专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]光谱测量系统-CN202022997830.X有效
  • 周安萌 - 科大讯飞股份有限公司
  • 2020-12-10 - 2021-10-08 - G01J3/28
  • 本实用新型提供一种光谱测量系统,所述光谱测量系统包括:探测测量装置,所述测量装置与所述探测电连接,所述测量装置用于驱动所述探测测量目标光谱信息;温控装置,所述温控装置与所述探测连接,所述温控装置用于控制所述探测的温度本实用新型提供的光谱测量系统,通过设置测量装置来驱动探测稳定工作,通过设置温控装置来控制探测的温度,能够降低探测测量噪声,提高信噪比,从而提高测量精度。
  • 光谱测量系统
  • [发明专利]光电探测校准装置及其校准方法-CN201110204041.9有效
  • 宋平;马明英 - 上海微电子装备有限公司
  • 2011-07-20 - 2013-01-23 - G03F7/20
  • 一种光电探测校准装置及其校准方法,包括分光棱镜,位于光电探测上方,所述光电探测位于工件台上,照明光通过所述分光棱镜分为第一测量光和第二测量光;绝对探测,位于所述分光棱镜一侧,第二测量光入射到所述绝对探测,第一测量光入射到光电探测;处理单元,用于对所述绝对探测测得的第二测量光光强和所述光电探测测得的第一测量光光强进行计算,建立所述光电探测和所述绝对探测的关系,校准所述光电探测的增益和偏置。本装置及方法操作简单、减小人为因素对光刻机内部的环境污染,提高测试准确性;绝对探测和校准探测测量的光为同一束光,避免了由于光源的波动性出现透过率变化的情况,从而提高了测量准确性。
  • 光电探测器校准装置及其方法
  • [发明专利]一种诊断反应堆中子探测失效的方法-CN201610471993.X有效
  • 吴宏春;李茁;曹良志;郑友琦 - 西安交通大学
  • 2016-06-24 - 2017-08-25 - G21C17/00
  • 一种诊断反应堆中子探测失效的方法,通过对探测测量值的直接比较法、测量值间比较法、测量值与响应重构值比较法分三个阶段对探测测量值进行失效诊断;三种判断方式的结合使用使得本发明所描述的探测失效诊断方法不仅可以对探测完全失效进行有效诊断,同时可以对探测测量值偏离正常值的失效做出准确诊断,并具备区分探测失效及局部功率振荡的能力;通过去除失效探测测量值,保证堆芯功率分布在线监测系统不使用故障探测测量值,为在线监测系统提供可靠输入参数;本发明中探测失效诊断方法不受探测类型、在线监测方法、探测失效类型的限制,失效诊断用时短、诊断迅速、诊断结果准确可靠。
  • 一种诊断反应堆中子探测器失效方法
  • [发明专利]三维测量单元和测量探测的识别方法-CN201810654941.5有效
  • 日高和彦;吉谷里志 - 株式会社三丰
  • 2018-06-22 - 2020-11-13 - G01B21/00
  • 提供一种三维测量单元和测量探测的识别方法。在具备测量探测(300)和根据测量探测(300)的输出运算被测量物(W)的形状坐标的处理装置(400)的三维测量装置(100)中,测量探测(300)具有第一识别码(330),处理装置(400)具备:第一判定部(431),其判定从测量探测(300)输出的第一识别码(330)是否与特定码(MC)匹配;以及后级判定部(435),其在由第一判定部(431)判定为第一识别码与特定码匹配且测量探测(300)还具有第二识别码(340)时,确定从测量探测(300)输出的第二识别码(340)来识别测量探测(300)。由此,能够高效地识别多个测量探测
  • 三维测量单元探测器识别方法
  • [发明专利]一种探测及漫透射比测量系统-CN201310629713.X无效
  • 冯国进 - 中国计量科学研究院
  • 2013-11-29 - 2014-02-26 - G01N21/01
  • 本发明提供了一种探测及漫透射比测量系统,该探测应用于漫透射比测量系统中,所述漫透射比测量系统包括所述探测、光源系统、分光系统和电控装置,所述电控系统与所述探测、光源系统、分光系统相连并提供电源,所述探测为圆形,且所述探测的内表面被光电探测完全覆盖。使用本发明提供的探测测量得到的准确度可以独立与材料自身特性,且能够极大提高测量的精度。
  • 一种探测器透射测量系统
  • [发明专利]光扩散散射特性测量装置及其方法-CN200910199203.7有效
  • 蔡燕民 - 上海微电子装备有限公司
  • 2009-11-20 - 2011-05-25 - G01M11/02
  • 本发明涉及光扩散散射特性测量装置及其方法,用于光刻投影物镜像差在线测量和原位测量的光扩散的散射特性参数测量,该测量装置包括光源、照明物镜、光扩散运动平台、探测探测运动平台和探测读数装置;所述光源、照明物镜、光扩散运动平台和探测运动平台依次排列;所述探测设置在探测运动平台上;被测光扩散设置在光扩散运动平台上;所述探测读数装置的输入端与探测的输出端连接;所述光源、照明物镜、被测光扩散探测同光轴设置本发明的光扩散散射特性测量装置及其方法,对光扩散的各个散射特性参数都能进行测量,实现了一台测量装置多种测量功能。
  • 扩散器散射特性测量装置及其方法
  • [发明专利]调焦调平测量装置及方法-CN201610379004.4有效
  • 程琦;陈飞彪;吴旭婷 - 上海微电子装备(集团)股份有限公司
  • 2016-05-31 - 2019-10-25 - G03F9/00
  • 本发明公开了一种调焦调平测量装置及方法,所述调焦调平测量装置设置有测量光束和第一监测光束,所述测量光束对硅片测量后入射到测量探测,在所述测量探测中形成测量标记;所述第一监测光束入射到所述测量探测,在所述测量探测中形成第一监测标记。本发明的技术方案,通过测量光路对硅片测量后在测量探测中形成测量标记,通过第一监测光路在所述测量探测中形成第一监测标记,将所述测量标记的位移量减去所述第一监测标记的漂移量作为硅片的垂向位置,使硅片的测量结果补偿了由于测量探测自身漂移造成的测量误差,对测量探测自身漂移进行监测和校正,提高了测量精度和稳定性。
  • 调焦测量装置方法
  • [实用新型]一种海底电磁测量-CN201420046488.7有效
  • 付佳 - 付佳
  • 2014-01-25 - 2014-08-06 - E21B47/13
  • 一种海底电磁测量仪,包括测量仪外壳、温度探测、伽马探测、纵向探测、横向探测、下横向探测和连接杆。所述测量仪外壳内顺次安装连接有伽马探测、横向探测、下横向探测、纵向探测和温度探测,所述伽马探测、纵向探测、横向探测、下横向探测和温度探测通过连接杆顺次串联在一起。本实用新型具有功能多,不仅可以探测套管内壁的变形、裂缝、孔洞、断裂位置,还可以准确判断套管外部的损坏变化情况、结构简单、操作方便、成本低廉、准确率高、自动化程度高等特点,广泛在石油开采井套损检测工艺工具中应用
  • 一种海底电磁测量仪
  • [实用新型]一种风压探测数值检测装置-CN202122792760.9有效
  • 刘森;田智嘉;刘晓鹏 - 应急管理部沈阳消防研究所
  • 2021-11-16 - 2022-05-10 - G01L27/00
  • 本实用新型涉及风压检测技术领域,尤其涉及一种风压探测数值检测装置。其包括迎着风向依次设置在风道内部的风机、待测风压探测、风压自动测量机构和整流机构,待测风压探测和风压自动测量机构紧邻设置,通过风压自动测量机构测量的数值与待测风压探测测量的数值进行比较,以得到待测风压探测测量的数值是否准确本实用新型通过风压自动测量机构测量的数值与待测风压探测测量的数值进行比较,进而可以检测待测风压探测测量的数值是否准确。
  • 一种风压探测器数值检测装置

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