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[发明专利]一种X射线机焦距准确设定与测量的检测装置及方法-CN201110394035.4无效
发明人：于虹;魏杰;王达达;吴章勤;赵现平;况华;闫文斌;谭向宇;刘荣海;王科;郭涛涛 -专利权人：云南电力试验研究院（集团）有限公司电力研究院
申请日： 2011-12-02 - 公布日： 2012-06-20 - 主分类号： G01N23/00 文献下载
摘要：一种X射线机焦距准确设定与测量的检测装置及方法，本发明包括X射线机、开关装置、焦距测量装置、焦距设定装置、激光接收与反射装置、温度测量装置、湿度测量装置、LED显示器、紧固装置、报警装置、USB线、成像板；本发明的有益效果为，通过本发明能实现快速的、准确的对射线检测时焦距的测量与设定，大大提高了焦距测量的精度与缩短了作业时间，本发明具有高效、无损、可视的显著优点。
一种射线焦距准确设定测量检测装置方法

[发明专利]一种测量摄像机镜头焦距对焦参数的装置-CN201510884388.0有效
发明人：欧屹;刘军;程利玲;严伟;刘丙凯;黄俊伟 -专利权人：张家港斯克斯精密机械科技有限公司
申请日： 2015-12-04 - 公布日： 2018-08-10 - 主分类号： G03B43/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种测量摄像机镜头焦距对焦参数的装置，包括固定轴、摄相机镜头焦距测量装置、摄相机镜头对焦测量装置和卡爪，所述卡爪固定在固定轴上，摄相机镜头焦距测量装置和摄相机镜头对焦测量装置对称的设置在固定轴上，所述摄相机镜头焦距测量装置和摄相机镜头对焦测量装置构成相同，均包括调焦调节架、调焦固定架、弹簧、顶杆、小齿轮、中齿轮、大齿轮和圆光栅。该摄像机镜头焦距对焦参数的装置结合摄像机镜头焦距对焦调节结构，通过齿轮传动，利用圆光栅来检测镜头焦距对焦参数，能够实现实时快速获取摄像机镜头参数，非常便于应用。
对焦相机镜头焦距测量装置测量装置镜头焦距固定轴摄像机镜头焦距测量摄像机圆光栅调焦卡爪摄像机镜头齿轮传动对焦调节快速获取大齿轮调节架固定架小齿轮中齿轮弹簧顶杆对称检测应用

[实用新型]一种测量摄像机镜头焦距对焦参数的装置-CN201520997998.7有效
发明人：欧屹;刘军;程利玲;严伟;刘丙凯;黄俊伟 -专利权人：张家港斯克斯精密机械科技有限公司;上海星钛数码科技有限公司;南京格拉菲克软件科技有限公司
申请日： 2015-12-04 - 公布日： 2016-04-20 - 主分类号： G03B43/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种测量摄像机镜头焦距对焦参数的装置，包括固定轴、摄相机镜头焦距测量装置、摄相机镜头对焦测量装置和卡爪，所述卡爪固定在固定轴上，摄相机镜头焦距测量装置和摄相机镜头对焦测量装置对称的设置在固定轴上，所述摄相机镜头焦距测量装置和摄相机镜头对焦测量装置构成相同，均包括调焦调节架、调焦固定架、弹簧、顶杆、小齿轮、中齿轮、大齿轮和圆光栅。该摄像机镜头焦距对焦参数的装置结合摄像机镜头焦距对焦调节结构，通过齿轮传动，利用圆光栅来检测镜头焦距对焦参数，能够实现实时快速获取摄像机镜头参数，非常便于应用。
一种测量摄像机镜头焦距对焦参数装置

[发明专利]智能移动装置测量物体的方法及系统-CN201611265094.0在审
发明人：郭建明 -专利权人：深圳天珑无线科技有限公司
申请日： 2016-12-30 - 公布日： 2017-06-20 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明是有关于一种智能移动装置测量物体的方法及系统。其特征在于通过影像撷取模块，显示测量物体的预览图像于触控屏幕；通过测量数据库，取得辅助测量工具长度；并通过焦距校正模块，调整所述测量物体焦距，取得焦距信息；通过距离测量模块，依据所述辅助测量工具长度及所述焦距信息，取得测量物体距离；再通过高度测量模块，依据所述辅助测量工具长度及所述焦距信息，取得测量物体高度，产生异常参数；以及通过宽度测量模块，依据所述辅助测量工具长度及所述焦距信息，取得测量物体宽度。
智能移动装置测量物体方法系统

[发明专利]一种可携式电子装置-CN200610103542.7无效
发明人：林嘉庆;郭立颖 -专利权人：凌阳科技股份有限公司
申请日： 2006-07-21 - 公布日： 2008-01-23 - 主分类号： G06F3/00 文献下载
摘要：一种可携式电子装置包含有：一影像撷取装置，用来连续撷取影像；一焦距测量装置，耦接至该影像撷取装置，用来按序测量所撷取影像上相对于多个待测位置的多个焦距；一显示装置，用来输出一画面；以及一位移侦测控制器，耦接至该焦距测量装置以及该显示装置，用来根据该焦距测量装置所测量的该多个焦距的变化，确定该可携式电子装置位移或转动情况，进而控制该显示装置的画面显示。
一种可携式电子装置

[发明专利]晶体热透镜焦距的测量装置及其测量方法-CN202110632694.0在审
发明人：钟朝阳;于真真;张鑫;王明建;侯霞;陈卫标 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2021-06-07 - 公布日： 2021-09-24 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种测量晶体热透镜焦距的装置及方法，该测量装置主要包括准直光源、待测激光晶体、焦距已知的正透镜、剪切干涉仪。将具有热透镜效应的待测激光晶体和焦距已知的正透镜形成一个透镜组，移动正透镜的位置使透镜组成为望远镜系统，测量此时激光晶体到正透镜的距离，将其值减去正透镜的焦距即为所测晶体热透镜焦距。本发明装置结构简单，易于操作，可实现激光晶体不同方向的热透镜焦距测量，同时可对不同泵浦功率下激光晶体热透镜焦距实时在线测量。
晶体透镜焦距测量装置及其测量方法

[发明专利]光刻测量装置和光刻测量方法-CN201510455256.6有效
发明人：金志明;金容彻;朴荣植;尹广燮 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2015-07-29 - 公布日： 2019-06-21 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：一种光掩模包括焦距测量标记区域，该焦距测量标记区域包括多个焦距监控图案。为了测量形成在基板上的特征图案的焦距变化，使用用于光刻测量的基板对象，该基板对象包括形成在与特征图案相同的水平上的焦距测量标记。一种光刻测量装置包括：投射器件，包括偏振器；检测器件，检测由要被测量的基板的焦距测量标记衍射的输出光束当中的±n级衍射光束的功率；以及确定器件，从±n级衍射光束之间的功率偏差来确定特征图案所经受的散焦。
焦距测量光刻基板特征图案测量标记区域测量装置衍射光束功率偏差监控图案焦距变化输出光束焦距光掩模偏振器检测散焦投射衍射

[实用新型]长焦距光学焦距测量装置-CN201820575637.7有效
发明人：肖朝;陈锋 -专利权人：成都信息工程大学
申请日： 2018-04-20 - 公布日： 2018-10-26 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了长焦距光学焦距测量装置，包括安装架、具有长度单位的滑轨、一对具有轴承的保持架、螺旋杆、多个活动蜗块和多个滑块,所述滑轨安装在安装架上，且滑轨内开有槽，一对所述保持架分别安装在滑轨内，且位于槽内本实用新型通过电机带动螺旋杆旋转带动滑块移动，通过控制电机转动圈数，使滑块移动到准确的位置，从而可以减少误差，提高测量准确度，而且操作简单，还使用方便。
滑轨安装架保持架螺旋杆驱动架本实用新型测量装置光学焦距滑块移动长焦距滑块啮合电机带动螺旋长度单位电机驱动控制电机旋转带动转动圈数准确度归零板连接管连接座滑槽内开轴承电机测量

[发明专利]调节投影仪焦距的方法及装置-CN201610186681.4在审
发明人：李国辉 -专利权人：乐视控股（北京）有限公司;乐卡汽车智能科技（北京）有限公司
申请日： 2016-03-29 - 公布日： 2016-08-03 - 主分类号： G03B21/53 文献下载
摘要：本发明公开了一种调节投影仪焦距的方法及装置，其中，调节投影仪焦距的方法包括：通过感应器检测投影仪与投影屏幕之间的距离，得到测量投影距离；获取投影仪的当前焦距；根据测量投影距离，分析得到与测量投影距离对应的最佳调节焦距；将当前焦距调节为最佳调节焦距。根据本发明提供的技术方案，自动调节投影仪的焦距，提高了调节投影仪焦距的便利性，优化了投影仪焦距调节方式。
调节投影仪焦距方法装置

[发明专利]用于工件的受控加工的方法和设备-CN201980088194.6有效
发明人： C·迪茨 -专利权人：普雷茨特光电有限公司
申请日： 2019-10-28 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： B23K26/03 文献下载
摘要：此外，根据该方法，距离测量数据借助于光学距离测量装置进行收集以确定将要进行加工的工件上的目标点与激光光学瞄准器之间的距离。该方法包括基于收集的距离测量数据相对于激光焦点定位将要进行加工的工件。距离测量装置设计为共焦光学距离测量装置，其具有用于产生测量光的测量光源及具有可变焦距测量透镜系统，该方法包括可变焦距测量透镜系统的焦距的随时间变化以在可变焦距测量透镜系统的不同焦距值时收集距离测量数据。
用于工件受控加工方法设备

[发明专利]透镜焦距的测量装置及其测量方法和光学质量评估方法-CN200710045802.4无效
发明人：庞向阳;沈卫星;王聪瑜;林尊琪 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2007-09-11 - 公布日： 2008-03-12 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：一种透镜焦距的测量装置及其测量方法和光学质量评估方法，该透镜焦距的测量装置由平面反射镜、待测透镜、点光源、竖直刀口、一维精密平移导轨、激光测距仪、CCD探测器和显示器组成，透镜焦距的测量方法包括①调节点光源与待测透镜自准直；②调节平面反射镜使透反会聚光束进入所述的CCD探测器；③测量待测透镜的焦深；④测量点光源到待测透镜的几何主面的距离L；⑤计算待测透镜的焦距：f＝L+d，该d为透镜几何主面和光学主平面的距离。该装置和方法适用于小口径短焦距和大口径长焦距透镜的测量和评估，具有直观、测量精度高、机构简单等特点。
透镜焦距测量装置及其测量方法光学质量评估方法

[实用新型]基于组合透镜法的光栅尺三探头焦距测量装置-CN201520684089.8有效
发明人：张霖;杨一;任寰;姜宏振;陈波;马骅;石振东;原泉;李东;刘勇;刘旭;马玉荣;杨晓瑜;柴立群 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2015-09-06 - 公布日： 2015-12-09 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于组合透镜法的光栅尺三探头焦距测量装置，属于光学精密测量技术领域中的基于组合透镜法测试焦距的测量装置和，其目的在于提供一种基于组合透镜法的光栅尺三探头焦距测量装置。该测量装置可实现在标准透镜参数未知的情况下的焦距测量；极大缩短了待测透镜的空间测量长度，可实现大口径近轴焦距检测；利用干涉条纹和光栅尺探头准确定位标准透镜以及组合透镜焦点位置，减小了球差的影响；将常规组合透镜方法中两透镜顶点之间的距离检测转换为标准透镜移动距离的检测，简化了测量方法并有效的提高了该距离值的检测可靠性。该装置具有结构简单、测量精度高、测量简单便捷等优点。
基于组合透镜光栅尺探头焦距测量装置

[发明专利]五棱镜组合超长焦距测量方法与装置-CN200910079327.1无效
发明人：赵维谦;孙若端;何川;沙定国 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2009-03-06 - 公布日： 2009-07-29 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种五棱镜组合超长焦距测量方法与装置。本发明将五棱镜定焦法与组合透镜超长焦距测量技术相融合，实现大口径透镜的低成本、高精度超长焦距测量。本发明通过五棱镜将光路折转，把光轴方向的定焦过程转化为垂直光轴方向成像位置变化量的测量过程，进一步与组合透镜超长焦距测量技术相结合，压缩光路长度，增强测量分辨力。本发明的测量装置，包括光源、五棱镜、参考透镜、对准目标、CCD探测器、准直镜，具有光路结构简单、光学部件引入的像差小，系统误差小、测量灵敏度高、抗环境干扰能力强的优点，可用于超长焦距透镜的检测与光学系统装配过程中的高精度焦距测量
棱镜组合超长焦距测量方法装置

[发明专利]基于组合透镜法的光栅尺三探头焦距测量装置及测量方法-CN201510560872.8在审
发明人：张霖;任寰;杨一;石振东;陈波;马骅;原泉;姜宏振;李东;刘勇;刘旭;马玉荣;杨晓瑜;柴立群;巴荣生;郑垠波;周信达 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2015-09-06 - 公布日： 2015-11-18 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于组合透镜法的光栅尺三探头焦距测量装置及测量方法，属于光学精密测量技术领域中的基于组合透镜法测试焦距的测量装置和测量方法，其目的在于提供一种基于组合透镜法的光栅尺三探头焦距测量装置及测量方法该测量装置和测量方法可实现在标准透镜参数未尽知的情况下的焦距测量；极大缩短了待测透镜的空间测量长度，可实现大口径近轴焦距检测；利用干涉条纹和光栅尺探头准确定位标准透镜以及组合透镜焦点位置，减小了球差的影响；将常规组合透镜方法中两透镜顶点之间的距离检测转换为标准透镜移动距离的检测，简化了测量方法并有效的提高了该距离值的检测可靠性。本方法具有测量精度高、重复性好、测量简单便捷等优点。
基于组合透镜光栅尺探头焦距测量装置测量方法

[发明专利]一种透镜焦距及波前畸变测量装置-CN201010591835.0无效
发明人：赵建科;段亚轩;陈永全;张杰 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2010-12-16 - 公布日： 2012-07-11 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种透镜焦距及波前畸变测量装置，该透镜焦距及波前畸变测量装置包括激光器、半透半反平面镜、平面反射镜以及焦距及波前畸变控制单元；半透半反平面镜和平面反射镜依次设置于激光器出射光路上；焦距及波前畸变控制单元设置于经平面反射镜反射至半透半反平面镜上并沿半透半反平面镜反射后的反射光路上本发明提供了一种测量范围大、稳定性高、重复性好，测量结果置信度高的透镜焦距及波前畸变测量装置。
一种透镜焦距畸变测量装置

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