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[实用新型]层板样品处理夹具-CN201921815424.8有效
发明人：刘登平 -专利权人：麦可罗泰克（常州）产品服务有限公司
申请日： 2019-10-24 - 公布日： 2020-07-07 - 主分类号： B25B11/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种层板样品处理夹具，包括固定板和连接组件，固定板成对设置，固定板的两端均固定连接有连接组件，且两个固定板通过两端连接组件固定连接，且固定板的上部设有卡槽单元且每个卡槽单元包括若干宽度不一的卡槽实用新型在固定板上设置多个卡槽单元，且每个卡槽单元具有多个规格的卡槽，这样就能夹装多种不同宽度层板，而且连接组件由传统的扎带和金属螺丝改为现在的由多个柱形螺丝首尾相接成的结构更加稳定耐用，也能方便调节两个固定板间的间距，来适应层板规格。
样品处理夹具

[发明专利]一种微流控芯片及其制备方法与应用-CN201910918314.2有效
发明人：黄巍;李丽军 -专利权人：南方科技大学
申请日： 2019-09-26 - 公布日： 2021-09-14 - 主分类号： B01L3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种微流控芯片及其制备方法与应用，其中，所述微流控芯片包括样品分散层以及层叠设置在所述样品分散层上方的样品入口层，所述样品分散层包括依次层叠设置的若干个样品分散子层，所述样品入口层上设置有样品滴加孔，所述样品分散子层上均设置有与所述样品滴加孔相对应的样品接收孔，所述样品分散子层上均设置有若干个样品分散孔，所述样品分散孔与所述样品接收孔之间设置有预设的样品通道。本发明提供的微流控芯片，只需在所述微流控芯片的样品滴加孔中对应加入待分析样品，便可在微流控芯片内部自动实现按照试验方案的样品组合，完成样品组合的添加，大大减少了出错的概率，并且更加方便、快速、准确。
一种微流控芯片及其制备方法应用

[发明专利]一种样品表面微纳米膜层高温相变的原位测量方法-CN201911142344.5有效
发明人：崔喜平;姚尧;王孝君;吕洋;郜闹闹;丁浩;张圆圆;黄陆军;耿林 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2019-11-20 - 公布日： 2022-05-17 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本发明提供了一种样品表面微纳米膜层高温相变的原位测量方法，包括步骤一、微纳米膜层样品预处理：将微纳米膜层材料切割成方形样品，保持样品表面清洁无污染；步骤二、微纳米膜层样品安装：将微纳米膜层样品置于自制专用加热样品台上，专用加热样品台由PID加热台加热，PID加热台由蓄电池供电；步骤三、样品表面微纳米膜层的温度校准；步骤四、样品表面微纳米膜层的常温XRD图谱采集；步骤五、样品表面微纳米膜层的高温XRD图谱原位测量。本发明能够实现样品表面微纳米膜层高温相变的原位测试，且能精确获得样品表面微纳米膜层材料的相变规律。
一种样品表面纳米高温相变原位测量方法

[发明专利]一种失效定位方法-CN202210185334.5在审
发明人：陈强;高金德 -专利权人：上海华力集成电路制造有限公司
申请日： 2022-02-28 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种失效定位方法，提供含有失效后段结构的芯片样品；对芯片样品进行去层次，暴露出需要分析的金属层；在芯片样品表面沉积一层覆盖所述金属层的金属导电层；去除芯片样品表面覆盖在金属层上的所述金属导电层的部分，将金属层露出；在芯片样品表面沉积一层覆盖露出的金属层以及剩余的金属导电层的非导电保护层；对芯片样品制备包含金属层、金属导电层以及非导电保护层的TEM薄片样品；对TEM薄片样品进行VC分析，锁定断路位置；对TEM薄片样品上的断路位置进行分析。本发明解决了微小缺陷造成的金属后段断路问题无法定位分析的困难，并且可以在失效定位后，不需再加工样品，直接进行TEM分析，极大地提高了分析的成功率和质量。
一种失效定位方法

[实用新型]一种检验科样本处理器-CN202120397182.6有效
发明人：张松云;宁友银 -专利权人：张松云
申请日： 2021-02-23 - 公布日： 2021-09-28 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种检验科样本处理器，包括样品盒、样本处理器主体、处理台和样品盒放置组件，样本处理器主体的底部安装有底柱，样品盒放置组件的内部设置有活动板，活动板的内部设置有防腐蚀层，连接层的一侧设置有弹性层，样品盒放置组件的内侧设置有放置板。本实用新型通过将样品盒放入样品盒放置组件内，活动板采用防腐蚀层、弹性层、透气层和加固层多层设计，通过防腐蚀层防止样品盒内的样品溅出腐蚀活动板，通过弹性层可缓冲在处理过程中样品盒的震动，通过样品盒放入样品盒放置组件时，根据样品盒的尺寸活动板向两侧移动，方便样品盒的拆装和使用，需要将其清洗时，直接抽出样品盒即可，提高了样品盒的清洗效率。
一种检验样本处理器

[发明专利]碳酸盐岩孔隙系统的多尺度表征方法及装置-CN201811450625.2有效
发明人：张天付;熊冉;王莹;韦东晓;付小东;李东;曹鹏;黄理力 -专利权人：中国石油天然气股份有限公司
申请日： 2018-11-30 - 公布日： 2022-10-04 - 主分类号： G01N15/08 文献下载
摘要：所述方法包括：分析碳酸盐岩储层，确定所述碳酸盐岩储层的储层类型及孔隙类型；根据所述碳酸盐岩储层的储层类型及孔隙类型，选取储层样品；对所述储层样品进行孔隙定量表征，确定样品孔隙特征；判断所述样品孔隙特征是否满足预设条件；若否，则更新所述储层样品并确定更新后的储层样品对应的样品孔隙特征，直至所述样品孔隙特征满足预设条件；其中，所述更新后的储层样品尺度小于更新前的储层样品尺度。本发明通过对碳酸盐岩储层中的孔隙系统进行多尺度的表征，可以适应于不同类型的孔隙，同时提高了表征结果的代表性。
碳酸盐孔隙系统尺度表征方法装置

[发明专利]一种应用于FIB加工及分析的样品结构及其制备方法-CN202211674996.5在审
发明人：陳弘仁;黄斐暄;张演锋;許凱迪 -专利权人：闳康科技（厦门）有限公司
申请日： 2022-12-26 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G01N23/2202 文献下载
摘要：本发明公开了一种应用于FIB加工及分析的样品结构及其制备方法，属于FIB加工及分析技术领域，包括第一金属层、第二金属层和样品，所述样品背面黏贴在所述第一金属层表面，所述第二金属层局部覆盖在所述样品正面使所述样品正面用于FIB分析加工区域露在外部；将样品背面固定在第一金属层表面；对样品正面进行研磨，使其达到适当厚度；在样品正面局部覆盖第二金属层，以用于FIB分析加工。本发明采用第一金属层和第二金属层将样品固定在中间，并使样品待分析或加工区域露在外部，从而使变形卷取的薄膜样品平坦固定于基座上，满足了FIB加工或分析的需要。
一种应用于 fib 加工分析样品结构及其制备方法

[发明专利]样品的表征方法-CN202210571405.5在审
发明人：张云静;石泉;刘军;李国梁;魏强民 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2022-05-24 - 公布日： 2022-08-19 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：公开了一种样品的表征方法，包括：对样品进行电子能量损失谱分析，获得所述目标层的第一电子能量损失谱；根据第一电子能量损失谱的零损谱获得所述样品目标层的相对厚度；对样品进行X方向切片，获得样品的真实厚度；根据样品目标层的相对厚度和真实厚度计算平均自由程本申请样品的表征方法，通过样品目标层的第一电子能量损失谱的零损谱以及样品的真实厚度，获得样品目标层的平均自由程，然后根据平均自由程获得样品目标层的其他表征参数。
样品表征方法

[实用新型]一种扫描电镜用工作效率高的批量处理样品篮-CN202221248530.4有效
发明人：王力轻 -专利权人：上海埃泽思生物科技有限公司
申请日： 2022-05-24 - 公布日： 2023-01-06 - 主分类号： G01N23/2204 文献下载
摘要：本实用新型涉及电子显微镜技术领域，且公开了一种扫描电镜用工作效率高的批量处理样品篮，包括支撑杆，所述支撑杆的内部开设有凹槽，所述支撑杆上安装有样品层，所述样品层的上方设置有连接在支撑杆上的盖体，所述样品层上设置有样品放置篮，所述样品层的右侧开设有弧形槽，所述样品层的底部连接有分隔层。该扫描电镜用工作效率高的批量处理样品篮，通过将四个样品层活动连接在支撑杆上，并且通过在样品层的内部设置样品放置篮，使得该样品篮最多能够一次性容纳四十八个样品，解决现有样品篮容量小的问题，节省实验时间，提高实验效率
一种扫描电镜用工效率批量处理样品

[发明专利]一种环保电镜样品储存盒-CN201710864206.2在审
发明人：石志祥;刘括;张佳为;刘蔚阳;申伟刚 -专利权人：河北工程大学
申请日： 2017-09-22 - 公布日： 2018-02-02 - 主分类号： B65D81/18 文献下载
摘要：本发明涉及储存盒，具体涉及一种环保电镜样品储存盒，包括盒体、盒盖和样品盒，盒体内壁设有温湿度控制仪，温湿度控制仪与电线的一端相连，电线的另一端设有电源插头，盒体内底部中心设有立柱，样品盒底部设有活性炭层，活性炭层上设有滤纸层，滤纸层上设有样品层，样品层中均匀分隔有分类样品盒，分类样品盒内设有样品池，样品盒上设有样品盒盖，样品盒中心设有与立柱配合的圆孔，样品盒通过圆孔依次套在立柱上，本发明所提供的技术方案制备工艺简单，成本低廉；可大量分类储存电镜样品，避免交叉污染，方便寻找；可实时控制样品储存的温度和湿度，有效保护样品；以及可有效吸附电镜样品残留的有机溶剂，避免污染环境。
一种环保样品储存

[实用新型]一种环保电镜样品储存盒-CN201721221168.0有效
发明人：石志祥;高政;闫珊珊;薄朋慧;沈阳 -专利权人：河北工程大学
申请日： 2017-09-22 - 公布日： 2018-05-25 - 主分类号： B65D81/18 文献下载
摘要：本实用新型涉及储存盒，具体涉及一种环保电镜样品储存盒，包括盒体、盒盖和样品盒，盒体内壁设有温湿度控制仪，温湿度控制仪与电线的一端相连，电线的另一端设有电源插头，盒体内底部中心设有立柱，样品盒底部设有活性炭层，活性炭层上设有滤纸层，滤纸层上设有样品层，样品层中均匀分隔有分类样品盒，分类样品盒内设有样品池，样品盒上设有样品盒盖，样品盒中心设有与立柱配合的圆孔，样品盒通过圆孔依次套在立柱上，本实用新型所提供的技术方案制备工艺简单，成本低廉；可大量分类储存电镜样品，避免交叉污染，方便寻找；可实时控制样品储存的温度和湿度，有效保护样品；以及可有效吸附电镜样品残留的有机溶剂，避免污染环境。
样品盒电镜样品储存盒立柱温湿度控制仪本实用新型分类样品活性炭层滤纸层样品层圆孔电线避免污染底部中心电源插头分类储存盒体内壁交叉污染均匀分隔实时控制样品储存有机溶剂制备工艺样品池盒盖盒体套在吸附环保残留体内配合

[实用新型]一种气体取样探头-CN201821520218.X有效
发明人：方兴铭 -专利权人：烟台欧鹏防爆仪器有限公司
申请日： 2018-09-17 - 公布日： 2019-05-14 - 主分类号： G01N1/24 文献下载
摘要：本实用新型涉及防爆取样装置技术领域，尤其涉及一种气体取样探头，包括：采样管、样品气处理管道，采样管位于样品气处理管道的一端，样品气在样品抽吸泵的作用下由采样管进入样品气处理管道，并由样品气处理管道的另一端作为样品采样口输出；样品气处理管道外壁包覆电加热层，在电加热层外包覆封胶层、封胶层外包覆石棉层，石棉层外包覆防爆外壳，电加热层用于对样品气升温；样品气处理管道内设置有过滤器，过滤器用于过滤所述样品气中的粉尘，由于该电加热层设置在内部，与外界环境隔绝，不仅不受外界环境中冷热交替的变化的影响，对样品气升温效率提高，而且，电加热产生的电火花也不会引起外界气体的爆炸，有效保证安全性。
样品气电加热层采样管外包覆过滤器气体取样封胶层石棉层探头电火花本实用新型受外界环境防爆外壳管道外壁取样装置外界环境外界气体采样口抽吸泵电加热交替的包覆防爆冷热粉尘过滤输出爆炸保证

[发明专利]一种储层伤害程度的测定方法及设备-CN201610825940.3有效
发明人：刘玉婷;卢拥军;王明磊;邱晓惠;管保山;刘萍;翟文 -专利权人：中国石油天然气股份有限公司
申请日： 2016-09-14 - 公布日： 2022-02-01 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明提供一种储层伤害程度的测定方法以及设备，所述方法包括：获取储层的岩心样品；基于CT扫描确定所述岩心样品的孔隙度；获取所述储层的浸泡样品，所述浸泡样品是所述岩心样品经压裂液破胶液浸泡后得到的；基于CT扫描确定所述储层的浸泡样品的孔隙度；根据所述岩心样品的孔隙度以及所述浸泡样品的孔隙度测定所述储层的伤害程度。实现了定量直观分析储层伤害程度，对致密储层、页岩储层日益增多现状下的石油开采提供了数据支持。
一种伤害程度测定方法设备

[发明专利]检测半导体器件的金属互连层的方法-CN201010153877.6有效
发明人：段淑卿;芮志贤;范荣;龚斌;王玉科 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2010-04-13 - 公布日： 2011-10-19 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供了一种检测半导体器件的金属互连层的方法，该方法包括：在具有金属互连层的半导体器件上要制作样品的区域内电镀铂Pt层；采用聚焦离子束FIB方式在半导体器件的金属互连层表面进行样品区域的切割，得到样品区域结构；对样品区域结构进行底部脱离后，从两边将样品的Pt层切断，在样品两边裸露出金属互连层；采用FIB方式对样品区域结构的厚度减薄及使得裸露出金属互连层中的金属互连线切断，得到样品；对得到的样品采用透射电子显微镜TEM进行检测，确定该样品代表的金属互连层是否为设计的结构。本发明提供的方法可以使得检测的样品结构准确的代表金属互连层结构。
检测半导体器件金属互连方法

[发明专利]一种TEM样品制备方法-CN201510266340.3有效
发明人：何明;郭炜;孔云龙 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2015-05-22 - 公布日： 2019-10-18 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明提供一种TEM样品制备方法，包括以下步骤：提供一TEM预备样品，在所述TEM预备样品的目标区域上方制备一缓冲层；在所述TEM预备样品表面形成一金属保护层，得到TEM样品，其中，所述金属保护层覆盖所述缓冲层本发明的TEM样品制备方法中，由于目标区域上方有缓冲层，用离子束沉积金属保护层不会对样品表面造成任何损伤，保证了目标的完整性和分析结果的可靠性。同时，本发明可通过热处理使缓冲层熔化并与样品紧密结合，该热处理温度不超过样品本身的耐受温度，不会对样品造成损害。
一种 tem 样品制备方法

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