专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2020-05-22 公布专利
2020-05-19 公布专利
2020-05-15 公布专利
2020-05-12 公布专利
2020-05-08 公布专利
2020-05-05 公布专利
2020-05-01 公布专利
2020-04-28 公布专利
2020-04-24 公布专利
2020-04-21 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]检测装置、检测设备及检测方法-CN201911120945.6在审
  • 河南- 富泰华精密电子(郑州)有限公司
  • 2019-11-15 - 2020-04-10 - G01B11/06
  • 本申请公开了一种检测装置,包括:检测器,用于发射及获得介质,以获得检测信息;控制器,与所述检测器耦接,用于:控制所述检测器向工件发射所述第一介质;获得所述检测器的初始信息;获得检测信息,所述检测信息形成于所述检测器对所述第二介质、所述第三介质的获得;根据所述初始信息及所述检测信息,计算所述工件的平面度和厚度。本申请还提出了一种检测设备,包括检测装置及安装治具。本申请还提出了一种检测方法,包括:向工件发射第一介质;获得检测信息;根据所述初始信息及所述检测信息,计算所述工件的平面度和厚度。本申请操作简单、检测效率高,实现自动化作业且检测精度高。
  • 检测装置设备方法
  • [发明专利]检测装置、检测方法和检测组件-CN01800044.4无效
  • --- OHT株式会社
  • 2001-02-09 - 2002-07-10 - G01R31/02
  • 本发明提供了一种按照完全非接触检测方式,对导电图形实施检测检测装置、检测方法和检测组件。所述对回路基板上的导电图形实施非接触式检测用的检测方法,是将若干个具有导电性的单元,按照相互隔离方式沿着回路基板上的所述导电图形实施配置,并且可以通过向至少一个所述单元供给随时间变化的检测信号,不使用引线销针而对导电图形实施检测信号的供给,通过供给检测信号,借助导电图形,测出出现在其它所述单元处的输出信号,依据测出的所述输出信号,对所述导电图形实施检测
  • 检测装置方法组件
  • [发明专利]检测方法、检测装置和检测系统-CN201110080727.1有效
  • 广东- 华为技术有限公司
  • 2011-03-31 - 2011-08-03 - H04W24/02
  • 本发明公开了一种检测方法、检测装置和检测系统。该检测方法包括:向检测单元发送射频端口查询命令;接收该检测单元根据该射频端口查询命令发送的射频端口信息;通过将该射频端口信息与待检测射频端口的预设信息进行比较,确定该射频端口的连接是否正确。该检测装置包括:发送模块、接收模块和确定模块。该检测系统包括:查询单元、检测单元和传输单元。本发明的检测方法、检测装置和检测系统,能够在主设备上电前方便且快捷地检测天线设备的射频端口连接情况,由此能够缩短施工时间,减小维护成本。
  • 检测方法装置系统
  • [发明专利]检测系统、检测方法以及检测装置-CN200710104792.7无效
  • 中国台湾- 联发科技股份有限公司
  • 2007-04-27 - 2008-04-02 - H04N7/26
  • 检测系统、检测方法以及检测装置,其中该检测系统为一种检测符号流中规律出现的符元(pattern)值的系统:包括检测器、第一存储器与第二存储器、第一指针与第二指针以及处理器。检测器将检测比特与预定值执行比较,并且当接收信号等于预定值时产生检测信号。第一存储器阵列具有K个存储单元,且第二存储器阵列具有W个存储单元。第一指针依序循环的指向第一存储器阵列中的每个存储单元。当接收到检测信号时,将第一指针或第二指针所指的存储单元的计数值增加1。处理器根据第一存储器阵列与第二存储器阵列的计数值判断是否检测到规律出现的符元(pattern)值。
  • 检测系统方法以及装置
  • [发明专利]检测装置、检测模块及检测方法-CN201610837553.1在审
  • 台湾- 亿观生物科技股份有限公司
  • 2016-09-21 - 2017-03-29 - G01N15/02
  • 本发明提供一种检测装置,用以检测流体内的待测物。检测装置包括影像提取单元、至少一个透镜、检测区以及光源。影像提取单元具有至少一个镜头。检测区位于景深区内,且检测区被配置为被流体所通过。光源沿第二光轴发射光束至景深区且至少部分照亮检测区。影像提取单元提取经过检测区的待测物所反射、折射或激发的至少部分光束,以形成至少一个待测物影像。
  • 检测装置模块方法

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