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[发明专利]器件识别方法、器件制造方法以及电子器件-CN200580051329.X无效
发明人：冈安俊幸;须川成利;寺本章伸 -专利权人：爱德万测试株式会社;国立大学法人东北大学
申请日： 2005-08-18 - 公布日： 2008-08-06 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供电子器件的器件识别方法，是识别具有电子器件实际工作时工作的实际工作电路；以及设有多个测试用元件，在测试电子器件时工作的测试用电路的电子器件的器件识别方法；该方法具有：特性测量步骤，其测试多个测试用元件的电特性；识别信息存储步骤，其作为电子器件的识别信息存储各个测试用元件的电特性；识别信息取得步骤，其为了识别所需的电子器件，测量该电子器件中包含的多个测试用元件的电特性，取得该电子器件的识别信息；匹配步骤，其将识别信息取得步骤取得的前述识别信息与识别信息存储步骤存储的识别信息进行比较，当识别信息一致的情况下，判定为同一电子器件。
器件识别方法制造以及电子器件

[发明专利]电子器件的测试装置-CN202111022845.7在审
发明人：于海洋 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2021-09-01 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种电子器件的测试装置，包括待测电子器件、罩体和处理器，待测电子器件在测试装置中运行时能够产生热量；罩体用于在待测电子器件运行时罩住待测电子器件以使防止待测电子器件产生的热量扩散；处理器用于测试待测电子器件在运行时是否发生故障该测试装置利用待测电子器件运行时的自发热作为故障测试的热源，能够降低装置的复杂度并减少成本。
电子器件测试装置

[发明专利]光电子器件良品检测方法及系统-CN201711491589.X在审
发明人：左璠;杨明;段正兵 -专利权人：武汉凌科通光电科技有限公司
申请日： 2017-12-30 - 公布日： 2018-07-06 - 主分类号： H04B10/073 文献下载
摘要：一种光电子器件良品检测方法，其包括：S1、对光电子器件故障进行分析获取光电子器件故障原因；获取光电子器件故障原因对应的检测故障代码并存储在服务器中；S2、在服务器中配置光电子器件的各个测试环节，并设置各个测试环节所需要的测试组件；S3、在服务器中配置各个测试环节中自动化测试部分以及人工测试部分；S4、根据自动化测试部分配置相应测试组件的控制指令信息；S5、获取人工测试部分所需要的人员专业技能信息、所需要的人员工时信息；S6、获取目前待测光电子器件信息，根据待测光电子器件信息对人工测试部分所需要的人员进行筛选，并根据自动化测试部分生成待测光电子器件对应测试组件的控制指令信息，对待测光电子器件进行良品测试。
光电子器件自动化测试测试环节测试组件人工测试良品控制指令信息服务器故障原因检测配置电子器件故障故障代码专业技能存储筛选测试分析

[发明专利]基于磁锁定、利用不带插座的板对电子器件的测试-CN200980126119.0无效
发明人： F·斯科海蒂 -专利权人： ELES半导体设备股份公司
申请日： 2009-06-03 - 公布日： 2011-06-08 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：提出了一种用于测试电子器件(105；105’)的方案；每个电子器件具有用于电接触该电子器件的多个端子(115；115’)。对应的测试系统(120、145；120’、145’)包括一组测试板(120；120’)；每个测试板都配备有多个导电插孔(135；135’)的排(127；127’)，每个导电插孔用于放置一个对应的电子器件(每个插孔适于接纳对应电子器件的端子)。提供锁定装置(140、145；140’、145’)以便将电子器件机械地锁定到测试板上。该锁定装置包括适于无约束地放到电子器件上、用于例如由固定到测试板下面的对应磁性盘所施加的吸引力将电子器件压向测试板的无约束装置(145；145’)，例如铁磁性盘。
基于锁定利用插座电子器件测试

[发明专利]电子器件测试电路及麦克风阵列模块-CN202211046006.3在审
发明人：李丛丛 -专利权人：歌尔微电子股份有限公司
申请日： 2022-08-30 - 公布日： 2022-11-18 - 主分类号： H04R1/08 文献下载
摘要：本发明提供一种电子器件测试电路及麦克风阵列模块，其中的测试电路设置在待检测电子器件的电源端；其中，当电子器件为丢失状态时，电源端被置低，测试电路的输出信号关闭，并处于非正常工作模式；当电子器件为正常状态时，电源端正常供电，测试电路的输出信号正常，并处于正常工作模式；基于测试电路的工作模式，确定电子器件的测试结果。利用上述发明能够快速有效的对麦克风阵列等电子器件进行测试，避免器件漏装、丢失等异常情况发生。
电子器件测试电路麦克风阵列模块

[发明专利]柔性电子多轴应力加载装置-CN202010564781.2在审
发明人：陈仙;张培健;廖希异;王妍;蒋飞宇;邱盛 -专利权人：中国电子科技集团公司第二十四研究所
申请日： 2020-06-19 - 公布日： 2020-09-18 - 主分类号： G01N3/08 文献下载
摘要：本申请提供一种柔性电子多轴应力加载装置，包括：承载柔性电子器件且能旋转所述柔性电子器件的测试机构；与所述测试机构配套的多轴应力加载机构；所述测试机构上的柔性电子器件接收所述多轴应力加载机构施加的多轴应力，测试所述柔性电子器件在多轴应力下的响应特性。本申请通过控制多轴应力加载机构施加不同位置的多轴应力在柔性电子器件，测试机构旋转该柔性电子器件控制多轴应力的施加方向，从而完成柔性电子器件在多轴应力作用下的响应测试，本测试装置能够迅速、精准地控制多轴应力的加载位置与方向，提高了响应特性测试的效率。
柔性电子应力加载装置

[发明专利]基于TEC的光电子器件测试平台-CN202110674993.0有效
发明人：金亚;陈寅芳;王健;翟鲲鹏;徐长达;陈少康;齐艺超;陈伟;李明;祝宁华 -专利权人：中国科学院半导体研究所
申请日： 2021-06-17 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本公开提供一种基于TEC的光电子器件测试平台，包括：散热片，顶部设置有固定槽，底部设置有多组散热鳍片；TEC单元，嵌入设置于所述固定槽中；导热板，用于作为测试平面承载待测试光电子器件；以及磁性固定条，能够通过动态组合配置以约束所述待测试光电子器件从而缓解现有技术中光电子器件测试时测试精度受光电子器件的工作状态稳定性影响大，同时也受测试环境温度影响较大；测试过程中容易因光电子器件固定不当，导致器件损坏、光纤连接中断而使得测试效率低等技术问题。
基于 tec 光电子器件测试平台

[发明专利]一种电子器件测试设备-CN201711329807.X在审
发明人：廖星庆;高晶晶;刘爽;王向红 -专利权人：格力电器(武汉)有限公司;珠海格力电器股份有限公司
申请日： 2017-12-13 - 公布日： 2018-06-08 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本发明涉及测试设备技术领域，公开了一种电子器件测试设备。以有效检测出电解电容是否正确接于电子器件中，进一步还可以有效检测出电子器件的针座的漏针情况。电子器件测试设备，其特征在于，包括底座以及支撑于底座的下针床、托盘和上针床以及控制器，下针床包括下植针板，下植针板上对应电子器件的电解电容分别接于电子器件的正极方向和负极方向的两个测试极分别植有第一下测试探针；托盘位于下针床背离底座的一侧，用于放置电子器件，且托盘上对应电子器件的测试点的位置开设有允许第一下测试探针穿过的测试孔；上针床位于托盘背离底座的一侧，包括上植针板，上植针板对应电子器件的电解电容的壳体的位置植有朝向托盘的第一上测试探针
电子器件托盘植针板底座电子器件测试测试探针电解电容下针有效检测上针背离测试设备负极方向正极方向控制器测试点测试孔壳体漏针针座穿过测试支撑

[发明专利]柔性电子弯曲加载装置-CN202010564785.0在审
发明人：陈仙;张培健;廖希异;王妍;蒋飞宇;邱盛;张正元 -专利权人：中国电子科技集团公司第二十四研究所
申请日： 2020-06-19 - 公布日： 2020-09-18 - 主分类号： G01N3/20 文献下载
摘要：本申请提供一种柔性电子弯曲加载装置，包括：承载柔性电子器件且能旋转所述柔性电子器件的测试机构；与所述测试机构配套的可变曲率弯曲加载机构，所述可变曲率弯曲加载机构调节不同曲率半径的圆棒，将对应曲率半径的弯曲加载到所述测试机构上的柔性电子器件，所述测试机构测试所述柔性电子器在不同曲率半径弯曲下响应特性。本申请利用可变曲率弯曲加载机构装载不同曲率半径圆棒，将对应曲率半径的弯曲加载到柔性电子器件上；同时，利用测试机构旋转该柔性电子器件控制柔性电子器件的旋转角度，从而实现对柔性电子器件不同位置、不同方向弯曲下的测试，本测试装置极大简化了弯曲‑响应特性的测试流程，提高了响应特性测试效率。
柔性电子弯曲加载装置

[发明专利]移动终端电子器件测试装置、系统及方法-CN202310038190.5在审
发明人：贾兴旺;李辰龙;张吉成;李正 -专利权人：荣耀终端有限公司
申请日： 2023-01-10 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请涉及测试技术领域，旨在解决一些已知的电子器件测试方案成本高或测试数据有效性较差的问题，提供移动终端电子器件测试装置、系统及方法。其中，移动终端电子器件测试装置包括壳体、载板、驱动控制板和电池。载板具有若干用于安装电子器件的安装位。驱动控制板连接于壳体。驱动控制板电连接于载板，用于驱动安装于安装位的电子器件，使电子器件处于运行状态并采集电子器件在运行状态下的相关数据。电池连接于壳体。本申请的有益效果是测试成本低且测试结果有效性高、测试效率高。
移动终端电子器件测试装置系统方法

[发明专利]电子器件处理装置和不良端子确定方法-CN200580041108.4无效
发明人：市川雅理 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2005-11-25 - 公布日： 2007-11-07 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：作为标准的电子器件的各个端子的标准位置信息被预先存储起来，由图像拍摄装置拍摄由传送装置保持的待测试电子器件的端子的图像，从被拍照的待测试电子器件的端子的图像数据中获取各个端子的位置信息，并且通过比较作为标准的电子器件的各个端子的标准位置信息和所获取的待测试电子器件的端子的位置信息，确定待测试电子器件的端子的缺失和/或排列位置缺陷。
电子器件处理装置不良端子确定方法

[发明专利]低成本的B方法高压隔离筛选测试-CN202280011994.X在审
发明人： T•D•博尼菲尔德 -专利权人：德克萨斯仪器股份有限公司
申请日： 2022-01-24 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种方法(100)包括：将AC测试电压信号(VT)施加(110)到电子器件的端子，该AC测试电压信号(VT)具有300Hz至100kHz的测试频率(F1)；感测(112)在AC测试电压信号(VT)的施加期间该电子器件的电流信号(IT)；以及响应于电流信号(IT)小于电流阈值(ITH)，将电子器件(200)标识(115)为通过隔离测试。在将电子器件标识(115)为通过隔离测试之后，方法(100)包括：将第二AC测试电压信号(VT)施加(116)到电子器件的端子，该第二AC测试电压信号(VT)具有300Hz至100kHz的第二测试频率(F2)；测量(118)在施加第二AC测试电压信号(VT)期间该电子器件的放电；以及响应于放电小于放电阈值(DTH)，将电子器件(200)标识(121)为通过放电测试。
低成本方法高压隔离筛选测试

[实用新型]用于电子器件的气密测试装置-CN202222809837.3有效
发明人：张辰晖;陈加为;李子龙;王涛 -专利权人：昆山佰奥智能装备股份有限公司
申请日： 2022-10-25 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G01M3/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于电子器件的气密测试装置，包括上料机构、封堵机构、压紧机构和气密检测机构，所述上料机构被配置为将待测试的电子器件移送至测试工位；所述封堵机构被配置为对待测试的电子器件上除所述气密测试口之外的余下所述开口进行密封封闭；所述压紧机构被配置为对待测试的电子器件进行抵压限制；所述气密检测机构被配置为经由所述气密测试口向电子器件内吹气，以对电子器件进行保压气密性测试。该气密测试装置的结构新颖、合理、自动化程度高，作业效率高，气密检测精度高。
用于电子器件气密测试装置

[实用新型]一种集成光电子器件制造用测试装置-CN202122058853.9有效
发明人：潘玉英;刘娟 -专利权人：无锡浩乘光电科技有限公司
申请日： 2021-08-30 - 公布日： 2022-03-15 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种集成光电子器件制造用测试装置，包括底座、支架和检测头，支架的底部与底座顶部前侧的右侧固定连接，检测头的顶部与支架底部的左侧固定连接，底座正面的右侧固定连接有控制面板，底座的顶部设置有放置板本实用新型通过设置驱动机构，在启动后能够使放置板旋转，便于使用者放置电子器件，同时旋转机构能够使放置板旋转，使电子器件旋转到适当角度，便于检测头进行检测，解决了测试装置对电子器件进行测试只能单个电子器件测试，需要操作人员来回更换电子器件，在对测试完成后的电子器件进行更换时测试装置处于空闲状态，降低了测试效率和测试速度慢，且费时费力的问题。
一种集成光电子器件制造测试装置

[发明专利]具有至本地测试设施的无线接口的远程测试设施-CN200580043515.9无效
发明人： I·Y·坎达斯;B·N·埃尔德里奇 -专利权人：佛姆法克特股份有限公司
申请日： 2005-12-15 - 公布日： 2007-11-28 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一中央测试设施将测试数据无线地发送至本地测试设施，本地测试设施使用测试数据测试电子器件。本地测试设施将电子器件所产生的响应数据无线地发回给中央测试设施，中央测试设施分析响应数据以确定哪些电子器件通过了测试。中央测试设施可将测试结果提供给其它实体，诸如设计电子器件的设计设施或制造电子器件的制造设施。中央测试设施可接受来自数个本地测试设施中任意一个的测试资源的请求，安排与每个测试请求对应的测试时间，并且在排定的测试时间将测试数据无线地发送至相应的本地测试设施。
具有本地测试设施无线接口远程

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