专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]存储器装置及其编程方法-CN201410346191.7在审
  • 蔡秉宏;蔡文哲 - 旺宏电子股份有限公司
  • 2014-07-21 - 2016-02-03 - G11C16/10
  • 本发明公开了一种存储器装置及其编程方法,存储器装置包括相互串接的第一晶体管、存储单元串与第二晶体管。存储单元串包括目标存储单元、与目标存储单元相邻的第一与第二周边存储单元以及与目标存储单元不相邻的多个非目标存储单元存储器装置的编程方法包括下列步骤:导通第一晶体管并关闭第二晶体管;利用传递电压开启所述多个非目标存储单元,并利用辅助电压开启第一周边存储单元与第二周边存储单元;以及,利用编程电压对目标存储单元进行编程,
  • 存储器装置及其编程方法
  • [发明专利]非易失性存储器及其读取方法-CN201910169800.9有效
  • 林昱佑;李峰旻;李明修 - 旺宏电子股份有限公司
  • 2019-03-06 - 2021-11-09 - G11C16/26
  • 本发明公开了一种非易失性存储器及其读取方法。读取方法包括:擦除存储单元串的多个存储单元;设定存储单元中的目标存储单元,设定初始电压,依据步阶值以递增初始电压来产生多个编程电压,并使目标存储单元分别依据编程电压以依序执行多个编程动作,并在编程动作中验证目标存储单元以获得第一验证电流;依据判断第一验证电流以及第一参考电流以设定对应的编程电压为目标电压;以及,依据目标电压对目标存储单元外的多个其他存储单元进行编程动作,并使存储单元串为读取参考存储单元串。
  • 非易失性存储器及其读取方法
  • [发明专利]一种存储设备的控制方法及存储设备、电子设备-CN201811549785.2在审
  • 徐博声;郭丹;邓恩华;李志雄 - 深圳市江波龙电子股份有限公司
  • 2018-12-18 - 2020-06-26 - G11C16/08
  • 本发明提供一种存储设备的控制方法,存储设备包括控制器以及至少一个存储单元组,控制器包括至少一个片选引脚、命令引脚、地址引脚及若干个数据引脚;存储单元组包括至少两个存储单元,每个片选引脚电连接一个存储单元组;至少一个存储单元组中的每个存储单元分别与命令引脚、地址引脚及若干个数据引脚电连接;该控制方法包括:向目标存储单元组发送通知命令,以通知目标存储单元组中的所有存储单元将进行目标存储单元选择;以及向目标存储单元组发送地址命令,以选中目标存储单元。本发明中,一个片选可以控制多个存储单元,克服存储设备自身的片选数量的限制。
  • 一种存储设备控制方法电子设备
  • [发明专利]一种三维存储器的纠错方法及装置-CN202110372885.8有效
  • 王颀;杨柳;何菁;李前辉;于晓磊;霍宗亮;叶甜春 - 中国科学院微电子研究所
  • 2021-04-07 - 2022-08-12 - G11C16/12
  • 本申请实施例提供了一种三维存储器的纠错方法及装置,确定位于目标层的目标存储单元后,在目标存储单元的相邻层的编程单元施加编程电压,以利用字线串扰效应向目标存储单元注入电子,编程单元最终编程到的阈值电压高于存储器的存储单元的最高阈值电压,编程单元目标存储单元串联连接,即本申请实施例中可以利用字线串扰效应对目标存储单元进行重编程,使目标存储单元的阈值电压增加到较大的数值,延长了目标存储单元的阈值电压再次降低到读电压之下的时间,延长了目标存储单元的数据保持时间,相比于现有技术中利用读电压脉冲和编程抑制电压脉冲的方式进行电子注入,本申请实施例可以在一个编程周期内完成对目标存储单元的充电,充电效率高。
  • 一种三维存储器纠错方法装置
  • [发明专利]一种管理存储单元的方法和装置-CN202210811916.X有效
  • 赵啟鹏 - 合肥康芯威存储技术有限公司
  • 2022-07-12 - 2022-09-30 - G06F3/06
  • 本发明提供一种管理存储单元的方法和装置,属于数据存储技术领域。方法包括:响应于确定存储设备中的一个或多个存储页发生读写错误,确定所述一个或多个存储页所归属的目标存储单元,并记录各个所述目标存储单元;响应于确定所述存储设备处于设定状态,获取每一个所述目标存储单元,执行:遍历所述目标存储单元包含的各个存储页;在判断出存在任一存储页为不可纠正的错误页的情况下,将所述目标存储单元作为错误存储单元,否则将所述目标存储单元作为可用存储单元。采用本发明,可以提高存储设备的使用时长。
  • 一种管理存储单元方法装置
  • [发明专利]新型即时复制操作-CN200580047416.8无效
  • M·巴尼卡泽米;D·泊夫 - 国际商业机器公司
  • 2005-08-31 - 2008-02-06 - G06F3/06
  • 方法和服务创建和维护存储在源存储单元中的源数据的虚拟即时副本。所述方法/服务接收至少一个创建所述源数据的即时副本的请求。但是,本发明不创建所述源数据的副本,而是在目标存储单元或由同一存储系统管理的其他存储单元中创建目标存储单元映射表。此目标存储单元映射表包含指向所述源数据的指针。此外,本发明在所述目标存储单元或由同一存储系统管理的其他存储单元中维护修改空间。所述修改空间的每个部分与给定的目标存储单元关联。所述修改空间只存储所述源数据的对相应目标存储单元唯一的更改。在将数据写入所述修改空间时,通过将所述目标存储单元映射表中的相应指针从所述源数据重定向到所述修改空间来修改所述目标存储单元映射表。
  • 新型即时复制操作
  • [发明专利]半导体结构的测试方法及测试装置-CN202210152844.2在审
  • 李想;顾彦辉 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2022-02-18 - 2022-05-17 - G11C29/12
  • 所述半导体结构的测试方法包括如下步骤:提供存储阵列;选定目标存储单元,并对所述目标存储单元执行测试操作,所述测试操作包括如下步骤:向与所述目标存储单元连接的所述位线施加第一电压;选定与所述目标存储单元相邻的至少一存储单元作为干扰存储单元,并向与所述干扰存储单元连接的所述位线施加第二电压,且所述第二电压与所述第一电压之间的差值的绝对值大于1V;读取所述目标存储单元;判断所述目标存储单元的读取值是否为第一写入值,若否,则确认所述目标存储单元漏电本公开减少了存储单元漏电检测过程中的漏检问题。
  • 半导体结构测试方法装置
  • [发明专利]分配存储单元的方法及相关设备-CN202010573182.7在审
  • 裘雪敬;范鹏;陈东平;王洪;余冬玲;王建伟 - 中国建设银行股份有限公司
  • 2020-06-22 - 2020-11-13 - G06F3/06
  • 本发明提供一种分配存储单元的方法及相关设备,涉及存储资源分配领域。所述方法包括:获取用户的存储需求信息,所述存储需求信息包括:用户主机的主机信息、容量需求、带宽需求、IOPS需求;根据所述存储需求信息确定目标存储资源池;根据所述容量需求、带宽需求、IOPS需求以及所述目标资源池中存储单元存储参数从所述目标资源池的可用存储单元中筛选出第一存储单元集合,其中,所述存储单元存储参数包括:容量、带宽、IOPS;根据所述第一存储单元集合中存储单元存储参数与所述存储需求的均方根误差确定目标存储单元;将所述目标存储单元分配给所述用户。本发明可为用户分配满足用户需求的最优目标存储单元,提高存储资源的使用率,降低存储成本。
  • 分配存储单元方法相关设备

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