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- [实用新型]波面聚光片-CN01200550.9无效
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唐世杰
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唐世杰
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2001-01-12
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2001-10-31
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G02F1/1335
- 一种波面聚光片,该聚光片主要包含一基片及一波面细条层,基片设有一上表面及一底表面,该基片可供光线穿过;波面细条层也设有一上表面及一底表面,可供光线穿过;该波面细条层的上表面排列有数个波面细条,该波面细条层在灌模形成而未固化时,将上述基片表面粘贴于该数个波面细条的底层以形成一波面聚光片。因此,该波面细条层表面与基片表面共同形成该波面聚光片的上表面及底表面。
- 聚光
- [发明专利]波面计测装置和波面计测方法-CN201580077921.0有效
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佐藤阳辅
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奥林巴斯株式会社
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2015-03-27
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2019-08-30
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G01M11/00
- 波面计测装置(1)具有光源部(2)、保持部(3)、受光光学系统(4)、波面测定部(5)、波面数据生成部(6),光源部(2)配置在计测轴(7)的一侧,波面测定部(5)配置在计测轴(7)的另一侧,保持部(3)配置在光源部(2)与波面测定部(5)之间,受光光学系统(4)配置在保持部(3)与波面测定部(5)之间,保持部(3)具有保持被检光学系统(10)的开口部(9),从光源部(2)朝向被检光学系统(10)照射光束(L1),利用波面测定部(5)测定透射过被检光学系统(10)的光束(L3),利用波面数据生成部(6),根据由波面测定部(5)测定出的结果生成波面像差数据,其中,通过受光光学系统(4),开口部(9)附近和波面测定部
- 波面计测装置方法
- [发明专利]基于四光束干涉的波面位相测量方法-CN201410468786.X有效
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刘克;李艳秋
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北京理工大学
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2014-09-15
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2017-03-29
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G01J9/02
- 本发明提供一种基于四光束干涉的波面位相测量方法,具体过程为在待测光波波前所在的平面上设置分波面元件,所述分波面元件上的每个子孔径内设有四个通光圆孔A、B、C和D,其中通光圆孔A的圆心位于子孔径的中心上,通光圆孔B、C和D的圆心间隔120°均布在通光圆孔A的同心圆上;光电传感器采集光波经分波面元件后所形成光场的干涉图样,并将其存储于存储器中;根据第i个子孔径内的干涉图样,运算器计算待测光波波前在所述分波面元件第i个子孔径内以波面x和y方向上斜率、曲率以及混合曲率值表征的波面位相分布。利用该方法能够获得各个子孔径内以波面x和y方向上斜率、曲率以及混合曲率值表征的波面位相信息,从而实现高阶像差的精确测量。
- 基于光束干涉位相测量方法
- [发明专利]缺陷检查装置和缺陷检查方法-CN201010267184.X无效
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谭小地
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索尼公司
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2010-08-27
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2011-04-13
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G01N21/88
- 该缺陷检查装置包括:光源,其发射激光;反射镜组,其将所述光源发射的入射激光的波面分割为多个分量波面,将所述分量波面排列为形成朝着一个方向的阵列,并在所述激光通过移动的被测物体之后使所述分量波面对齐,形成单个波面;干涉仪,其将所述单个波面分割为两个分波面,产生干涉条纹;摄像部,其获得由所述干涉仪产生的所述干涉条纹的图像;以及分析部,其根据所述干涉条纹的图像随时间的改变,检测在移动的所述被测物体的表面上存在的缺陷
- 缺陷检查装置方法
- [发明专利]一种波面轴装置及使用方法-CN201110349252.1无效
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纪云龙
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纪云龙
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2011-11-08
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2012-03-28
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F16C35/10
- 本发明涉及一种机械轴及使用方法,特别涉及一种发动机曲轴以及压盖式凸轮轴的波面轴装置及使用方法。其技术方案是:主要由波面轴和轴瓦组成,所述的波面轴由轴主体和波浪结构组成,轴主体的外侧设为波浪结构,所述的波浪结构与轴瓦上的波浪结构相配合使用,所述的轴瓦的中段设有润滑油进油道,润滑油在波面轴和轴瓦之间的间隙中运动润滑有益效果是:由于采用波浪结构的轴,润滑油可以对轴实现全方位的润滑,通过油压变大产生阻力对波面轴施加反向作用力,使波面轴反向运动,减少对轴瓦和波面轴两端的止推片的磨损,实现真正意义的零磨损。
- 一种波面轴装置使用方法
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