专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]自动化管道镜测量端头准确度测试-CN201410201494.X无效
  • C.A.本达尔;J.L.斯科特 - 通用电气公司
  • 2014-05-13 - 2014-11-19 - G01M11/00
  • 使用包括具有已知的几何特性的测试特征的测试对象来测试远程可视检查(RVI)系统测量准确度。使用控制器,检测可拆卸测量光学端头到RVI探测器的附接。然后,提示用户执行测量准确度的测试。在用户指示测试特征可见时,系统捕获测试特征的一个或更多图像,从图像确定测试特征的坐标,并且使用坐标来测量测试特征的几何特性。使用所测量的几何特性和已知的几何特性来确定准确度结果,并且例如对用户提供比较的结果的指示。还描述了具有用户提示装置的RVI系统
  • 自动化管道测量端头准确度测试
  • [发明专利]用于确定儿童的眼睛的屈光特性的方法和系统-CN201810651048.7有效
  • M.韦尔舍尔;T.克拉策尔 - 卡尔蔡司光学国际有限公司
  • 2013-04-29 - 2021-07-09 - A61B3/103
  • 用于确定儿童的眼睛的屈光特性的方法和系统。本发明涉及用于确定眼睛的屈光特性系统,该系统包括用于测量眼睛的屈光特性的波前测量装置,其特征在于,该系统被配置成具有分配给儿童们的至少一个测量模式,其中该系统具有被配置成将该系统切换成分配给儿童们的至少一个测量模式中的一个的输入装置,并且其中该系统此外被配置成:当该系统被切换成分配给儿童们的至少一个测量模式中的一个时,更改由默认瞳孔距离、默认角膜顶点距离、波前测量装置的默认位置、波前测量装置的测量光线的默认位置和/或方向、系统的前额和下巴支架组件的默认位置和注视目标构成的组中的至少一个
  • 用于确定儿童眼睛特性方法系统
  • [发明专利]横向相减差动共焦超长焦距测量方法-CN201910318568.0有效
  • 赵维谦;邱丽荣 - 北京理工大学
  • 2019-04-19 - 2021-02-26 - G01M11/02
  • 本发明公开的横向相减差动共焦超长焦距测量方法,属于光学精密测量技术领域。本发明在共焦测量系统中,首先在CCD探测的艾里斑图像上通过软件设置大、小虚拟针孔探测区域并将其探测的两条共焦特性曲线通过相减处理来锐化共焦特性曲线,其次将锐化共焦特性曲线进行差动相减处理来得到轴向高灵敏的差动共焦特性曲线,然后利用该差动共焦特性曲线零点与差动共焦测量系统焦点精确对应所述特性对被测超长焦距测量时各顶点位置进行高精度定焦寻位,最后通过光线追迹补偿计算来精确得到超长焦距,实现超长焦距的高精度测量。本发明具有测量精度高、抗环境干扰能力强和结构简单等优势,在光学精密测量技术领域具有广泛的应用前景。
  • 横向差动超长焦距测量方法
  • [发明专利]安装的芯片的生产的反馈控制-CN201780052047.4有效
  • I·J·福斯特 - 艾利丹尼森零售信息服务公司
  • 2017-07-07 - 2022-03-15 - G06K7/00
  • 本申请公开一种用于RFID组装件生产的反馈控制系统。该控制系统可以包括测量系统和控制系统测量系统可以对RFID芯片组装件(例如,RFID条带或RFID天线)的一个或多个电特性进行测量。然后,测量系统可以与控制系统通信以调整影响电特性的一个或多个参数。一旦实现期望的一组电特性,芯片组装件就可以被固化。反馈控制系统可以动态地实现,其用于个体芯片组装件的精确组装,或者用于批量控制滚动生产线上的组装件的平均特性。反馈控制系统也可以以逐步的方式实现,并用于收集数据以及迭代地自我改进。
  • 安装芯片生产反馈控制
  • [发明专利]横向相减差动共焦超大曲率半径测量方法-CN201910319702.9有效
  • 赵维谦;刘文丽;肖阳;邱丽荣 - 北京理工大学;中国计量科学研究院
  • 2019-04-19 - 2020-12-15 - G01B11/255
  • 本发明公开的横向相减差动共焦超大曲率半径测量方法,属于光学精密检测技术领域。本发明方法在共焦测量系统中,首先在CCD探测的艾丽斑图像上通过软件设置大、小虚拟针孔探测区域(图像区)并将其探测的两条共焦特性曲线通过相减处理来锐化共焦特性曲线,然后将锐化共焦特性曲线进行横向相减差动相减处理来得到轴向高灵敏的差动共焦特性曲线,最后再利用该横向相减差动共焦特性曲线零点与测量系统焦点精确对应这一特性对超大曲率半径测量中各特征点实现高精度定焦,进而实现超大曲率半径的高精度测量。该方法为超大曲率半径的高精度测量提供了一个全新的技术途径。
  • 横向差动超大曲率半径测量方法
  • [发明专利]双边错位差动共焦超长焦距测量方法-CN201910318159.0有效
  • 赵维谦;邱丽荣 - 北京理工大学
  • 2019-04-19 - 2020-12-11 - G01M11/02
  • 本发明公开的双边错位差动共焦超长焦距测量方法,属于光学精密测量技术领域。本发明在共焦测量系统中,首先在CCD探测的艾丽斑图像上通过软件设置大、小虚拟针孔探测区域并将其探测的两条共焦特性曲线通过相减处理来锐化共焦特性曲线,然后将锐化共焦特性曲线进行双边错位差动相减处理来得到轴向高灵敏的差动共焦特性曲线,其次利用该双边错位差动共焦特性曲线零点与共焦测量系统焦点精确对应所述特性对超长焦距测量中移动测量平面镜各位置点进行高精度定焦寻位,进而实现超长焦距的高精度测量。与已有的超长焦距测量方法相比,本发明具有测量精度高、抗环境干扰能力强和结构简单等优势,在光学精密测量技术领域具有广泛的应用前景。
  • 双边错位差动超长焦距测量方法
  • [发明专利]一种超声扫描显微镜成像分辨力特性校准装置及校准方法-CN201611165365.5有效
  • 黎安兵;朱永晓;蒋劲松 - 贵州航天计量测试技术研究所
  • 2016-12-16 - 2023-05-16 - G01N29/30
  • 本发明公开了一种超声扫描显微镜成像分辨力特性校准装置及校准方法,包括光栅测量系统、超声扫描显微镜、直线位移自动平移机构和校准平台,其中,所述直线位移自动平移机构安装在校准平台上,在校准平台上还安装有光栅测量系统,所述超声扫描显微镜正对校准平台,所述超声扫描显微镜和光栅测量系统均与计算机连接;校准时通过超声扫描显微镜扫描标准试块上相邻两幅图像指定点的像素灰度差值,计算出相应的实际尺寸值,并与光栅测量系统测量的直线位移自动平移机构的相应位移量进行比对,即可完成成像分辨力特性校准;本发明解决了目前超声扫描显微镜成像分辨力测量特性校准时标准试块安装困难以及对成像分辨力测量特性评价不全面等问题。
  • 一种超声扫描显微镜成像分辨力特性校准装置方法
  • [实用新型]一种超声扫描显微镜成像分辨力特性校准装置-CN201621382650.8有效
  • 黎安兵;朱永晓;蒋劲松 - 贵州航天计量测试技术研究所
  • 2016-12-16 - 2017-06-20 - G01N29/30
  • 本实用新型公开了一种超声扫描显微镜成像分辨力特性校准装置,包括光栅测量系统、超声扫描显微镜、直线位移自动平移机构和校准平台,其中,所述直线位移自动平移机构安装在校准平台上,在校准平台上还安装有光栅测量系统,所述超声扫描显微镜正对校准平台,所述超声扫描显微镜和光栅测量系统均与计算机连接;校准时通过超声扫描显微镜扫描标准试块上相邻两幅图像指定点的像素灰度差值,计算出相应的实际尺寸值,并与光栅测量系统测量的直线位移自动平移机构的相应位移量进行比对,即可完成成像分辨力特性校准;本实用新型解决了目前超声扫描显微镜成像分辨力测量特性校准时标准试块安装困难以及对成像分辨力测量特性评价不全面等问题。
  • 一种超声扫描显微镜成像分辨力特性校准装置
  • [发明专利]基于幅相特性检测的阻容解耦软测量方法-CN201010173466.3有效
  • 周楷棣;张立勇;凌经纬;仲崇权;李丹 - 大连理工大学
  • 2010-05-13 - 2010-09-22 - G01R27/22
  • 一种基于幅相特性检测的阻容解耦软测量方法,属于溶液电导率软测量技术领域。其特征是将电导池中电导率的测量转化为电导池电特性等效阻容网络的测量,再通过估计该阻容网络的幅相特性进而获得其阻容参数,其中的电阻参数即为被测溶液电阻。用正弦波激励阻容网络,基于非线性最小二乘原理,采用最速下降法进行优化计算,利用对响应信号的多点采样可拟合出系统函数形式,进而可获得系统幅相特性参数。然后通过幅相特性与阻容网络的函数关系式可求得阻容参数值。本发明的效果和益处是具有较高的测量精度和较少的迭代次数,此外还提供了一种准确获取线性系统幅相特性的方法。
  • 基于特性检测阻容解耦软测量方法
  • [发明专利]测量系统-CN201210268173.2有效
  • 张泓恺;苏忠耀;张秋贤 - 纬创资通股份有限公司
  • 2012-07-30 - 2014-02-12 - G01R23/16
  • 本发明公开了一种测量系统,用来测量一接点的一信号特性。该测量系统包含有一接触式测量单元,该接触式测量单元包含有一探针,用来接触该接点,以撷取该接点的信号;一输出接口;多个电容,电性连接于该探针与该输出接口之间,每一电容的一电容值相对应于一频率范围;以及一保护电路,其一端电性连接于该探针与该输出接口之间,另一端电性连接于一地端;以及一频谱分析仪,电性连接于该输出接口,用来显示该输出接口所输出的信号的能量相对于频谱的信息,以测量该接点的该信号特性。本发明的测量系统可准确测量特定接点的信号特性,并可针对特定频率范围进行滤波,以测量特定频率范围下的信号特性
  • 测量系统

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