专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]图像有效区域扫描装置-CN201220223172.1有效
  • 杨逸 - 成都方程式电子有限公司
  • 2012-05-18 - 2013-06-05 - G06T7/00
  • 本实用新型提出的图像有效区域扫描装置,包括待搜索图像获取装置,用于获取一幅待搜索图像;垂直方向边缘坐标获取装置,与待搜索图像获取装置相连,用于获得待搜索图像的垂直方向边缘坐标;水平方向边缘坐标获取装置,与待搜索图像获取装置相连,用于获得待搜索图像的水平方向边缘坐标;图像有效区域确定装置,与垂直方向边缘坐标获取装置和水平方向边缘坐标获取装置相连,用于确定图像有效区域
  • 图像有效区域扫描装置
  • [发明专利]一种带电粒子束设备的扫描规划方法、装置及设备-CN201911025050.4有效
  • 刘骊松;何志勇 - 上海精测半导体技术有限公司
  • 2019-10-25 - 2020-12-04 - G06T5/30
  • 本发明实施例公开了一种带电粒子束设备的扫描规划方法、装置及设备,该方法包括:获取待扫描区域图形并形成二值化图像,探测二值化图像的联通域并为联通域标记标签值;在联通域的内部及周边填充点阵,点阵包括多个呈阵列排布的等间距的束斑,束斑的直径设置为带电粒子束的能量有效覆盖范围的最大尺寸;对联通域进行形态学腐蚀运算以得到有效扫描区域;确定有效扫描区域内的全部束斑的中心点的坐标信息,以获得有效扫描区域扫描点位置信息。本发明实施例通过形态学腐蚀运算得到有效扫描区域,并将中心点位于有效扫描区域内的全部束斑的中心点位置确定为扫描点,从而避免了计算束斑的面积,简化了确定扫描位置的算法,同时保证了高覆盖率。
  • 一种带电粒子束设备扫描规划方法装置
  • [发明专利]一种具有扫描移动条码功能的设备-CN201710625949.4有效
  • 陆再政 - 丰翼科技(深圳)有限公司
  • 2017-07-27 - 2023-09-29 - G06K17/00
  • 本发明公开了一种具有扫描移动条码功能的设备,包括条码扫描装置及用于传送物品的输送装置;所述条码扫描装置设置于输送装置的上方,所述条码扫描装置包括至少一个循环运行的扫描单元,所述扫描单元在有效扫描区域内与待测物品同步移动并采集条码信息,在无效扫描区域内加速通过并返回有效扫描区域与待测物品同步移动。能够实现每个扫描单元速度的独立控制,使扫描单元以不同速度通过扫描区域和非扫描区域,在较少扫描单元个数的情况下不影响扫描效率,提高了每个扫描单元的使用频率。
  • 一种具有扫描移动条码功能设备
  • [实用新型]一种具有扫描移动条码功能的设备-CN201720925899.7有效
  • 陆再政 - 顺丰科技有限公司
  • 2017-07-27 - 2018-03-30 - G06K17/00
  • 本实用新型公开了一种具有扫描移动条码功能的设备,包括条码扫描装置及用于传送物品的输送装置;所述条码扫描装置设置于输送装置的上方,所述条码扫描装置包括至少一个循环运行的扫描单元,所述扫描单元在有效扫描区域内与待测物品同步移动并采集条码信息,在无效扫描区域内加速通过并返回有效扫描区域与待测物品同步移动。能够实现每个扫描单元速度的独立控制,使扫描单元以不同速度通过扫描区域和非扫描区域,在较少扫描单元个数的情况下不影响扫描效率,提高了每个扫描单元的使用频率。
  • 一种具有扫描移动条码功能设备
  • [发明专利]一种AOI特殊扫描作业的方法-CN202011549759.7在审
  • 刘磊;高美山;姜红涛 - 江苏汇成光电有限公司
  • 2020-12-24 - 2021-04-23 - G01N21/95
  • 本发明公开了一种AOI特殊扫描作业的方法,所述AOI特殊扫描作业包括以下步骤:步骤一:AOI扫描对比,所述AOI扫描对比包括基准点对位和原始文件与生产文件对比,所述述原始文件和生产文件对比包括根据PCB设计和进行原始文件拼板,在调整前,对扫描区域进行全面扫描(不区分PL区域);步骤二:扫描结果分区域检验;步骤三:使用Edit Map进行调整;步骤四:作业流程对比;步骤五:根据客户不同检验需求可调整Map分特殊区域作业;步骤六:针对Map框选有效区域扫描作业;步骤七:AOI扫描最终结果。该AOI特殊扫描作业的方法,能够作业模式多元化,可对Wafer进行分区域扫描,针对异常区域扫描有效节省时间,提高效率,可满足客户不同检验需求。
  • 一种aoi特殊扫描作业方法

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