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[实用新型]一种微波毫米波直流偏置探针-CN201620064574.X有效
发明人：魏碧华;蔡道民 -专利权人：中国电子科技集团公司第十三研究所
申请日： 2016-01-22 - 公布日： 2016-07-06 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种微波毫米波直流偏置探针，属于微波毫米波放大器电路在片测试技术领域。包括探针、探针座和电容；所述探针设置有2个，分别固定于环氧树脂基板上，环氧树脂基板固定安装于探针座上；探针前端固定有探针前端电容，探针中间部位固定有探针中部电容，探针尾部固定有探针尾部电容，探针前端电容、探针中部电容和探针尾部电容容值大小不同。本实用新型提供一种微波毫米波直流偏置探针，体积小、简单灵活、通用性好、去耦良好、节省成本、有效消除测试自激和震荡等潜在问题。
一种微波毫米波直流偏置探针

[发明专利]在片电容测量系统和测量方法-CN202110989553.4在审
发明人：丁晨;刘岩;吴爱华;乔玉娥;翟玉卫;任宇龙;丁立强 -专利权人：中国电子科技集团公司第十三研究所
申请日： 2021-08-26 - 公布日： 2021-12-31 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明提供一种在片电容测量系统和测量方法。其中。在片电容测量系统包括：电容测试设备；探针测试系统，包括探针座，对称分布在探针座两侧的第一组探针和第二组探针，以及设置在探针座上的第一组连接线和第二组连接线，第一组连接线与第一组探针连接，第二组连接线与第二组探针连接；标准电容、开路器和在片直通线，用于与电容测试设备和探针测试系统连接；通过电容测试设备、探针测试系统、标准电容、开路器和在片直通线测试待测在片电容的电容值。本发明提供的在片电容测量系统，可实现待测在片电容参数到标准电容的溯源，从而保证待测在片电容的测量结果与现有溯源体系下的标准电容结果之间的可比性，从而实现在片电容的准确测量。
电容测量系统测量方法

[发明专利]一种平板电容自动测试设备及测试方法-CN202210978850.3在审
发明人：熊焰明 -专利权人：江苏伊施德创新科技有限公司
申请日： 2022-08-16 - 公布日： 2022-11-04 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本发明公开了一种平板电容自动测试设备，包括两个探针机构及一个位于两个探针机构之间的平板电容夹具，平板电容夹具两侧布置的探针机构均包括一根探针或一个设有若干探针的探针卡；每个探针机构均包括用于驱动探针或探针卡三维运动的驱动传动机构，探针或探针卡与驱动传动机构中的传动机构相连；平板电容夹具上设有平板电容固定槽，固定槽的槽底中心设有便于平板电容夹具下方探针机构的探针对平板电容测试的开口。本发明可采用串行方式，依次按序测试平板电容上所有孔电极之间、所有孔电极与地之间的四个参数，较为灵活；也可以采用并行方式进行测试，效率大大提升，适于大批量、少量品种的平板电容的测试。
一种平板电容自动测试设备方法

[实用新型]一种平板电容自动测试设备-CN202222148532.2有效
发明人：熊焰明 -专利权人：江苏伊施德创新科技有限公司
申请日： 2022-08-16 - 公布日： 2023-01-06 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种平板电容自动测试设备，包括两个探针机构及一个位于两个探针机构之间的平板电容夹具，平板电容夹具两侧布置的探针机构均包括一根探针或一个设有若干探针的探针卡；每个探针机构均包括用于驱动探针或探针卡三维运动的驱动传动机构，探针或探针卡与驱动传动机构中的传动机构相连；平板电容夹具上设有平板电容固定槽，固定槽的槽底中心设有便于平板电容夹具下方探针机构的探针对平板电容测试的开口。本实用新型可采用串行方式，依次按序测试平板电容上所有孔电极之间、所有孔电极与地之间的四个参数，较为灵活；也可以采用并行方式进行测试，效率大大提升，适于大批量、少量品种的平板电容的测试。
一种平板电容自动测试设备

[发明专利]空气斜槽中气固两相流动状态的在线连续监测装置与方法-CN202010474446.3在审
发明人：于斌;董岩峰;朱叶卫;王爱;韩立军;李文军;赵喜峰;韩晨;姚宣 -专利权人：北京国电电力有限公司萨拉齐电厂;北京国电龙源环保工程有限公司
申请日： 2020-05-29 - 公布日： 2020-08-04 - 主分类号： G05B19/05 文献下载
摘要：空气斜槽中气固两相流动状态的在线连续监测装置与方法，包括间隔设于空气斜槽上的电容探针测量单元，与每组电容探针测量单元对应设置的吹扫管道，以及用于总控整个装置的PLC自动控制系统。吹扫管道上设有吹扫管道自动开关阀；PLC自动控制系统接受来自电容探针测量单元的信号，并通过控制吹扫管道自动开关阀的开关，对电容探针进行清理；电容探针测量单元包括至少三组并联设置的电容探针组件，每组电容探针组件均包括串联连接的固定电容和电容探针PLC自动控制系统可定时打开吹扫管道上的自动开关阀，对电容探针进行吹扫，以保持检测数据的准确性。
空气斜槽中气两相流动状态在线连续监测装置方法

[实用新型]空气斜槽中气固两相流动状态的监测装置-CN202020945497.5有效
发明人：于斌;董岩峰;朱叶卫;王爱;韩立军;李文军;赵喜峰;韩晨;姚宣 -专利权人：北京国电电力有限公司萨拉齐电厂;北京国电龙源环保工程有限公司
申请日： 2020-05-29 - 公布日： 2020-10-27 - 主分类号： G05B19/05 文献下载
摘要：空气斜槽中气固两相流动状态的监测装置，包括间隔设于空气斜槽上的电容探针测量单元，与每组电容探针测量单元对应设置的吹扫管道，以及用于总控整个装置的PLC自动控制系统。吹扫管道上设有吹扫管道自动开关阀；PLC自动控制系统接受来自电容探针测量单元的信号，并通过控制吹扫管道自动开关阀的开关，对电容探针进行清理；电容探针测量单元包括至少三组并联设置的电容探针组件，每组电容探针组件均包括串联连接的固定电容和电容探针PLC自动控制系统可定时打开吹扫管道上的自动开关阀，对电容探针进行吹扫，以保持检测数据的准确性。
空气斜槽中气两相流动状态监测装置

[实用新型]一种电容老化装置-CN202222288526.7有效
发明人：熊焰明 -专利权人：江苏伊施德创新科技有限公司
申请日： 2022-08-30 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种电容老化装置，其不仅包括能对单只电容进行静态老化试验的静态老化试验装置，还包括能对单只电容的动态老化试验的动态老化试验装置，动静态老化过程中，电容能够始终位于电容装载盘中，便于电容参数的追踪其包括用于装载电容的装载盘、静态老化试验装置、动态老化试验装置，动态老化试验装置包括隧道炉，动态老化试验装置还包括贯穿隧道炉的输送装置、沿着输送装置设置的多个探针卡工位，输送装置用于输送装载有电容的装载盘，探针卡工位包括探针卡、驱动装置，探针卡上连接有探针，每个探针卡上的探针分布与装载盘中的电容电极分布相对应，驱动装置用于带动探针卡向下或者向上运动并使探针与电容电极接触或者分离。
一种电容老化装置

[发明专利]电容器老化系统-CN202210916312.1在审
发明人：陶志勇;杨神龙;张廷珏;何武 -专利权人：长沙汇莱仕智能技术有限公司
申请日： 2022-08-01 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： H01G13/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种电容器老化系统，包括：料盘，包括多个电容器固定部、多根正极探针以及多根负极探针，所有的正极探针与所有的电容器固定部的正极一一对应地导电连接，所有的负极探针与所有的电容器固定部的负极一一对应地导电连接；烤箱，具有烘烤空间，料盘能够放入烘烤空间内，烘烤空间的内部设置有测试探针组件，测试探针组件包括多根正极测试探针以及多根负极测试探针，多根正极测试探针用于一一对应地与多根正极探针导电连接，多根负极测试探针用于一一对应地与多根负极探针导电连接；其中，所有电容器固定部相互并联。在本发明的电容器老化系统中，在对电容器充放电时，当某一个电容器为不良品时，不会影响其他电容器的正常充放电。
电容器老化系统

[发明专利]一种片式电容耐压测试夹具-CN201410537623.2有效
发明人：张增龙;明灵;刘旭华;王国宁 -专利权人：华东光电集成器件研究所
申请日： 2014-10-13 - 公布日： 2017-06-16 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明公开一种片式电容耐压测试夹具，包括底板(1)，底板上设有纵向的电容载片台(2)，电容载片台上设有容纳片式电容的载片槽(20)，电容载片台(2)的两侧分别设有横向的第一探针(4)与第二探针(5)，第二探针与底板固定连接；第一探针的外周套设有与其形成滑动配合的固定梁与固定板，固定梁与固定板之间的第一探针外周固定连接有拨片(21)，拨片与固定板之间的第一探针套设有弹簧；将片式电容置于载片槽内，通过拨片可以使弹簧伸出或压缩，进而调整第一探针的位置，使第一探针与第二探针分别与电容两极接触；通过调节螺栓能够将电容夹紧固定，从而实现对各种型号片式电容的固定夹持；另外，防护罩能够在片式电容爆裂时起到防护作用，保证测试人员的安全。
一种电容耐压测试夹具

[发明专利]基于双头电容探针的两相流参数测量方法与装置-CN200810203438.4无效
发明人：黄善仿;顾汉洋;王栋;杨燕华 -专利权人：上海交通大学
申请日： 2008-11-27 - 公布日： 2009-04-22 - 主分类号： G01N27/22 文献下载
摘要：一种多相流测试技术领域的基于双头电容探针的两相流参数测量方法与装置，本发明装置包括：双头电容探针、探针驱动机构、两个电容测量电路、固定电容、平板电极、计算机系统，其中双头电容探针系统由两个独立的单点电容探针组成本发明方法中，每一单点电容探针以用于识别流体性质，当经过探针头部的流体导电时，电路接通，电容测量装置输出高电平；反之，电路断开，电容测量装置输出低电平。由电平信号可以获得局部相含率，该方法的测量结果不受流体电导率和探针间距的影响。对两个单点电容探针信号进行阈值法、相关法处理，可以获得局部相含率和流动速度，结合两相流知识获得流型信息，能够实现在线流型识别。
基于电容探针两相参数测量方法装置

[实用新型]一种新型探针位置检测装置-CN201721813075.7有效
发明人：方果;孙冰;张建国;陈建环 -专利权人：深圳华美澳通传感器有限公司
申请日： 2017-12-22 - 公布日： 2018-07-24 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种新型探针位置检测装置，包括手臂型探针和检测电路，检测电路包括至少具有两路ADC的单片机和电容传感器，两路ADC分别连接电容传感器的两极，探针位于电容传感器下方，并紧靠电容传感器下端，当探针受到向上的推力时，探针的一部分进入电容传感器的两极之间，使电容传感器的电容值发生变化，单片机通过两路ADC分别测量电容传感器两极的电压，并以此计算电容传感器的电容值变化来判断探针位置。该检测装置可应用到所有手臂型探针的弯曲检测上，实现容易，探针位置容易检测判定，由于不必测量探针的电阻值、电压值或电流值大小，所以即使有些集成电路连接的检测电路本身携带电源，也不会造成电源短路，可以顺利完成测量
电容传感器探针探针位置检测电路检测装置两路两极单片机手臂测量电容传感器集成电路连接本实用新型电容值变化测量探针电源短路弯曲检测电容电阻紧靠下端电源判定测量携带检测应用

[发明专利]使用NFC通信和电容检测的智能注射器-CN201880034602.5有效
发明人：史黛西·福格特;豪尔赫·桑托斯 -专利权人：西部制药服务有限公司
申请日： 2018-05-25 - 公布日： 2022-02-25 - 主分类号： A61M5/178 文献下载
摘要：筒包括彼此相对的第一探针和第二探针，使得筒的内部空间在径向上位于第一探针和第二探针之间。微控制器被配置成测量第一探针和第二探针之间的电容，当柱塞轴的第一部分在第一探针和第二探针之间时，所测量的电容具有第一电容值，并且当柱塞轴的第二部分在第一和第二探针之间时，所测量的电容具有第二电容值，第二电容值不同于第一电容值微控制器被配置成当测量第二电容值时确定注射已经完成。
使用 nfc 通信电容检测智能注射器

[发明专利]一种面向处理器芯片的静电放电抗扰度测试方法及组件-CN202010051024.5有效
发明人：吴建飞;李雅菲;张红丽;郑亦菲;李宏;吴健煜;王宏义;郑黎明;刘培国 -专利权人：天津市滨海新区军民融合创新研究院;中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2020-01-17 - 公布日： 2022-09-30 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明组件包括：分别用于测试IC芯片不同引脚抗扰度的无电容探针和带电容探针；探针连接器，一端用于连接静电放电发生器的输出端，一端用于能拆卸的连接所述无电容探针或所述带电容探针。所述带电容探针所携带的电容为能串联在所述探针连接器与被测高速DDR芯片单端信号引脚之间的耦合电容。所述无电容探针用于将所述探针连接器与高速DDR芯片差分信号的引脚进行连接；且所述组件还包括：针对差分引脚设置有并联的耦合电容将以对接被测高速DDR芯片差分信号双端引脚的定制PCB测试板。
一种面向处理器芯片静电电抗测试方法组件

[实用新型]一种刀型探针-CN201821896663.6有效
发明人：李斌 -专利权人：深圳市创卓鑫五金电子有限公司
申请日： 2018-11-16 - 公布日： 2019-08-06 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种刀型探针，包括固定板，所述固定板上表面左侧安装有探针柄，所述探针柄内右侧开设有电容腔，所述电容腔内置有夹持块且夹持块与电容腔滑动连接，所述夹持块右侧安装有密封盖，所述夹持块内中部安装有电容，所述探针柄靠近电容腔的左侧开设有L型线槽。本实用新型通过夹持块与电容腔滑动连接，使卡杆与卡槽分离，向外侧拉动密封盖，密封盖带动夹持块上的电容向外侧运动，使电容处于活动连接状态，便于更换和保养电容，防止固定置于探针柄内，更换和保养时，需将探针柄与固定板的焊接层拆开，需焊接操作重新组装，费时费力，更换和保养电容成本大，较为实用，适合广泛推广与使用。
夹持块电容电容腔探针柄密封盖保养本实用新型刀型探针滑动连接固定板固定板上表面活动连接状态焊接操作重新组装焊接层卡槽卡杆内置拆开费力

[实用新型]一种用于片式电解电容的测试装置-CN201922329090.X有效
发明人：杨晔 -专利权人：江苏伊施德创新科技有限公司
申请日： 2019-12-23 - 公布日： 2020-08-21 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种用于片式电解电容的测试装置，包括：电容运动轨道和上下探针阵列。电容运动轨道设有多对与两个电极位置对应的探针孔。上下探针与探针孔对应，并上下移动。上探针和下探针均由多段不同直径的针体组成，针头的第一直径大于针芯的第二直径。上探针和下探针的针头均朝向探针孔的上表面；在无电容的空压情况下，上探针的针头低于或等于探针孔的上表面，下探针的针头高于探针孔的上表面，上探针和下探针相接触并互相施力；在有电容的测试情况下，上探针向电极的上表面施加下压的力，下探针向电极的下表面施加上顶的力。本实用新型以上下探针阵列的形式提高了测试速度，有效穿透电极上下表面的氧化层或污物层，提高了测试精度。
一种用于电解电容测试装置

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