专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种大功率激光芯片的激光强度测量方法-CN202210076429.3在审
  • 罗亚非 - 鲁欧智造(山东)高端装备科技有限公司
  • 2022-01-24 - 2022-03-01 - G01J1/42
  • 本申请公开了一种大功率激光芯片的激光强度测量方法,所述方法包括以下步骤:一、建立积分腔,积分腔包括激光芯片和光能传感器,激光芯片发射到积分腔内,光能传感器用于测量进入积分腔内激光能量强度,积分腔用于测量单个激光芯片发出的激光强度;二、建立积分阵列单元,积分阵列单元包括若干积分腔,所有积分腔的激光光源和光能传感器分别串联在一起;三、建立单元阵列,单元阵列包括若干并联设置的积分腔阵列单元;所述积分阵列单元和单元阵列用于同时测量若干激光芯片发出的激光强度具有以下优点:测量效率高,体积小,成本低。
  • 一种大功率激光芯片能量强度测量方法
  • [实用新型]激光防护镜片光密度测量装置-CN202020793470.9有效
  • 杨开鹏;王飞;王明;张俊雄;易传伟 - 襄阳蓬达高新科技有限公司
  • 2020-05-13 - 2020-11-24 - G01M11/02
  • 本实用新型提高了一种激光防护镜片光密度测量装置,该激光防护镜片光密度测量装置包括:工作台、外罩、光密度检查组件及滑动连接于外罩的用以关闭外罩的安全门;其中,光密度检查组件包括设置在工作台上的激光发射源、分束镜、第一激光计探头、防护镜安装座、第二激光计探头及激光计,激光发射源发出的激光通过分束镜分为两束激光,其中一束投射到第一激光计探头,另外一束穿过设置在防护镜安装座上的防护镜片后投射到第二激光计探头上,激光计通信连接于第一激光计探头和第二激光计探头。该激光防护镜片光密度测量装置能够提高检测效率,减少人工参与,保障检测人员安全。
  • 激光防护镜片光密度测量装置
  • [发明专利]飞焦级脉冲激光测量装置-CN202111590536.X在审
  • 孟庆安;樊红英;蒋泽伟;张浩;王询;甘春泉;马利国 - 西南技术物理研究所
  • 2021-12-23 - 2022-07-15 - G01S7/497
  • 本发明涉及一种飞焦级脉冲激光测量装置,属于激光测量技术领域。本装置采用基于模拟积分的脉冲激光测量方法,通过光电探测模块顺次连接增益自调节放大模块、程控积分模块、信号调理模块、数据采集测量模块,对被测脉冲激光进行光电转换、幅值调理以及模拟积分处理,利用程控积分模块输出积分响应信号峰值电压与被测激光之间的线性关系,通过数据采集测量模块测量信号调理模块输出信号峰值电压实现脉冲激光测量,有效降低了装置复杂度和成本,便于轻量化、小型化、一体化设计,适用于生产测试现场测试和校准。
  • 飞焦级脉冲激光能量测量装置
  • [发明专利]一种高重复频率激光校准装置-CN202310390777.2在审
  • 娄玮;张玉莹;王涛;满在刚;徐丽;王帅 - 中国科学院空天信息创新研究院
  • 2023-04-12 - 2023-06-27 - G01J1/42
  • 本发明公开了一种高重复频率激光校准装置,光束直径变换器将入射激光进行光束直径缩小或扩大;可调衰减器调整激光衰减量;分光镜将可调衰减器调整后的入射光束分成透射和反射的多路光束;光电探测器用于重复频率测量激光采集;示波器实现激光重复频率的测量;监测激光功率探测器用于激光功率的实时监测;在分光镜的透射光路上设置有待校准激光探测器,标准激光功率探测器设置在待校准激光探测器的后面,用于标准能量计算;电动导轨用于移动待校准激光探测器该装置可同时测量入射激光功率、重复频率和监测激光功率,有效消除入射光波动和分光比测量不准确对测量的影响。
  • 一种重复频率激光能量校准装置
  • [发明专利]自动校正的激光测量装置与校正方法-CN200410047297.3无效
  • 黄耀正;刘兴华 - 明基电通股份有限公司
  • 2004-05-28 - 2005-12-07 - G11B7/13
  • 一种自动校正的激光测量装置与校正方法,借助一光源装置进行自动校正操作,所述光源装置可提供投射出一预设光能,以及相对应所述预设光能的一数据值,所述激光测量装置具有一检测元件和一处理单元,检测元件接收预设光能并将预设光能转为一测量光能信号,处理单元接收所述测量光能信号与数据值,经一预定运算方式后,提供一修正数据值,本发明的方法包括下列步骤:处理单元提取预设光能及预设光能的数据值,且依据所述测量光能和所述数据值产生一修正数据值;比较所述修正数据值及所述预设值
  • 自动校正激光测量装置方法

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