专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于计算电容放电时间的方法及移动终端-CN201010529067.6有效
  • 苏海波 - 惠州TCL移动通信有限公司
  • 2010-10-28 - 2011-02-16 - G06F19/00
  • 本发明属于电容技术领域,公开了一种用于计算电容放电时间的方法及移动终端,所述方法包括:电容芯片获取电容放电前的电压U1;电容芯片获取所述电容放电后的电压U2;电容芯片根据电容放电前的电压U1以及电容放电后的电压U2计算获取放电容量,其中,在计算获取放电容量时,通过以下公式获取:Q=C×(U1-U2),放电容量=Q×1/3.6毫安×时,所述电容芯片根据与该电容芯片电性连接的时钟来计算电容放电时间,在计算电容的放电时间时,通过以下公式获取:T=放电容量/耗电电流。本发明在电容两边的电压发生变化时,能够准确的计算电容容量,并根据电容容量计算时间,拓展了电容的应用。
  • 用于计算电容器放电时间方法移动终端
  • [实用新型]一种混合集成电路用多芯组瓷介电容-CN201621457527.8有效
  • 林广;王新;常乐;陈亚东 - 成都宏明电子科大新材料有限公司
  • 2016-12-28 - 2017-07-18 - H01G4/12
  • 本实用新型公开了一种混合集成电路用多芯组瓷介电容,包括一对引线,引线之间设有电容芯片组,电容芯片组包括若干只多层瓷介电容芯片,多层瓷介电容芯片的两侧设有端电极,端电极之间设有若干交错排列的内电极,同侧的多层瓷介电容芯片的端电极组成电容芯片组的端电极组,电容芯片组前表面和后表面的两侧涂有侧部阻焊层,端电极组表面的上下边缘涂有端部阻焊层,端部阻焊层之间设有焊锡层。本实用新型的电容通过给电容芯片组涂覆阻焊油墨,很好的控制了焊锡膏的用量,增加了电容引线吸收应力的能力。其设计可在很大程度上提高电容耐温度冲击的能力,增加产品的可靠性和应用范围。
  • 一种混合集成电路用多芯组瓷介电容器
  • [发明专利]一种陶瓷电容的制造方法-CN202210632263.9在审
  • 肖文华;陈映义;牛继恩;陈睿敏;赖伟生 - 汕头市瑞升电子有限公司
  • 2022-06-07 - 2022-08-23 - H01G4/012
  • 一种陶瓷电容的制造方法,包括下述步骤:(1)将烧结得到的陶瓷电容介质片清洗干净并烘干;(2)在经步骤(1)处理的陶瓷电容介质片的两面上制作电极,得到陶瓷电容芯片;(3)磨削除去陶瓷电容芯片的边缘部分;(4)将经过磨削的陶瓷电容芯片清洗干净并烘干;(5)在经步骤(4)处理的陶瓷电容芯片上焊接引脚,并进行包封,得到陶瓷电容。本发明通过磨削加工除去陶瓷电容介质片的边缘部位,消除陶瓷电容介质片的边缘缺陷,可显著提高陶瓷电容的击穿电压。
  • 一种陶瓷电容器制造方法
  • [实用新型]一种立体式堆叠陶瓷电容-CN201120456487.6有效
  • 贺卫东 - 福建火炬电子科技股份有限公司
  • 2011-11-17 - 2012-08-22 - H01G4/38
  • 一种立体式堆叠陶瓷电容,包括有两引脚,每一引脚各引出若干焊接片,两引脚的焊接片之间焊接有多个电容芯片,且该多个电容芯片排列为至少两层,且每层至少为两排,每排至少包含两个电容芯片。与现有技术相比,本实用新型由于多个电容芯片排列为至少两层,且每层至少为两排,每排至少包含两个电容芯片电容芯片为三维立体堆叠,在有限的空间内极大地加大了陶瓷电容的容量,充分满足特定场合的特殊需求
  • 一种立体堆叠陶瓷电容器
  • [发明专利]一种芯片电容检测设备-CN202010779185.6在审
  • 吴浩;谢华;车瑞飞;辛广兴;陈松磨 - 广州创天电子科技有限公司
  • 2020-08-05 - 2020-12-01 - B07C5/02
  • 本发明属于芯片电容测试领域,具体涉及一种芯片电容检测设备,包括用于芯片电容上料的上料装置,用于检测芯片电容电性能的电性能检测装置,用于收纳电性能不良品的电性能不良品料盘,用于测试芯片电容外观的外观检测装置,用于收纳传送检测合格的芯片电容的合格品下料装置,用于收纳外观不良品的外观不良料盘,用于吸附抓取芯片电容,并转动变换芯片电容的工位的转盘传送装置;其中,上料装置、电性能检测装置、电性能不良品料盘、
  • 一种芯片电容器检测设备
  • [实用新型]一种芯片电容检测设备-CN202021607774.8有效
  • 吴浩;谢华;车瑞飞;辛广兴;陈松磨 - 广州创天电子科技有限公司
  • 2020-08-05 - 2021-03-05 - B07C5/02
  • 本实用新型属于芯片电容测试领域,具体涉及一种芯片电容检测设备,包括用于芯片电容上料的上料装置,用于检测芯片电容电性能的电性能检测装置,用于收纳电性能不良品的电性能不良品料盘,用于测试芯片电容外观的外观检测装置,用于收纳传送检测合格的芯片电容的合格品下料装置,用于收纳外观不良品的外观不良料盘,用于吸附抓取芯片电容,并转动变换芯片电容的工位的转盘传送装置;其中,上料装置、电性能检测装置、电性能不良品料盘、
  • 一种芯片电容器检测设备

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