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[发明专利]温度测试装置、温度测试系统及温度测试方法-CN201811279687.1在审
发明人：何凯;彭荔枝;刘嫚 -专利权人：合肥京东方视讯科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2018-10-30 - 公布日： 2019-01-18 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种温度测试装置、温度测试系统及温度测试方法，属于电路板设计领域。该温度测试装置包括：承载基台、承载支架、温度检测器和移动组件。该承载基台被配置为承载待测测的PCB，该承载支架的第一端与承载基台固定连接，第二端可以承载有温度检测器。该移动组件被配置为：在该PCB进行工作时，带动承载支架20的第二端移动，以使温度检测器对PCB上的各个待检测器件的工作温度进行检测。通过该温度测试装置可以实现对PCB上的各个待检测器件的工作温度进行自动检测，有效的提高了对PCB进行检测的检测效率。
温度测试装置温度检测器承载基台承载支架温度测试系统待检测器件温度测试移动组件检测承载电路板设计自动检测第一端配置移动

[发明专利]温度测试装置及温度测试方法-CN202010708349.6在审
发明人：小林武史;丸尾友彦;名古康彦 -专利权人：安立股份有限公司
申请日： 2020-07-22 - 公布日： 2021-02-26 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明提供一种温度测试装置及温度测试方法，在OTA测试环境下测定被测对象的发送特性或接收特性的温度依赖性时，能够抑制由绝热框体引起的测定结果的劣化。温度测试装置具备：测试用天线(6)，与天线(110)之间发送或接收用于测定DUT(100)的发送特性或接收特性的无线信号；绝热框体(70)，包围包括静区(QZ)在内的空间区域(71)并由绝热材料构成；以及测定装置(20)，进行DUT(100)的发送特性或接收特性的测定，绝热框体(70)在从测试用天线(6)发送来的无线信号的电波入射到静区(QZ)之前穿过的区域，具有与入射到静区(QZ)的无线信号的电波的行进方向垂直的平板状部分
温度测试装置方法

[发明专利]温度测试装置及温度测试系统-CN202210784804.X在审
发明人：易也;安宏鹏 -专利权人：新菲光通信技术有限公司
申请日： 2022-06-29 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明涉及光通信技术领域，公开了一种温度测试装置及温度测试系统，温度测试装置包括分流组件、测试箱以及温度感应组件，分流组件设有进气口以及多个气道，进气口用于与热流仪的出气口连通，气道连通于进气口，测试箱设有多个容纳腔以及多个插孔，各容纳腔连通于各气道，容纳腔用于容纳待测物料，各插孔连通于各容纳腔，温度感应组件包括多个温度探头，各温度探头插设于各插孔，用于检测各插孔对应的容纳腔内的待测物料的温度。采用本实施例的温度测试装置及温度测试系统，能够同时对多个光模块进行温度测试，测试效率较高，且热流仪的利用率较高。
温度测试装置系统

[发明专利]自动温度测试系统及温度测试方法-CN201110131633.2有效
发明人：刘彬;王文武;罗文东;庄宗仁;翁世芳 -专利权人：富泰华工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2011-05-20 - 公布日： 2012-11-21 - 主分类号： G01K13/00 文献下载
摘要：本发明提供一种自动温度测试系统，包括一支撑面承载待测物体；一摄像单元对放置有待测物体的支撑面进行拍摄；一主机单元接收该拍摄图像，并将该图像对应到一坐标系中，该图像中各个点分别对应该坐标系中一坐标；该主机单元还用于响应用户在拍摄图像上的某一位置的点选操作，确定该待测物体待测部位的坐标；一温度感测单元根据主机单元确定的待测部位的坐标对待测物体的待测部位进行温度测试。本发明还提供一种自动温度测试方法。本发明中的自动温度测试系统及温度测试方法测试结果准确，节省人力物力，且方便快捷。
自动温度测试系统方法

[实用新型]温度测试装置及温度测试系统-CN201821778059.3有效
发明人：何凯;彭荔枝;刘嫚 -专利权人：合肥京东方视讯科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2018-10-30 - 公布日： 2019-07-19 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种温度测试装置及温度测试系统，属于电路板设计领域。该温度测试装置包括：承载基台、承载支架、温度检测器和移动组件。该承载基台被配置为承载待测测的PCB，该承载支架的第一端与承载基台固定连接，第二端可以承载有温度检测器。该移动组件被配置为：在该PCB进行工作时，带动承载支架20的第二端移动，以使温度检测器对PCB上的各个待检测器件的工作温度进行检测。通过该温度测试装置可以实现对PCB上的各个待检测器件的工作温度进行自动检测，有效的提高了对PCB进行检测的检测效率。
温度测试装置温度检测器承载基台承载支架温度测试系统待检测器件移动组件检测承载本实用新型电路板设计自动检测第一端配置移动

[发明专利]设备温度的测试方法及温度测试系统-CN202111668484.3在审
发明人：梁雷;刘琦;付海军;姜海涛 -专利权人：北京康斯特仪表科技股份有限公司
申请日： 2021-12-31 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G01K13/00 文献下载
摘要：本申请给出了一种设备温度的测试方法及温度测试系统，包括设定校准温度点和验证温度点，在前校准中，控制标准温源的温度至所述校准温度点和所述验证温度点，获取标准温度传感器以及所述测量温度传感器的温度示值，之后，在设备测试中，当被测设备的温度稳定于所述校准温度点时，获取所述测量温度传感器以及所述被测设备的温度示值，再之后，后校准中，控制标准温源的温度至所述验证温度点，获取标准温度传感器以及所述测量温度传感器的温度示值，根据设备测试数据结果校准被测设备，根据前校准和后校准数据修正和验证设备测试数据，本方案既能使校准结果具有充分的可信度和可靠性，又能使校准作业时间尽可能短。
设备温度测试方法系统

[发明专利]光纤温度传感器、温度测试系统及温度测试方法-CN202310122532.1在审
发明人：陶青;吴晨辰;匡文祥;刘顿;陈列;杨奇彪;娄德元;成健 -专利权人：湖北工业大学
申请日： 2023-02-10 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G01K11/32 文献下载
摘要：本申请公开了光纤温度传感器、温度测试系统及温度测试方法。该光纤F‑P腔由单模光纤刻蚀制备而成。当光纤F‑P腔温度传感器的温度发生改变时，会导致光纤F‑P腔形貌发生变化，从而导致光谱信号发生偏移。通过确定光谱偏移与温度变化的实际关系，并将其转换为温度与波长偏移的线性关系，形成光纤F‑P腔温度传感器。本申请具有良好的光学性能、稳定性和体积小等优点，能够用于强电磁辐射、易燃易爆等场合下的高精度温度测量。
光纤温度传感器温度测试系统方法

[实用新型]芯片温度测试控制系统-CN202222480823.1有效
发明人：张佳天;雷垒;段波;魏启龙;陈勇;卢旭坤 -专利权人：东莞利扬芯片测试有限公司
申请日： 2022-09-19 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G05D23/20 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种芯片温度测试控制系统，其包括：ATC装置和温控装置，ATC装置包括ATC控制器、温度控制头以及温度检测器，温度控制头与测试芯片接触，ATC控制器用于根据测试温度值控制温度控制头将测试芯片的温度调节至测试温度，温度检测器用于检测测试芯片测试时的实时温度并将实时温度输出至ATC控制器；温控装置用于将测试温度值输入ATC控制器以及用于将ATC控制器反馈的实时温度与测试温度值进行比对，并将比对信息输出至ATC控制器；ATC控制器根据比对信息控制测试装置继续测试或暂停测试。本实用新型芯片温度测试控制系统能够在测试温度失准时能够及时地控制测试装置停止，有利于提升芯片温度测试的准确性并保护测试芯片。
芯片温度测试控制系统

[发明专利]温度测试系统、方法和装置及温度测试设备-CN201811295794.3在审
发明人：周伟 -专利权人： OPPO(重庆)智能科技有限公司
申请日： 2018-11-01 - 公布日： 2019-03-19 - 主分类号： G01K13/00 文献下载
摘要：本发明提出一种温度测试系统、方法和装置及温度测试设备，该温度测试系统包括控制终端、温度测试仪器和测试设备；所述控制终端用于控制温度测试仪器进行温度测试；所述温度测试仪器用于根据所述控制终端的控制，对所述测试设备内的被测设备进行温度测试；所述测试设备用于放置被测设备。通过本发明能够提升被测设备温度测试的有效性和准确性。
温度测试系统温度测试仪器被测设备测试设备控制终端温度测试温度测试设备方法和装置

[发明专利]温度测试系统-CN202011054214.9在审
发明人：李申;刘中鼎 -专利权人：上海兆芯集成电路有限公司
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2021-02-02 - 主分类号： G01K7/00 文献下载
摘要：一种温度测试系统，包括核心内温度感测组件以及核心外判读装置。核心外判读装置分时提供多个电流至核心内温度感测组件再至核心内地端。对应于上述多个电流，核心内温度感测组件产生多个电位并交由耦接核心外地端的核心外判读装置进行差值运算，以估算温度数据。
温度测试系统

[发明专利]温度测试设备-CN202310354542.8在审
发明人：杨建设;张雅凯 -专利权人：昆山思特威集成电路有限公司
申请日： 2023-04-04 - 公布日： 2023-07-04 - 主分类号： G01K1/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种温度测试设备，包括测试箱、测试治具、移动机构和控温系统，测试箱具有相互隔离的常温腔室和测试腔室，测试治具用于容纳待测产品，移动机构用于使所述测试治具在所述常温腔室和所述测试腔室之间移动，控温系统用于使所述测试腔室的温度保持在测试温度。本发明提供的温度测试设备，在对待测产品进行测试的过程中，操作人员不与测温腔室直接接触，全部操作均在常温腔室下进行，没有冻伤和烫伤风险，而且测试温度也较为准确，并且可以进行连续测试，测试效率较高。
温度测试设备

[发明专利]温度测试系统-CN201110429325.8无效
发明人：高志勇;刘玉林;张云飞 -专利权人：鸿富锦精密工业(武汉)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2011-12-20 - 公布日： 2013-06-26 - 主分类号： G01K13/00 文献下载
摘要：一种温度测试系统，用以对一恒温控制箱内不同点处的温度进行侦测，包括一开关模块、一控制模块、一感测模块、一解码模块和一显示模块，所述开关模块用以向控制模块输入测试指令以选择一测试点，所述感测模块根据该测试指令侦测恒温控制箱内相应测试点处的温度信号，并将侦测到的温度信号发送给所述控制模块，所述控制模块将接收到的温度信号转换为温度值输出给所述解码模块，所述解码模块接收相应测试点处的温度值，并将所述温度值解码成数字信号输出并显示在所述显示模块上。
温度测试系统

[实用新型]温度测试盒-CN201320707611.0有效
发明人：李良曙;李永干;许少华;黄斯;王文忠;孙海兴 -专利权人：焦作华飞电子电器股份有限公司
申请日： 2013-11-11 - 公布日： 2014-06-04 - 主分类号： G01K15/00 文献下载
摘要：一种温度测试盒，它包括加热板和万用表；其中，加热板与温度传感器安装探头的一面紧贴在一起；所述的加热板与电子温度数显表相连接；所述的万用表直接与温度传感器相连接。采用上述技术方案的本实用新型，能够更加准确的测试温度传感器的动作和复原温度，使检验员的工作效率得到提高。
温度测试

[实用新型]温度测试模块-CN202222405714.3有效
发明人：邱建国;赵宏波;杨磊;杜疆 -专利权人：新疆新风新能环保科技有限公司
申请日： 2022-09-09 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： G01K13/024 文献下载
摘要：本实用新型涉及温度测试领域，且公开了温度测试模块，包括外壳，所述外壳上开设有凹槽，所述外壳的内部设置有温控显示装置，所述外壳上开设有贯穿式的温度检测头，所述温控显示装置的检测端延伸到腔体的内部，所述外壳的内部有用于保护温控显示装置的海绵垫，该温度测试模块，通过设置了多组温度检测头,温度检测头检测下不同的温度数据，然后通过信息处理模块对数据进行接收，然后对数据进行统计以及分析，得出当前温度检测头检测下数据的平均值，得到更为准确的温度数据。
温度测试模块

[实用新型]温度测试设备-CN202320726984.6有效
发明人：杨建设;张雅凯 -专利权人：昆山思特威集成电路有限公司
申请日： 2023-04-04 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G01K1/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种温度测试设备，包括测试箱、测试治具、移动机构和控温系统，测试箱具有相互隔离的常温腔室和测试腔室，测试治具用于容纳待测产品，移动机构用于使所述测试治具在所述常温腔室和所述测试腔室之间移动，控温系统用于使所述测试腔室的温度保持在测试温度。本实用新型提供的温度测试设备，在对待测产品进行测试的过程中，操作人员不与测温腔室直接接触，全部操作均在常温腔室下进行，没有冻伤和烫伤风险，而且测试温度也较为准确，并且可以进行连续测试，测试效率较高。
温度测试设备

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