专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果4572个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]一种基于Cesium的日照时长分析方法及系统-CN202311175640.1在审
  • 刘宏磊;刘池凯;杨健 - 吉奥时空信息技术股份有限公司
  • 2023-09-13 - 2023-10-20 - G06T15/00
  • 本发明提供一种基于Cesium的日照时长分析方法及系统,方法包括:根据在Cesium中设置的日照时长分析时间信息,在GPU中逐帧计算日照率,对每帧计算得到的日照率进行累加操作,并将最终计算的日照率打包到颜色值中,保存到日照率帧缓存中;基于日照率帧缓存中的日照率,计算分析区域内的日照时长信息,并将分析区域内的日照时长信息打包到颜色值中,保存到日照时长帧缓存中;将日照时长帧缓存中的日照时长信息输出到图片上,得到日照时长分析图本发明提出的方法,Cesium基于WebGL技术进行图形渲染,其可利用GPU进行加速运算,这就为快速进行日照时长分析提供了技术的土壤。
  • 一种基于cesium日照分析方法系统
  • [发明专利]实时日照检测方法及系统-CN202111336167.1在审
  • 倪钰翔;李星星 - 南京路法斯邦科技有限公司
  • 2021-11-12 - 2021-12-21 - G01W1/12
  • 本发明提供一种实时日照检测方法及系统。本发明首先计算每一时间间隙下目标建筑物的日照条件,以棒影光线集的形式进行记录。然后按照建筑物的日照测算点,分别将棒影光线集调用至各日照测算点位置,根据棒影光线集中光线是否被障碍物遮挡而实现对日照时间的标记。最后,按照规定的计算方式,对各日照测算点的有效日照时间进行统计,获得各日照测算点的日照时长。本申请所采用的棒影光线集中的光线,不仅匹配于目标建筑物的日照方位,还同时兼顾对不同日照时间间隙进行标记,能够直接通过光线是否被障碍物遮挡而获得不同日照时间间隙下日照测算点的实时光照情况,灵活按照日照时长计算方式的要求准确实现对有效日照时长的统计
  • 实时日照检测方法系统
  • [发明专利]建筑模型的日照分析方法-CN201711131979.6有效
  • 赵国庆;管发海;刘万明;张帅;滕媛媛 - 苏州联讯图创软件有限责任公司
  • 2017-11-15 - 2021-03-12 - G06F30/20
  • 本发明提供一种建筑模型的日照分析方法,包括:步骤1、导入一建筑模型;提供一经验数据库;步骤2、选取其中一个区域,生成日照因子参数表;步骤3、将前述区域的日照因子参数表和经验数据库做比对,判断是否存在具有参考意义的日照因子参数表:如果存在,判定符合标准;如果不存在,调用一日照分析软件,根据日照因子参数表分析日照,并将分析结果与该区域对应的日照标准做比对,判断是否符合标准;重复步骤2~3,直至完成该建筑模型所有待分析日照情况区域的日照分析本发明能够结合日照分析软件和历史经验数据,快速实现对新的建筑模型的日照分析,确认一栋建筑设计是否符合日照标准规范,同时,提供历史经验以快速修改不符合规范的部分。
  • 建筑模型日照分析方法
  • [实用新型]日照传感器及日照测量装置-CN201521012625.6有效
  • 梁楠;张洪敏;张伟;王巍;安浩平;吴顺利 - 河南省科学院应用物理研究所有限公司
  • 2015-12-08 - 2016-04-20 - G01J1/42
  • 本实用新型公开了一种日照传感器,包括:遮光板,包括日照面和背光面;光电转换电路,包括设置于所述遮光板日照面的、用于感应所述遮光板日照面的光照辐射的第一光敏电阻,以及设置于所述遮光板背光面的、用于感应所述遮光板背光面的光照辐射的第二光敏电阻本实用新型还公开一种包括上述日照传感器的日照测量装置。所述日照传感器通过光敏电阻感应光照辐射,所述日照测量装置基于日照面和背光面的光照强度差进行日照检测,相比于传统暗筒式日照计,能够提高对日照时数的测量精度,实现了高精度自动化观测,可应用于构建气象物联网。
  • 日照传感器测量装置
  • [发明专利]一种日照温度概率密度的测定方法-CN201210552128.X有效
  • 丁幼亮;王高新;宋永生 - 东南大学
  • 2012-12-18 - 2013-04-10 - G01K3/00
  • 本发明公开了一种日照温度概率密度的测定方法,包括如下步骤:步骤10):采集日照温度样本:将温度传感器配接到温度采集系统中,然后利用温度传感器对测点的日照温度进行采集,形成日照温度样本;步骤20):确定日照温度样本中各温度值对应的累加概率值:对日照温度样本的累加分布特性进行分析,确定日照温度样本中各温度值对应的累加概率值;步骤30):对日照温度样本的累加分布特性进行拟合;步骤40):测定日照温度样本的概率密度。该测定方法可以准确测定日照温度的概率密度。
  • 一种日照温度概率密度测定方法
  • [发明专利]基于傅立叶级数和ARMA模型的日照温度时程模拟方法-CN201310500042.7有效
  • 王高新;丁幼亮;宋永生 - 东南大学
  • 2013-10-22 - 2014-01-22 - G06F19/00
  • 本发明公开了一种基于傅立叶级数和ARMA模型的日照温度时程模拟方法,包括如下步骤:步骤10)采集日照温度样本:将温度传感器配接到温度采集系统中,然后利用温度传感器对测点的日照温度进行采集,形成日照温度样本;步骤20)确定日照温度样本的日变化特征曲线:利用日照温度样本的日变化特征规律,采用3阶傅里叶级数对其进行表达;步骤30)确定日照温度样本的年变化特征曲线:采用ARMA(p,q)模型对日照温度样本的典型年变化曲线进行拟合;步骤40)在此基础上进行日照温度样本的时程模拟。该模拟方法可有效解决日照温度采集数据严重不足的难题,为日照温度在各学科领域中的研究提供重要支持。
  • 基于傅立叶级数arma模型日照温度模拟方法

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top