专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于分光路偏振调制的透射型偏振像差补偿装置-CN201610948254.5有效
  • 张磊;贺文俊;李亚红;刘智颖;付跃刚 - 长春理工大学
  • 2016-11-02 - 2018-01-16 - G02B27/28
  • 一种基于分光路偏振调制的透射型偏振像差补偿装置,属于偏振光学技术领域,为了克服现有偏振补偿装置存在通用性差和精度低的问题,将该装置插入到光学系统的平行路中,入射的平行光束经过偏振分束后分为TM波和TE波两支路,这两支路分别经过透射式纯位相液晶空间调制和透射式纯振幅液晶空间调制,一路入射到透射式纯位相液晶空间调制上,受到透射式纯位相液晶空间调制的位相调制,另一路入射到透射式纯振幅液晶空间调制上,受到透射式纯振幅液晶空间调制的振幅调制,再分别经过第一反射镜和第二反射镜后相互垂直地入射到消偏振分束上,由消偏振分束后出射,本发明结构简单,还有利于提高补偿精度。
  • 一种基于分光偏振调制透射补偿装置
  • [发明专利]基于透射式液晶空间调制波前校正的方法及装置-CN201610273347.2有效
  • 付跃刚;徐宁;林函;张光宇;王华林 - 长春理工大学
  • 2016-04-28 - 2023-04-07 - G02F1/13
  • 基于透射式液晶调制调整波前的方法及装置,解决现有技术对大口径望远镜等光学元件波前的校正困难的问题,ZYGO干涉仪、偏振片、透射式液晶空间调制、反射镜同轴依次排列,ZYGO干涉仪分别与控制和数据显示单元连接;ZYGO干涉仪、透镜、反射镜同轴依次排列,ZYGO干涉仪分别与控制和数据显示单元连接;孔径光阑、滤光片、偏振片、透射式液晶空间调制、透镜和CMOS传感同轴依次排列;CMOS传感与PC相连用于接收图片信息;透射式液晶空间调制与驱动电路相连,用于供电且传输信息,驱动电路与PC相连,用于将测得透射式液晶空间调制相位与灰度关系图呈现于透射式液晶空间调制上。
  • 基于透射液晶空间调制器校正方法装置
  • [实用新型]基于透射式液晶空间调制波前校正的装置-CN201620372481.3有效
  • 付跃刚;徐宁;林函;张光宇;王华林 - 长春理工大学
  • 2016-04-28 - 2016-10-05 - G02F1/13
  • 基于透射式液晶调制调整波前的装置,解决现有技术对大口径望远镜等光学元件波前的校正困难的问题,ZYGO干涉仪、偏振片、透射式液晶空间调制、反射镜同轴依次排列,ZYGO干涉仪分别与控制和数据显示单元连接;ZYGO干涉仪、透镜、反射镜同轴依次排列,ZYGO干涉仪分别与控制和数据显示单元连接;孔径光阑、滤光片、偏振片、透射式液晶空间调制、透镜和CMOS传感同轴依次排列;CMOS传感与PC相连用于接收图片信息;透射式液晶空间调制与驱动电路相连,用于供电且传输信息,驱动电路与PC相连,用于将测得透射式液晶空间调制相位与灰度关系图呈现于透射式液晶空间调制上。
  • 基于透射液晶空间调制器校正装置
  • [发明专利]基于空间调制的薄壁件加工误差测量装置的测量方法-CN201610351353.5有效
  • 吴石;王洋洋;刘献礼;王延福;朱美文 - 哈尔滨理工大学
  • 2016-05-25 - 2018-09-25 - B23Q17/20
  • 本发明涉及一种基于空间调制的薄壁件加工误差测量装置及测量方法。机械加工的薄壁件表面误差测量通常接触式测量,接触零部件表面,其测量移动速度较慢,无法测量小于侧头曲率半径的微观凹坑。本发明组成包括:一组测量装置(14),测量装置包括套筒(1),套筒上部通过螺栓与支撑装置(9)连接,支撑装置两端通过连接轴分别与2个调制卡夹紧装置(2)连接,调制卡夹紧装置内部分别安装有左液晶空间调制(3)、右液晶空间调制(8),左液晶空间调制、右液晶空间调制内表面分别安装有偏振片(7),套筒上方通过方形凹槽安装有数字相移干涉仪(6)。本发明用于基于空间调制的薄壁件加工误差测量装置。
  • 基于空间调制器薄壁加工误差测量装置测量方法
  • [实用新型]基于空间调制的薄壁件加工误差测量装置-CN201620482920.6有效
  • 吴石;王洋洋;刘献礼;王延福;刘海瑞 - 哈尔滨理工大学
  • 2016-05-25 - 2016-10-12 - B23Q17/20
  • 本实用新型涉及一种基于空间调制的薄壁件加工误差测量装置。机械加工的薄壁件表面误差测量通常接触式测量,接触零部件表面,其测量移动速度较慢,无法测量小于侧头曲率半径的微观凹坑。本实用新型组成包括:一组测量装置(14),测量装置包括套筒(1),套筒上部通过螺栓与支撑装置(9)连接,支撑装置两端通过连接轴分别与2个调制卡夹紧装置(2)连接,调制卡夹紧装置内部分别安装有左液晶空间调制(3)、右液晶空间调制(8),左液晶空间调制、右液晶空间调制内表面分别安装有偏振片(7),套筒上方通过方形凹槽安装有数字相移干涉仪(6)。本实用新型用于基于空间调制的薄壁件加工误差测量装置。
  • 基于空间调制器薄壁加工误差测量装置
  • [发明专利]一种基于末位淘汰GSGA算法的平顶光束整形方法-CN202310623490.X在审
  • 张祖兴;张昱冬;赵秋烨;吴政瑞 - 南京邮电大学
  • 2023-05-29 - 2023-10-13 - G02B27/09
  • 本发明属于平顶光束整形技术领域,公开了一种基于末位淘汰GSGA算法的平顶光束整形方法,半导体激光输出的基模光束通过信号输入接口与相位型液晶空间调制连接,计算机通过USB接口及HDMI接口与相位型液晶空间调制连接,计算机通过USB接口向调制传输相位分布信息,调制通过HDMI接口向计算机反馈整形后平顶光束振幅分布,相位型液晶空间调制通过光输出耦合输出整形后平顶光束空间。本发明中计算机利用全新的算法计算相位分布,通过相位型液晶空间调制对输入高斯光束进行整形,能够输出高能量利用率、高顶部均匀度的平顶光束。
  • 一种基于淘汰gsga算法平顶光束整形方法
  • [发明专利]液晶空间调制复合调制图激光扩束方法-CN201611031560.9在审
  • 齐冀;倪小龙;刘智;刘艺;姚海峰;蒋余成;宋卢军;张红玲;王素芬 - 长春理工大学
  • 2016-11-22 - 2017-02-22 - G02B27/09
  • 液晶空间调制复合调制图激光扩束方法属于激光扩束技术领域。现有技术在变焦的同时未能精确补偿变焦系统固有波前像差,光束质量较差。本发明之液晶空间调制复合调制图激光扩束方法采用的激光扩束系统由光源、偏振片、LCOS液晶空间调制和匹配透镜依次同轴排列构成,其特征在于,根据设定的扩束倍率范围,选定匹配透镜,计算数字透镜相位调制图;标定光源、匹配透镜的像差,计算像差补偿相位调制图;将所得数字透镜相位调制图和像差补偿相位调制图相加得到复合相位调制图;光源发出的激光经偏振片起偏为偏振,将所得复合相位调制图加载到LCOS液晶空间调制中,所述偏振入射LCOS液晶空间调制中,被调制后出射,出射光通过匹配透镜后输出。
  • 液晶空间调制器复合调制激光方法

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