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专利名称
农业 化学；冶金 建筑 机械工程 区域搜索
主分类
A 农业
B 作业；运输
C 化学；冶金
D 纺织；造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]面向星敏感器地面测试与验证的杂光抑制系统-CN201810896527.5有效
  • 汪洪源;王秉文;武少冲;颜志强;刘祥;康文;魏政 - 哈尔滨工业大学
  • 2018-08-08 - 2021-05-07 - G01C25/00
  • 面向星敏感器地面测试与验证的杂光抑制系统，涉及杂光抑制技术领域。本发明是为了在星敏感器系统地面在轨测试与验证时，对环境中杂光进行抑制。本发明一次杂光抑制结构为顶端封闭、侧壁上设有开口的圆筒形，内表面均匀排布有多个圆锥消光结构，二次杂光抑制结构为弧形结构，二次杂光抑制结构的凹面均匀排布有多个圆锥消光结构，星敏感器位于一次杂光抑制结构内部，光源发出的不同角度的入射光经过一次杂光抑制结构的开口入射至星敏感器上，星敏感器的视场经一次杂光抑制结构的开口后指向二次杂光抑制结构的凹面，一次杂光抑制结构、二次杂光抑制结构和光源均位于光学暗室内。
  • 面向敏感地面测试验证抑制系统
  • [发明专利]一种光学系统杂光抑制角室内测试系统-CN202010405987.0有效
  • 刘石 - 长春理工大学
  • 2020-05-14 - 2022-07-08 - G01M11/02
  • 本发明公布了一种光学系统杂光抑制角室内测试系统，由杂光室、杂光模拟器、杂光窗口、光学暗室、工况模拟器、环境杂光抑制器和多维调整机构组成；其中，杂光模拟器发出的光经过杂光窗口进入被测光学系统，工况模拟器与被测光学系统同轴通过多维调整机构改变被测光学系统与杂光模拟器之间的光轴夹角α，从而改变杂光对被测光学系统的影响，进而实现被测光学系统杂光抑制角的室内测试。
  • 一种光学系统抑制室内测试系统
  • [发明专利]杂光检测方法、装置、存储介质与电子设备-CN202011079536.9有效
  • 邵明天 - OPPO（重庆）智能科技有限公司
  • 2020-10-10 - 2023-06-02 - H04N17/00
  • 本公开提供一种杂光检测方法、杂光检测装置、计算机可读存储介质与电子设备，涉及杂光检测技术领域。该杂光检测方法应用于具有摄像模组的终端设备，包括：接收所述控制端的控制操作，依据所述控制操作通过所述摄像模组拍摄得到多组测试光源的光源图像；将所述光源图像发送至所述控制端，以使所述控制端计算所述光源图像中杂光的杂光度，并在所述杂光度达到预设阈值时，标记所述杂光对应的所述摄像模组的位置。本公开可以实现全面排查终端设备摄像头杂光，获取更全面的杂光场景，同时还可以克服通过人工判断的弊端。
  • 检测方法装置存储介质电子设备
  • [发明专利]杂光检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质-CN202110199781.1在审
  • 文逸春 - 南昌欧菲光电技术有限公司
  • 2021-02-22 - 2021-05-28 - G06T7/00
  • 本申请提供一种杂光检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。所述杂光检测方法包括以下步骤：获取摄像模组在遮光处理后拍摄的图片，其中所述摄像模组内设有发光件；选取所述图片中的采样区域；基于所述发光件的不同发光状态分别测试所述采样区域的感度值；基于所述采样区域的所述感度值判断所述采样区域是否存在杂光；基于所述采样区域的杂光分布状况及相应位置判断杂光的产生位置。上述的杂光检测方法可确认采样区域是否存在杂光，进而基于采样区域的杂光分布状况及相应位置确认杂光的位置和路径，此方法检测效率高、检测准确率高，且操作简单。
  • 检测方法装置电子设备计算机可读存储介质
  • [发明专利]一种消光装置-CN202010214025.7在审
  • 李百慧;孟晓东;郭银博;李秀红;韩振宇 - 河南中原光电测控技术有限公司
  • 2020-03-24 - 2020-06-09 - G01N21/01
  • 本发明涉及一种消光装置，属于能见度测量技术领域。消光装置包括消光筒和消光空心球，消光筒包括用于使杂散光进入的入射口、用于使杂散光进行多次反射的消光筒壁、以及用于使杂散光输出的出射口；消光空心球与消光筒光密封连接。本发明的消光装置可以用于能见度测量中消耗杂散光的强度，以实现对杂散光的吸收，该消光装置将杂散光吸收后可以避免并减少杂散光进入接收端，避免其对测量结果的影响，提高能见度测量结果的准确性，而且通过消光装置，
  • 一种装置
  • [实用新型]一种光调制结构-CN202122716046.1有效
  • 王少永;惠旅锋 - 苏州苏信环境科技有限公司
  • 2021-11-08 - 2022-04-19 - G02B5/02
  • 本实用新型公开了一种光调制结构，包括光发射装置和杂散光抑制结构，杂散光抑制结构具有用于光束传播的通孔，通孔内壁上具有对杂散光进行吸收和反射的凹陷，或通孔内壁连通用于困住杂散光的空间，或通孔内壁上具有凹陷和空间，以有效抑制杂散光。所述光调制结构的杂散光抑制结构能够有效吸收或反射杂散光，对杂散光的抑制效果更好，经所述光调制结构出射的光束杂散光更少，有利于提高采用所述光调制结构的光学测量装置的精度。
  • 一种调制结构
  • [实用新型]一种摄像头模组杂光测试箱-CN202221974223.4有效
  • 万文文;龚循泉;艾应成 - 江西联益光学有限公司
  • 2022-07-28 - 2023-01-03 - H04N17/00
  • 本实用新型涉及摄像头测试技术领域，具体涉及到一种摄像头模组杂光测试箱，包括箱体、测试光源、测试治具、杂光测试盒，所述箱体为不透光的封闭式箱体，所述箱体的前侧设置有可开闭的放料门，所述杂光测试盒设置在箱体内，所述测试治具设置在杂光测试盒上，所述测试光源设置在箱体上。本实用新型的箱体采用不透光的封闭式箱体，以防止环境光干扰，测试更为准确，通过可开闭的放料门以打开箱体放置摄像头模组，通过测试治具放置摄像头模组，以连接摄像头模组和杂光测试盒，通过测试光源向摄像头模组发出测试光，通过杂光测试盒对摄像头模组进行杂光测试，以便在隔绝环境光干扰下完成对摄像头模组的杂光测试。
  • 一种摄像头模组测试
  • [发明专利]杂散光的评估方法及其系统-CN200710161266.4有效
  • 张铨仲;吴宜玲;曹孝岳 - 财团法人工业技术研究院
  • 2007-09-25 - 2009-04-01 - G02B27/00
  • 一种杂散光的评估方法与杂散光测量系统。其中杂散光测量系统的光源可分别位于待测光学元件或待测光学系统的光轴上与光轴外。杂散光的评估方法包括得到第一光扩展函数与第二光扩展函数，另外，将第一光扩展函数与第一光扩展函数进行相关运算，以得到第一相关函数，并且将第一光扩展函数与第二光扩展函数进行相关运算，以得到第二相关函数。再者，依据第一相关函数与第二相关函数得到杂散光系数或杂散光分布函数。因此即可依据杂散光系数或杂散光分布函数评估光学元件或光学系统的杂散光情形。
  • 散光评估方法及其系统
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