制部(44)，其为了使从积分部(43)输出的一个光强度积分值接近预定的设定值，生成并输出对于使试料收容体的试料粉粒体(S)落下的振动致动器(32)的控制信号；和粒径分布计算部(45)，其基于从积分部(43)输出的另一个光强度积分值计算出试料粉粒体(S)的粒径分布。
粒径分布测定装置

[发明专利]粒径分布测定装置-CN200810134130.9无效
发明人：黑住拓司;东川喜昭 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 2008-07-17 - 公布日： 2009-01-21 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：一种粒径分布测定装置，对粒子群的粒径分布进行测定，装置本体(2)具有将光照射在所述粒子群上的光源(21)、对通过该光照射所发生的衍射或/及散射光强度进行进行检测的光检测器(22)，相对于该装置本体(2)采用本发明，可利用以往的粒径分布测定装置(1)，可安全地测定喷嘴喷射的喷雾粒子。
粒径分布测定装置

[实用新型]水滴粒径分布测量装置-CN200520085443.1无效
发明人：王岩峰;官晟;孙培光;曹瑞雪;兰举生 -专利权人：国家海洋局第一海洋研究所
申请日： 2005-07-17 - 公布日： 2006-10-11 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：一种水滴粒径分布测量装置。本实用新型结构简单，成本低，牢固耐用，适用于浮标工作方式的海面水滴粒径分布的光学测量，可以得到不同海况、不同高度的水滴粒径分布，提高了系统的测量精度。
水滴粒径分布测量装置

[发明专利]测量颗粒粒径分布的方法及装置-CN201410126595.5无效
发明人：杨福桂;王秋实;李明;盛伟繁 -专利权人：中国科学院高能物理研究所
申请日： 2014-03-31 - 公布日： 2014-08-13 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种测量颗粒粒径分布的方法及装置，其中，测量颗粒粒径分布的方法包括：通过阵列探测器测量颗粒群散射光强的角分布，其中，所述角分布中的离散角度对应所述阵列探测器的各个离散探测像素；选定粒径区间及采样粒径，根据所述粒径区间和所述采样粒径计算所述采样粒径的粒径参数，并基于Mie散射计算系数矩阵；将所述系数矩阵与所述角分布作为最大似然函数迭代反演方法的参数，计算所述颗粒群的最终粒径分布。本发明能够对低信噪比测量数据实现准确的粒径分布反演计算。
测量颗粒粒径分布方法装置

[发明专利]一种预交联凝胶颗粒的粒径选取方法、应用方法和装置-CN202310376619.1在审
发明人：王敬;赵文景;王顺;齐忠洋;刘慧卿 -专利权人：中国石油大学（北京）
申请日： 2023-04-10 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本文提供了一种预交联凝胶颗粒的粒径选取方法、应用方法和装置，其中方法包括：构建高渗层岩心以及低渗层岩心的孔径概率分布方程；构建预交联凝胶颗粒的粒径概率分布方程；根据粒径概率分布方程构建不同粒径分布区间对应的重构粒径概率分布方程；根据高渗层岩心、低渗层岩心，以及不同粒径分布区间下的重构粒径概率分布方程，得到不同粒径分布区间对应的高渗层以及低渗层封堵概率；根据不同粒径分布区间对应的高渗层封堵概率以及不同粒径分布区间对应的低渗层封堵概率，选择同时满足高渗层封堵率高于第一门限值且低渗层封堵率低于第二门限值的选定粒径分布区间。
一种预交凝胶颗粒粒径选取方法应用装置

[其他]测定粒径分布的试样室-CN85104720无效
发明人：泽田喜行 -专利权人：株式会社掘场制作所
申请日： 1985-06-19 - 公布日： 1986-07-02 - 主分类号： G01N21/03 文献下载
摘要：测定粒径分布的试样室，由一容纳待测悬浮液的可透光的方罐和一个树脂顶盖组成。顶盖包括一个插入上述方罐的部件和一块挡板，挡板的四周与方罐开敞端的边缘啮合，就可以使每次插入的深度一致。
测定粒径分布试样

[发明专利]一种伪二维模型的均质随机粒径分布方法-CN202310546065.5在审
发明人：李棉刚;梁惠施;周奎;贡晓旭;王姿尧;林俊;袁国强 -专利权人：清华四川能源互联网研究院
申请日： 2023-05-15 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明提供了一种伪二维模型的均质随机粒径分布方法，包括以下步骤：采集电极活性材料颗粒粒径和概率密度，并生成电极活性材料颗粒粒径分布；根据电极活性材料颗粒粒径分布计算电极活性材料颗粒粒径累积分布函数，并根据电极活性材料颗粒粒径累积分布函数计算电极活性材料颗粒粒径累积分布反函数；根据电极活性材料颗粒粒径分布反函数，确定不同空间位置的颗粒粒径；对不同空间位置的颗粒粒径的颗粒活性比表面积进行校正。本发明提供的基于随机数的伪二维模型均质粒径分布方法能够在引入电极活性材料颗粒粒径分布的同时，不过度增加模型的计算量，从而兼顾锂离子电池电化学仿真模型的仿真精度和仿真速度，因此本发明具有高保真和高效率等优点
一种二维模型随机粒径分布方法

[发明专利]粒径分布可控的膨胀珍珠岩制品-CN01813866.7有效
发明人： S·K·帕姆;B·王;C·海沃德;J·S·鲁尔斯顿 -专利权人：先进矿物公司
申请日： 2001-05-14 - 公布日： 2004-01-14 - 主分类号： B01J20/10 文献下载
摘要：本文介绍了一种粒径分布可控的膨胀珍珠岩制品、该粒径分布可控的膨胀珍珠岩制品的制造方法及其用途。例如，该粒径分布可控的膨胀珍珠岩制品的粒径分布的标准偏差与粒径中值之比低(例如为小于0.63)，且粒径中值地低(例如小于50微米)。该粒径分布可控的膨胀珍珠岩制品有广泛的用途，例如在过滤中的应用。
粒径分布可控膨胀珍珠岩制品

[发明专利]基于随机分布的水泥粒径分布预测方法-CN201811218359.0有效
发明人：程兰;来颜博;阎高伟;闫飞;乔铁柱 -专利权人：太原理工大学
申请日： 2018-10-18 - 公布日： 2021-12-21 - 主分类号： G06F16/2458 文献下载
摘要：本发明属于水泥细度预测研究技术领域，具体是一种基于随机分布的水泥粒径分布预测方法。包括以下步骤，S100：获取水泥粉磨系统中磨机喂料量、磨机工作电流、磨机出入口温度、磨机压差、循环提升机电流、选粉机转速、循环风机电流以及对应时刻水泥粒径概率分布，并将所有参数信号存储为历史数据集；S200：建立水泥粒径概率分布密度函数的基函数表示模型；S300：筛除异常数据，依照分类赋值样本权重，构成新数据样本；S400：建立输入变量与前n‑1个权值向量之间的非线性预测模型，预测下一时刻水泥粒径分布；S500：通过模型输出误差值，更新水泥粒径概率分布密度函数的基函数表示模型参数。本发明可实时检测水泥粉磨系统中的水泥粒径分布。
基于随机分布水泥粒径预测方法

[实用新型]一种颜料密度用粒径分布仪-CN202221883168.8有效
发明人：万志平 -专利权人：深圳市东方盛业化工有限公司
申请日： 2022-07-21 - 公布日： 2022-11-15 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本实用新型提供一种颜料密度用粒径分布仪，涉及粒径分布仪技术领域，包括粒径分布仪，所述粒径分布仪的侧面安装有分布座，所述分布座的顶部安装有立体柱，所述立体柱的顶部安装有分布板，所述粒径分布仪的背面安装有散热机构本实用新型通过设置有散热机构，通过将散热机构安装在粒径分布仪的背面，将散热机构的内侧与粒径分布仪的背面连通，在散热机构的内部安装有制冷器、冷凝管、散热风机和散热扇叶，通过其制冷以及通风的双重配合，进而有效地提升了对粒径分布仪的散热效果，加倍的散热的效率，使得粒径分布仪可保持稳定的温度，避免了因温度过高造成设备无法正常运行或运行效率较低的问题。
一种颜料密度粒径分布

[发明专利]基于米氏散射理论和夫琅禾费衍射理论二维喷雾场测量方法-CN202010533984.5有效
发明人：仝毅恒;姜传金;谢远;李修乾;苏凌宇;林伟;朱杨柱;楚威;任永杰;赵家丰 -专利权人：中国人民解放军战略支援部队航天工程大学
申请日： 2020-06-12 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：步骤2，喷雾场粒径分布假设；步骤3，二维喷雾场粒径分布检测装置安装；步骤4，支撑架每次设定转动角度计算；步骤5，第1个圆环内粒径分布测量；步骤6，第2个圆环内粒径分布测量；步骤7，第i个圆环内粒径分布测量；步骤8，重复步骤7，直至完成第j个圆环内粒径分布测量；步骤9，测得不同设定角度下的喷雾场内粒径分布情况；步骤10，对位于不同喷雾高程的喷雾场中的粒径分布进行测量。本发明通过转动激光粒度仪，实现对喷雾场中所有液滴的粒径分布均进行测量。
基于散射理论夫琅禾费衍射二维喷雾测量方法

[发明专利]一种基于岩屑粒径分布的井下故障分析处理方法及装置-CN202010844418.6有效
发明人：尹虎;尹文锋 -专利权人：西南石油大学
申请日： 2020-08-20 - 公布日： 2021-03-26 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明公开一种基于岩屑粒径分布的井下故障分析处理方法及装置，该装置包括机架、筛分组件、进料系统、称量机构、驱动机构、控制系统，能够按岩屑粒径大小实现自动分级筛分并称量各级岩屑重量；该方法采用岩屑筛分装置测量钻井岩屑粒径分布，建立标准岩屑粒径分布数据库，并与实时岩屑粒径分布作对比，判断井下故障，进而从井下故障数据中选择使用对应故障处理方法解除井下故障。本发明的多级粒径岩屑筛分称量装置及录井方法，能够按级筛分岩屑，得到岩屑粒径分布，并根据岩屑粒径分布快速判断井下故障，采用合适的故障处理方法解除井下故障。
一种基于岩屑粒径分布井下故障分析处理方法装置

[发明专利]基于沉积模拟的气溶胶粒径组成求解方法、系统和设备-CN202310605756.8在审
发明人：方晟;庄舒涵;董信文;徐宇涵 -专利权人：清华大学
申请日： 2023-05-26 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于沉积模拟的气溶胶粒径组成求解方法、系统、介质和设备，所述方法包括建立考虑气溶胶粒径分布和可溶性的大气传输模型，可以模拟不同粒径和可溶性的气溶胶在大气中经历的传输、扩散、干湿沉积等气象过程中的特殊表现行为，为粒径分布求解提供合理的数据支撑。利用对累积沉积模拟准确的大气传输模型进行模拟，提取不同粒径的气溶胶的累积沉积特性，作为粒径分布求解依据，提高粒径分布结果的准确性。使用了非负最小二乘算法求解方程组，根据沉积模拟结果和监测的符合情况，以及各粒径气溶胶组分百分比加和为1的限制，对气溶胶的粒径分布进行非负数值求解，得到气溶胶粒径分布最优解并进行归一化，提高粒径分布结果的合理性
基于沉积模拟气溶胶粒径组成求解方法系统设备

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