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[实用新型]物体表面测量器-CN200720015716.4无效
发明人：张志宇 -专利权人：张志宇
申请日： 2007-11-06 - 公布日： 2008-07-30 - 主分类号： G01B3/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及测量器具。物体表面测量器，涉及卷尺，卷尺壳体一面为1/4圆量角器，量角器为两个直角边对应两个与直角边平行的对应直边，量角器圆心位置处装有转动指针。本实用新型将卷尺与量角器有机结合，卷尺的一个面上带有1/4圆量角器，配合以起到寻找重心作用的指针，利用量角器两个直角边或与两个直角边平行的两对应直边靠在被测面上，指针由于重力作用一直保持垂直状态，随着被测量面的角度变化能够自动读取角度数据四边刻度与直边呈倾斜角度的刻度，避免因尺子测量边宽度而带来的误差，直接标记所需角度位置。本实用新型成本低且操作方便。
物体表面测量器

[发明专利]一种高温环境下双波长剪切干涉测量物体表面曲率的方法-CN201210552766.1有效
发明人：冯雪;张长兴;董雪林 -专利权人：清华大学
申请日： 2012-12-18 - 公布日： 2013-04-24 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：一种高温环境下双波长剪切干涉测量物体表面曲率的方法，涉及高温下结构表面变形测量、光学实验技术领域。该方法构建双波长剪切干涉系统，在高温下测量物体表面曲率变化，排除高温下空气扰动对物体表面曲率测量的影响，利用所述双波长剪切干涉系统准确在高温环境下获取物体表面曲率形貌信息。该方法利用剪切干涉测量物体表面曲率，利用空气对不同波长光线的折射率不同，去除高温环境中空气扰动对测量结果影响。本发明结构简单，易于实现，解决了高温环境下空气扰动对光学测量物体表面曲率形貌的干扰问题，并可以实现全场实时在线测量物体表面曲率形貌。
一种高温环境波长剪切干涉测量物体表面曲率方法

[发明专利]一种采用多波长剪切干涉测量物体表面形貌的方法-CN201310123513.7有效
发明人：冯雪;张长兴;董雪林 -专利权人：清华大学
申请日： 2013-04-10 - 公布日： 2013-08-07 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：一种采用多波长剪切干涉测量物体表面形貌的方法，涉及被测物体表面形貌测量、光学实验技术领域。该方法利用多波长剪切干涉测量被测物体表面形貌，同时得到多个波长的激光干涉条纹图，利用这些干涉条纹图像得到被测物体表面的斜率、曲率分布和形貌。本发明装置简单，易于实现，较普通单个波长剪切干涉测量被测物体表面形貌精度大大提高，实现全场实时在线高精度测量被测物体表面形貌。
一种采用波长剪切干涉测量物体表面形貌方法

[发明专利]一种火焰烟雾环境下透过烟雾物体变形测量方法-CN201510056306.3有效
发明人：冯雪;张长兴;屈哲;苏红宏 -专利权人：清华大学
申请日： 2015-02-03 - 公布日： 2017-06-13 - 主分类号： G01B11/16 文献下载
摘要：一种火焰烟雾环境下透过烟雾的物体变形测量方法，属于结构变形测量和光测力学测量技术领域。本发明通过激光光源或窄带光源照射表面制备有高温反光镜面散斑的被测物体表面，用镜头带有滤光片的CCD相机透过火焰烟雾拍摄待测物体表面，获取物体表面镜面散斑模糊图像，通过相位恢复算法恢复出被测物体表面散斑未被火焰烟雾模糊的清晰原始图像，通过被测物体受热变形过程中的物体表面散斑形状轮廓变化计算得出物体表面变形，实现实时全场测量被测物体表面变形应变和位移。本发明解决了透过火焰烟雾对物体变形实时全场测量，可用于火焰烟雾环境下物体在受力或受热等导致变形甚至破坏过程中进行实时全场变形测量。
一种火焰烟雾环境透过物体变形测量方法

[发明专利]一种弹性物体表面张力测量头及测量仪-CN201610460515.9在审
发明人：雷蒙德伍;苏全新 -专利权人：深圳市大族三维科技有限公司
申请日： 2016-06-22 - 公布日： 2016-11-09 - 主分类号： G01N13/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种弹性物体表面张力测量头及测量仪，测量头包括变形部、测量部和变形量输出部；变形部包括负压腔、设置在负压腔上的测量端口和负压连接端口；测量部包括设置在变形部上的测距装置，测量弹性物体表面在变形部的测量端口产生的变形量；变形量输出部将测量部测取的弹性物体表面的变形量以测量者可获取的方式输出。测量仪包括负压发生装置和上述测量头，负压发生装置通过管道与测量头的负压连接端口连通。本发明采用负压装置对被测弹性物体表面进行吸附，通过对被测弹性物体表面变形量的测量，实现对被测弹性物体表面张力较为准确的测量，为弹性物体表面的研究和弹性改善提供了科学的依据；结构简单，使用操作简易方便。
一种弹性物体表面张力测量测量仪

[发明专利]一种基于红外点温仪的测温方法-CN202110743184.0在审
发明人：柴葳;宝剑光;张佳斌;郝庆瑞;张婕 -专利权人：中国飞机强度研究所
申请日： 2021-07-01 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本申请属于红外点温仪测温技术领域，具体涉及一种基于红外点温仪的测温方法，包括：测量样本物体表面的真实温度T样本；测得样本物体表面的辐射出度M样本；计算得到样本物体表面的真实发射率ε(λ,T样本)；建立样本物体表面的真实温度T样本与真实发射率ε(λ,T样本)间的对应关系；相应于样本物体表面的真实发射率ε(λ,T样本)，设定物体表面的发射率ε(λ,T物体)，以红外点温仪测量得到物体表面的测量温度T物体；若测量温度T物体偏离相应的真实温度T样本较大，则重新设定物体表面的发射率ε(λ,T物体)。
一种基于红外点温仪测温方法

[实用新型]一种基于三维测量技术的物体表面积快速测量系统装置-CN201620887434.2有效
发明人：刘家朋 -专利权人：上海汇像信息技术有限公司
申请日： 2016-08-16 - 公布日： 2017-04-05 - 主分类号： G01B11/28 文献下载
摘要：本实用新型提出了一种基于三维测量技术的物体表面积快速测量系统装置，具体包括三维测量与表面积计算子系统，控制子系统和机械机构子系统三个部分组成，通过对物体表面三维数据重建，完成物体表面积的准确测量，同时设计了一系列的快速处理流程同时扫描多个待测物体，采用多三维测量系统支持全方位三维数据同时采集，三维测量数据的一键扫描、一键优化，以及一键导出测量报告。本实用新型提出的物体表面积测量系统装置操作简单，能快速准确的完成测量任务，大大加快了物体表面积的检测测量流程。
一种基于三维测量技术物体表面积快速系统装置

[发明专利]一种物体表面测温方法、传感器、装置、电子设备及介质-CN202311001735.1在审
发明人：漆锐;段青松;谭庆;冯科;张建波;陈南菲;杨玉;邓惠丹 -专利权人：中冶赛迪工程技术股份有限公司;西安慧金科技有限公司
申请日： 2023-08-09 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G01K13/00 文献下载
摘要：本发明提供一种物体表面测温方法、传感器、装置、电子设备及介质，该方法包括获取工业工况下物体表面测温传感器多个历史测温时间的历史测量温度和被测物体的历史表面温度，拟合历史测温时间、历史测量温度和历史表面温度计算物体表面测温传感器的传热系数的值，输入传热系数的值至预设热传导关系式中，得到目标热传导关系式，采集物体表面测温传感器的当前测量温度和当前测量时间，基于当前测量温度、当前测量时间和目标热传导关系式得到被测物体的当前表面温度，基于历史表面温度和测量温度对物体表面测温传感器进行标定得到特定的目标热传导关系式，再基于目标热传导关系式得到准确的当前表面温度，本发明提供了一种在极端工况下准确测量物体表面温度的方法。
一种物体表面测温方法传感器装置电子设备介质

[实用新型]粗糙度或表面微结构轮廓测量仪-CN201320400993.2有效
发明人：乌尔里克·布莱特迈尔 -专利权人：布莱特迈尔测量技术有限责任公司
申请日： 2013-07-05 - 公布日： 2014-03-12 - 主分类号： G01B11/14 文献下载
摘要：实用新型涉及一种用于测量待测物体的待测物体表面(9)的粗糙度或表面微结构轮廓的测量仪。该测量仪包括：壳体(1)；测量探测器，该测量探测器包括探测杆(4)，在该探测杆上固定有表面探测体(10)，用于检测待测物体表面(9)的粗糙度或表面微结构轮廓；进给装置，用于使表面探测体(10)沿着移动路径在探测路径长度上运动；用于检测表面探测体(10)相对于待测物体表面(9)的位置的测量系统(6)；驱动、数据采集和/或评价电子装置(12)和/或计算机接口；和间距测量系统(3)，用于检测在表面探测体(10)和待测物体表面之间的距离或者用于检测壳体或测量探测器或保护体相对于待测物体表面
粗糙表面微结构轮廓测量仪

[发明专利]物体表面形貌测量方法-CN200710201200.3有效
发明人：刘庆;李军旗;中川威雄 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2007-07-27 - 公布日： 2009-01-28 - 主分类号： G01B21/20 文献下载
摘要：本发明公开一种物体表面形貌测量方法，包括以下步骤：(1)提供测量装置，该测量装置包括测量端子、传感器及与传感器相连的处理装置，测量端子可沿第一方向移动，传感器用于感测测量端子的位移；(2)将测量端子靠近被测物并使之与被测物表面接触，且将该位置下测量端子与被测物的接触点在处理装置内记录下来；(3)驱动测量端子运动使其与被测物的接触点运动至另一位置，传感器感测测量端子在第一方向的位移动并传送给处理装置，处理装置记录该位置坐标；(4)
物体表面形貌测量方法

[发明专利]用于借助电磁射束检测物体表面的设备和方法-CN201910643145.6有效
发明人： A.贝切;D.贝克曼 -专利权人：卡尔蔡司工业测量技术有限公司
申请日： 2019-07-16 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：一种用于检测物体表面的设备和方法。该设备具有：射束产生装置，其具有至少一个射束源且被配置成使具有第一波长的第一电磁射束和具有第二波长的第二电磁射束照射到物体表面的至少一个待测量的测量点上或照射到物体表面的待测量区域上，待测量区域具有至少一个待测量的测量点，射束产生装置被配置成在第一波长与第二波长之间的波长范围中不使射束或不使用于表面检测的射束照射到物体表面的待测量的测量点上或区域上；检测装置，其被配置成针对待测量的测量点或针对这些待测量的测量点分别检测至少一个第一测量值和至少一个第二测量值，第一测量值基于从物体表面反射的、具有第一波长的射束，第二测量值基于从物体表面反射的、具有第二波长的射束。
用于借助电磁检测物体表面设备方法

[发明专利]一种空间二维平面动态温度采集方法-CN202011107040.8在审
发明人：叶小萌;杨洁 -专利权人：武汉博联特科技有限公司
申请日： 2020-10-16 - 公布日： 2021-03-02 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种空间二维平面动态温度采集方法，通过红外反射镜将物体表面的红外辐射反射至红外测温传感器的测温头，通过转动红外反射镜，调整红外测温传感器测量物体表面不同点的温度。本发明通过红外反射镜将物体表面的红外辐射反射至红外测温传感器，在红外测温传感器不动的情况下，通过调整红外反射镜的角度，将物体表面不同区域的红外辐射反射至红外测温传感器，从而实现快速准确测量物体表面不同位置温度变化，为实现区域测温提供了准确的温度反馈信息，降低了测量成本，提高了测量的准确度，测量更全面。解决了现有技术测量物体表面不同位置的温度时，测量不够准确和全面，不能实现区域测温(特别是异形区域)，且测量成本高的问题。
一种空间二维平面动态温度采集方法

[发明专利]用于地震探测的改善的干涉测量方法和干涉测量仪-CN200980113317.3无效
发明人： P·梅尔达尔;E·维克哈根 -专利权人：斯塔特伊公司
申请日： 2009-02-25 - 公布日： 2011-04-13 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：用于研究物体表面的干涉测量仪，该干涉测量仪包括：产生相干光的物光束的光源；产生与物光束相干的参比光束的光源；以及一个探测器或设置成阵列的多个探测器；其中该干涉测量仪如此设置以致于物光束是发散或基本准直的；以及其中，在使用中：发散或基本准直的物光束被导向物体表面以便产生从物体表面反射的反射物光束；探测器聚焦到位于物体表面之下的一点上；以及反射物光束与参比光束结合并由探测器进行探测。还提供了用于对物体表面进行干涉测量的相应方法。物体表面可以是海床，以及该干涉测量仪可用于响应于地震事件来研究海床上的微粒运动。
用于地震探测改善干涉测量方法测量仪

[发明专利]在机床上测量的方法以及相应的机床设备-CN201811375373.1有效
发明人：迈克尔·伍尔德里奇;保罗·穆尔;约翰·奥尔德 -专利权人：瑞尼斯豪公司
申请日： 2013-04-16 - 公布日： 2021-10-08 - 主分类号： B23Q17/20 文献下载
摘要：一种方法，其应用安装在机床上的模拟探针扫描物体，以便沿着物体表面上的名义测量线收集扫描的测量数据，所述模拟探针具有优选的测量范围。所述方法包括控制所述模拟探针和/或物体以便根据相对运动路线执行扫描操作，所述相对运动路线被构造成使得基于物体表面的假设特性，将使所述模拟探针沿着所述物体表面上的名义测量线获得在其优选测量范围内的数据，并且使得所述模拟探针移出其优选测量范围
机床测量方法以及相应机床设备

[发明专利]在机床上测量的方法以及相应的机床设备-CN201380024772.2有效
发明人：迈克尔·伍尔德里奇;保罗·穆尔;约翰·奥尔德 -专利权人：瑞尼斯豪公司
申请日： 2013-04-16 - 公布日： 2018-12-07 - 主分类号： G01B21/04 文献下载
摘要：一种方法，其应用安装在机床上的模拟探针扫描物体，以便沿着物体表面上的名义测量线收集扫描的测量数据，所述模拟探针具有优选的测量范围。所述方法包括控制所述模拟探针和/或物体以便根据相对运动路线执行扫描操作，所述相对运动路线被构造成使得基于物体表面的假设特性，将使所述模拟探针沿着所述物体表面上的名义测量线获得在其优选测量范围内的数据，并且使得所述模拟探针移出其优选测量范围
机床测量方法以及相应机床设备

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