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[发明专利]基于直流电法勘探获取地下介质电各向异性的方法和装置-CN202111157020.6在审
发明人：周印明 -专利权人：湖南科技大学
申请日： 2021-09-30 - 公布日： 2022-01-11 - 主分类号： G01V3/04 文献下载
摘要：所述方法包括：通过在测区任意位置布设发射场源后，采用相互正交的电极在测区内进行全区观测，得到不同测点之间相互正交的两个方向的电位差，根据电位差计算视电阻率，计算归一化视电阻率，根据选取的背景电阻率模型，计算背景视电阻率，计算归一化背景视电阻率，根据实际归一化电阻率和归一化背景视电阻率，计算电阻率各向异性系数。采用电阻率各向异性系数可有效压制视电阻率零线的影响，很好地反应出地下各向异性结构体在地面投影以及形状，还可避免求解张量电阻率，效率高。采用归一化视电阻率可有效抵消场源附近视电阻率的误差，提升精度。
基于直流电法勘探获取地下介质各向异性方法装置

[发明专利]角砾洞穴双侧向测井响应计算方法及系统-CN201910562090.6有效
发明人：王晓畅;邹友龙;李军;胡松;孔强夫 -专利权人：中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院
申请日： 2019-06-26 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： G01V3/18 文献下载
摘要：公开了一种角砾洞穴双侧向测井响应计算方法及系统。该方法可以包括：建立角砾洞穴的等效模型，计算角砾洞穴的砂泥岩电阻率；根据砂泥岩电阻率，计算角砾洞穴的未发育裂缝的电阻率；根据角砾洞穴的未发育裂缝的电阻率，计算角砾洞穴的充填物电阻率；计算基岩未发育裂缝时的电阻率，进而计算基岩的电阻率；根据基岩的电阻率、充填物电阻率与角砾洞穴半径，分别计算深、浅侧向测井响应。本发明通过计算角砾洞穴地层所有地质情况下的双侧向测井响应，具有很强的可操作性和广泛的适用性，为确定角砾洞穴双侧向测井响应提供了有效手段，在碳酸盐岩等复杂储层勘探开发中具有重大实用价值。
洞穴侧向测井响应计算方法系统

[发明专利]一种逐点刻度电成像资料计算视地层水电阻率谱及参数的方法-CN201010522233.X有效
发明人：肖承文;刘瑞林;杨海军;李宁;刘兴礼;张承森;吴兴能;冯周;信毅;郭秀丽 -专利权人：中国石油天然气股份有限公司
申请日： 2010-10-22 - 公布日： 2011-04-27 - 主分类号： G01V3/38 文献下载
摘要：本发明涉及一种逐点刻度电成像资料计算视地层水电阻率谱及参数的方法；逐点刻度步骤：用测井资料编辑工具将电成像资料与浅电阻率深度拉齐；计算电成像资料图像的平均电流值；对每一个图像框，由相同深度点浅电阻率值对应的电导率值计算一个刻度系数；电成像资料的视地层水电阻率谱计算：经过浅电阻率刻度的电成像实质上是井壁冲洗带的电导率图像，定义电成像资料一个像素点的视地层水电阻率；电成像资料的视地层水电阻率谱参数计算：引入均值表达视地层水电阻率分布谱中主峰偏离基线的程度；用方差表达视地层水电阻率分布谱的宽窄；应用浅电阻率逐点刻度电成像资料，计算电成像资料视地层水电阻率谱，提取视地层水电阻率谱的均值与方差评价储层流体性质有显著的应用效果。
一种刻度成像资料计算地层水电阻率谱参数方法

[发明专利]一种基于大地电磁数据反演电阻率和磁化率的方法及系统-CN201410258344.2有效
发明人：于昌明;邢宝山 -专利权人：中国科学院地质与地球物理研究所
申请日： 2014-06-11 - 公布日： 2017-07-11 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于大地电磁数据反演电阻率和磁化率的方法，所述方法包括步骤1，在TM极化模式下测量地面的视电阻率实测值，并建立初始地质模型，获得初始地质模型各层的电阻率和磁化率；步骤2，在水平层状介质条件下，基于初始地质模型的电阻率和磁化率，采用一维正演方法计算地面的视电阻率理论值；步骤3，逐层修正初始地质模型的电阻率和磁化率；步骤4，基于修正后的电阻率和磁化率，重新计算地面的视电阻率理论值，若视电阻率实测值和重新计算的视电阻率理论值的拟合差小于设定的误差期望值，则停止对电阻率和磁化率的修正。本发明的方法不用进行繁复偏导数矩阵计算，迭代过程稳定收敛，可逐层判断地层的地电阻率参数和磁化率参数。
一种基于大地电磁数据反演电阻率磁化率方法系统

[发明专利]一种定量将薄互地层等效成水平和垂直电阻率的方法-CN201210091428.2有效
发明人：段宝良;宋殿光;魏少华;李郴;方辉;韩宏克;郭巍 -专利权人：中国电子科技集团公司第二十二研究所
申请日： 2012-03-30 - 公布日： 2012-08-15 - 主分类号： E21B47/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种电阻率测井仪数据处理方法。一种定量将电阻率各向同性薄互地层等效成水平和垂直电阻率的方法，对于一组电阻率各向同性的薄互地层，在仪器垂直于薄互地层时，选择一组发射频率和源距，计算仪器在垂直于薄互地层时的水平电阻率；在仪器倾斜于薄互地层时，选择与计算仪器垂直于薄互地层时相同的一组工作频率和源距，计算薄互地层垂直电阻率；根据获得的水平电阻率的值，通过反演方法获得垂直电阻率的值；将薄互地层等效成电阻率均匀各向异性地层，选取电阻率均匀各向异性地层作为反演地层模型，计算薄互地层等效的水平电阻率和垂直电阻率；以电阻率均匀各向异性介质中仪器的响应作为正演函数进行反演，得出薄互地层等效的垂直电阻率。
一种定量将薄互地层等效水平垂直电阻率方法

[发明专利]一种外延层电阻率的测试方法、系统及终端设备-CN201910611206.0有效
发明人：张佳磊;薛宏伟;任丽翠 -专利权人：河北普兴电子科技股份有限公司
申请日： 2019-07-08 - 公布日： 2021-04-27 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种外延层电阻率的测试方法、系统及终端设备，方法包括：获取待测外延片的外延层的掺杂浓度；根据所述掺杂浓度，计算所述外延层的标准电阻率；获取外延层中外层的偏压深度和所述外延层中内层的偏压深度；根据外层的偏压深度和标准电阻率，计算测量外层电阻率时所加的外层电压；根据内层的偏压深度和标准电阻率，计算测量内层电阻率时所加的内层电压；利用外层电压测试外层的实际电阻率，利用内层电压测试内层的实际电阻率本发明能分别准确测量外延层中内层的电阻率和外层的电阻率，保证了芯片的质量。
一种外延电阻率测试方法系统终端设备

[发明专利]一种确定目标区电阻率阈值的方法和装置-CN201610397481.3有效
发明人：朱旭江;肖虎;石双虎;徐玉成;张洪波;郭超胜 -专利权人：中国石油天然气集团公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司
申请日： 2016-06-07 - 公布日： 2018-03-13 - 主分类号： G01V13/00 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种确定目标区电阻率阈值的方法和装置。该方法包括将获取的实测电阻率依次与第二预设数量的预设温度对应的预设标准中间电阻率进行最小二乘法计算。比较得到的结果数据的大小；最小的值所对应的预设温度作为第一温度；计算所述第一温度对应的预设标准电阻率与第一预设数量的实测电阻率的差值。获取按序有连续的第三预设数量的差值大于预设标准电阻率所对应的实测电阻率，将所对应的实测电阻率依次与预设标准中间电阻率进行最小二乘法计算。比较得到的结果数据的大小；最小的值所对应的预设温度作为第二温度；基于第一温度对应的预设标准电阻率和第二温度对应的预设标准电阻率确定目标区的电阻率阈值。
一种确定目标电阻率阈值方法装置

[发明专利]一种高矿化度成因低阻油层测井识别方法-CN201811595133.2有效
发明人：刘之的;谭成仟;马廷昊;杨珺茹;时梦璇 -专利权人：西安石油大学
申请日： 2018-12-25 - 公布日： 2022-04-01 - 主分类号： E21B49/00 文献下载
摘要：一种高矿化度成因低阻油层测井识别方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、计算地层温度条件下的泥浆电阻率；步骤二、计算相对自然电位与泥浆电阻率比值；步骤三、构造油层视电阻率；步骤四、计算油层视电阻率与储层电阻率比值；步骤五、构造水层视电阻率；步骤六、计算水层视电阻率与储层电阻率比值；步骤七、确定高矿化度成因低阻油层识别标准；步骤八、识别高矿化度成因低阻油层；本发明利用测井资料对低阻油层的三个识别参数进行计算，并有效地进行高矿化度成因低阻油层测井识别
一种矿化度成因油层测井识别方法

[发明专利]一种时移电阻率异常提取方法-CN202210907438.2在审
发明人：吴小平;曹煜;岳明鑫;陈兴海 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2022-07-29 - 公布日： 2022-10-18 - 主分类号： G01V3/38 文献下载
摘要：本发明公开了一种时移电阻率异常提取方法。该计算方法通过前后时间段的实测电阻率数据分析，通过快速计算出某一时间段电阻率理论数据与实测相应时间段电阻率数据的差异做比较分析，可以快速获得电阻率突变量，由于电阻率数据中同步带有空间位置信息，因此获得电阻率突变量同时可以得出相应的突变位置，为时移电阻率预警工作提供参考依据，该计算方法简单快速，成果准确可靠，简单识别，易于推广。
一种电阻率异常提取方法

[发明专利]全程视电阻率确定方法及装置-CN202211528374.1在审
发明人：张永超;刘贵;孙万明;甘志超;孙林;尹希文;张玉军;樊振丽;张刚艳;曹路通 -专利权人：天地科技股份有限公司
申请日： 2022-11-30 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G01V3/38 文献下载
摘要：本发明提供的全程视电阻率确定方法及装置，属于勘探地球物理技术领域，包括：获取全程视电阻率的判据；根据所述判据，确定所述全程视电阻率的计算依据；所述计算依据包括：垂向感应电动势和垂向磁场；基于所述计算依据，确定目标全程视电阻率。本发明提供的全程视电阻率确定方法及装置，利用判据值选择合适的计算依据，提高了全程视电阻率计算的准确性，进而改进了地面瞬变电磁法探测结果的精度。
全程电阻率确定方法装置

[发明专利]高空间分辨率复合式电阻率探测计算方法-CN202011125927.X有效
发明人：郭磊;于洋;李彬;张家瑞;杨秀卿;付腾飞;刘延俊 -专利权人：山东大学
申请日： 2020-10-20 - 公布日： 2021-12-24 - 主分类号： G01V3/38 文献下载
摘要：本发明涉及地质探测领域，特别是一种高空间分辨率复合式电阻率探测计算方法。一种高空间分辨率复合式电阻率探测计算方法，其中包括以下步骤：S1.根据已知电阻率点位，建立测点点位空间：S2.弧段等距推算电阻率：S3.轴向等距推算电阻率：S4.竖向连续推算电阻率：S5.对S2、S3和S4得到的电阻率值进行加权处理，从而得到最接近实际值的电阻率。该方法操作简单，成本低，效率高，并且计算结果精度高。
空间分辨率复合电阻率探测计算方法

[发明专利]用于带倾斜线圈的电阻率设备的电阻率测量方法及装置-CN201210546310.4有效
发明人：宋殿光;段宝良;李郴;方辉;郭巍;魏少华;韩宏克 -专利权人：中国电子科技集团公司第二十二研究所
申请日： 2012-12-14 - 公布日： 2013-03-20 - 主分类号： E21B49/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种通过带倾斜线圈的电阻率设备的电阻率测量方法及装置，该方法包括：获取第一磁矩和第二磁矩；计算第一相位差P1和第一幅度比A1；计算第二相位差P2和第二幅度比A2；获取第三相位差P和第三幅度比A；根据P和A计算电阻率R；获取R与电阻率设备的方位角的对应关系；确定目标方位角并获取目标方位角对应的电阻率。通过本发明，由于获取了方位角与电阻率的对应关系，从而可以获取最大电阻率所对应的角度和最小电阻率所对应的角度，这两个方位角的平均值所对应的电阻率与不带倾斜线圈的装置所测出的电阻率相等，从而可以以该电阻率进行地层电阻率评估，使带倾斜线圈的电阻率装置也可以进行地层电阻率评估。
用于倾斜线圈电阻率设备测量方法装置

[发明专利]一种高密度电阻率成像方法-CN201610325150.9在审
发明人：卢德宝;王凤;陈晓东;欧健 -专利权人：浙江水利水电学院
申请日： 2016-05-17 - 公布日： 2016-07-20 - 主分类号： G01V11/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种高密度电阻率成像方法，包括以下步骤：针对勘测区域，根据地形特点以及高密度电阻率测量与人工折射地震测量的需要建立适宜的网格剖分方案；根据网格划分，建立人工折射地震数据的反演模型进行反演计算，从而得离散化的速度模型；根据速度与电阻率的经验公式，将离散化的速度模型转换成离散化的电阻率模型；将前面得到的电阻率模型作为电阻率反演的约束初始模型进行反演计算。本发明能够大幅度提高电阻率成像精度的新技术，此技术将电阻率数据与人工折射地震数据互相融合，将处理过的人工折射地震数据作为电阻率成像的先决条件进行约束反演计算，能够在同等硬件条件下较大地节约计算时间，提高成像精度
一种高密度电阻率成像方法

[发明专利]一种提高电磁波电阻率测量精度和扩展其测量范围的方法-CN200910131581.1有效
发明人：苏义脑;朱军;盛利民;邓乐;李会银 -专利权人：中国石油集团钻井工程技术研究院
申请日： 2009-04-08 - 公布日： 2009-12-23 - 主分类号： G01V3/30 文献下载
摘要：本发明提供一种提高电磁波电阻率测量精度和扩展电阻率测量范围的方法，其通过发射天线-接收天线之间互感电动势的计算、消除互感电动势的幅度衰减-电阻率转换图版和相位差-电阻率转换图版的计算和天线系统基值信号和仪器电路零信号的测量，从实际测井电压信号中消除与地层电阻率无关的互感电动势、电路零信号、天线系统基值信号，并计算相位差、幅度衰减及对它们用消除了互感电动势的幅度衰减-电阻率转换图版和相位差-电阻率转换图版进行幅度衰减、相位差对地层电阻率转换该方法能够提高电磁波电阻率测量的精度和扩展电阻率测量的动态范围，特别对于幅度衰减电阻率测量的效果更加明显。
一种提高电磁波电阻率测量精度扩展范围方法

[发明专利]一种测算直拉炉内剩料电阻率的方法-CN201910222783.0在审
发明人：高鹏;李建弘;王建平;郝勇;赵存凤;郭志荣;武皓洋;徐强;王林;谷守伟 -专利权人：内蒙古中环光伏材料有限公司
申请日： 2019-03-22 - 公布日： 2019-05-10 - 主分类号： C30B15/20 文献下载
摘要：本发明提供一种测算直拉炉内剩料电阻率的方法，在取段复投时，测量坩埚内剩料的重量和单晶的头部电阻率，根据剩料的重量和单晶头部的电阻率计算剩料重量对应的剩料电阻率。本发明的有益效果是提高单晶电阻率控制精度，提高单晶的品质，提高电阻率控制效率，直接计算剩料电阻率，去除定期验证剩料的环节，节约工时，提高产能，配料工作难度下降，降低对配料人员技能水平的要求。
电阻率单晶直拉炉测算单晶电阻率电阻率计算电阻率控制头部电阻率工作难度技能水平直接计算产能去除坩埚测量验证节约环节

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