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[发明专利]一种光纤宏弯损耗测试工装及其测试方法-CN201810083838.X在审
发明人：柴雪峰;耿培恒;曹珊珊;刘志忠;王震;徐海涛 -专利权人：中天科技光纤有限公司;江东科技有限公司;江苏中天科技股份有限公司
申请日： 2018-01-29 - 公布日： 2019-08-06 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种光纤宏弯损耗测试工装及其测试方法，属于光纤测试领域。所述光纤宏弯损耗测试工装，包括多个测试组件，所述多个测试组件的每个包括传动机构、光纤绕柱，所述多个测试组件中的多个光纤绕柱具有不同的直径，所述传动机构用于带动所述光纤绕柱移动。本发明实现了对光纤持续进行不同弯曲半径的宏弯损耗测试，并且结构简单，操作方便，效率高，可广泛应用于光纤测试领域。
光纤宏弯损耗测试工装测试组件光纤绕柱光纤测试测试宏弯损耗移动应用

[实用新型]变压器损耗参数测试装置-CN202222708031.5有效
发明人：管印超;王艳辉;张建民 -专利权人：保定市超人电子有限公司
申请日： 2022-10-14 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种变压器损耗参数测试装置，包括变压器损耗参数测试仪本体、顶部开口的长方体箱体和用于封盖箱体的箱盖，其中，所述箱体内底部设置有散热风扇，散热风扇上方设置有与箱体固定连接的撑板，撑板上均匀开设有透气孔；所述箱体的开口上围设有围框；所述变压器损耗参数测试仪本体设置在围框和撑板之间且变压器损耗参数测试仪本体上的面板通过围框外露；所述围框和箱体之间的四个角以及撑板和箱体之间的四个角设置有与变压器损耗参数测试仪本体上端的四个角和下端的四个角对应设置且过盈配合的橡胶缓冲角垫本实用新型不但能有效防止变压器损耗参数测试仪受磕碰，还能提高变压器损耗参数测试仪的散热效果。
变压器损耗参数测试装置

[发明专利]功率器件损耗测试方法-CN201710475446.3有效
发明人：张兴;冯之健;王佳宁;许明明;韦武 -专利权人：合肥工业大学
申请日： 2017-06-21 - 公布日： 2019-08-09 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明公开的一种功率器件损耗测试方法。该方法包括如；(1)损耗校正实验，用来绘制实际工作环境下待测功率器件随温差变化的损耗曲线；(2)实际电路测试，令待测功率器件正常工作，根据实际测得的温差值对应损耗校正实验得到的曲线，得到待测功率器件的功率值该方法在实际工况下获得损耗值，能够满足和适应任何工况下的测试需求，且不存在由于电气测量设备(如示波器)精度和延迟造成的测量误差，且测试结果去除了环境温度和起始温度变化不稳定的影响，可以得到准确的功率器件损耗数据
功率器件损耗测试校正测试需求电气测量实际电路实际工况损耗数据温差变化示波器延迟测量绘制测试

[发明专利]一种PCB损耗测试方法-CN201911040069.6在审
发明人：谢健鸿;陈钟俊;李艳国;王国 -专利权人：广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司
申请日： 2019-10-29 - 公布日： 2020-01-21 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种PCB损耗测试方法，涉及PCB测试技术领域。方法包括：选取PCB板上长度不等的第一传输线和第二传输线；用线缆连接网络分析仪和电子标准件校准线缆；在第一传输线的两端连接第一SMA夹具测试模块，在第二传输线的两端连接第二SMA夹具测试模块；将SMA连接器连接到第一SMA夹具测试模块，将线缆连接到SMA连接器，通过读取网络分析仪的读数获取第一传输线的损耗值；将SMA连接器连接到第二SMA夹具测试模块，将线缆连接到SMA连接器，通过读取网络分析仪的读数获取第二传输线的损耗值；根据第一传输线的损耗值和第二传输线的损耗值计算PCB损耗。依照上述测试方法大大提高了测试效率，节省了人力物力，并且测量的损耗值结果准确度高，误差在±5％内。
传输线夹具测试线缆连接读取网络分析结果准确度网络分析仪标准件测试效率长度不等人力物力损耗测试校准线缆测量测试

[实用新型]一种用于测量电缆介质损耗的震荡波检测仪-CN202121304254.4有效
发明人：张兴庆 -专利权人：南京旻投电力科学研究院有限公司
申请日： 2021-06-10 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于测量电缆介质损耗的震荡波检测仪，涉及电缆检测装置技术领域，其技术要点：包括基座，基座上设有电缆震荡波局放综合测试仪，电缆震荡波局放综合测试仪顶部设有电缆介质损耗测试装置，基座上设有内部中空的壳体，电缆震荡波局放综合测试仪与电缆介质损耗测试装置位于壳体内，壳体两侧设有电缆接线夹；本实用新型设置电缆介质损耗测试装置，增加对电缆的检测项目，以增加用户对电缆测试的全面性。
一种用于测量电缆介质损耗震荡检测

[发明专利]一种无线充电系统磁耦合机构部件损耗分离测量评估方法-CN202310261045.3在审
发明人：宋凯;兰宇;姜金海;孙传禹;张子明;桑林;王可;张振军;张萱;李旭玲 -专利权人：哈尔滨工业大学;南瑞集团有限公司
申请日： 2023-03-17 - 公布日： 2023-07-14 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明提出一种无线充电系统磁耦合机构部件损耗分离测量评估方法。所述方法通过直接或间接的方法分别得到线圈、磁芯与铝屏蔽板的损耗，用以验证损耗的理论计算模型，指导无线充电产品设计。对比传统的拆解测试，可以在几乎不影响磁耦合机构耦合特性参数的情况下完成损耗测试，测试结果更加准确。
一种无线充电系统耦合机构部件损耗分离测量评估方法

[发明专利]LTE-V2X外场性能测试场景合格的判断方法及装置-CN201711350899.X有效
发明人：杜昊;郭伟斌;许瑞琛;吕玉琦;王筠婷;李晓帆;张莎 -专利权人：深圳无线电检测技术研究院;国家无线电监测中心检测中心
申请日： 2017-12-15 - 公布日： 2021-08-31 - 主分类号： H04W24/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种LTE‑V2X外场性能测试场景合格的判断方法与装置。其中，LTE‑V2X外场性能测试场景合格的判断方法包括：响应输入的待测试的外场测试场景的场景类型，获取场景类型下的最小路径损耗值；获取信号源在待测试的外场测试场景的第一预定位置发送的标准调制信号以及接收机在待测试的外场测试场景的第二预定位置接收的信号源数据；根据标准调制信号和信号源数据，获取在待测试的外场测试场景下的实际路径损耗值；判断实际路径损耗值是否大于或等于最小路径损耗值，如果是，则判定待测试的外场测试场景合格，否则，判定待测试的外场测试场景不合格
lte v2x 外场性能测试场景合格判断方法装置

[发明专利]一种OPGW中损耗事件的识别方法及系统-CN201911284572.6在审
发明人：张云峰;续晓光;王景田;黄华林;唐洲;任晓林 -专利权人：国网西藏电力有限公司
申请日： 2019-12-13 - 公布日： 2020-05-08 - 主分类号： H04B10/071 文献下载
摘要：一种OPGW中损耗事件的识别方法及系统，涉及电力通信领域，包括步骤：S1.收集OPGW的光时域反射曲线，并标记损耗事件位置；S2.将收集的标记有损耗事件位置的光时域反射曲线作为样本集，并将样本集分为训练集和测试集两部分，通过训练集训练机器学习模型，采用测试集对训练完成的机器学习模型进行测试；S3.将待分析的光时域反射曲线输入到测试通过的机器学习模型，输出该OPGW对应的损耗事件信息；S4.根据损耗事件位置的周期性和设定的强度阈值剔除所述损耗事件信息中的正常损耗事件信息，以确定该OPGW中的非正常损耗事件。本发明可通过机器学习模型，并结合OPGW的特性准确的识别损耗事件。
一种 opgw 损耗事件识别方法系统

[发明专利]一种检测过孔损耗的方法及系统-CN201710105109.5有效
发明人：王素华 -专利权人：郑州云海信息技术有限公司
申请日： 2017-02-25 - 公布日： 2021-04-09 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明涉及电子技术领域及信号测量领域，公开了一种检测过孔损耗的方法，包括以下步骤：确定被测传输线的型号参数、过孔数目、长度数值及测试频率值；根据所述长度数值及所述测试频率值，获取所述被测传输线在所述测试频率值下的损耗值；根据所述长度数值及所述损耗值，计算得到所述被测传输线在测试频率下的过孔损耗值。还公开了一种检测过孔损耗的系统，包括：确定模块，获取模块和计算模块。本发明通过此检测方法可以快速，精确地获取在不同频率下过孔损耗值，且得到的过孔损耗值具有代表性和全面性。
一种检测损耗方法系统

[发明专利]一种测试高损耗电介质材料微波介电性能的方法-CN201210275053.5有效
发明人：李雷;陈湘明 -专利权人：浙江大学
申请日： 2012-08-03 - 公布日： 2012-11-28 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试高损耗电介质材料微波介电性能的方法。该方法中使用小尺寸待测试样，并引入大尺寸、低损耗参考试样，从而减小待测试样高损耗的贡献、确保能观测到谐振峰。根据谐振腔中只放置参考试样及同时放置参考试样和待测试样时TE01δ模式谐振峰的变化，用有限单元分析模拟两种情况下电磁场的分布，即可得到待测试样在谐振频率处的介电常数和介电损耗。该方法利用了微波谐振法测试精度高的特性，并考虑了待测试样的引入对电磁场分布的影响，故可从测试原理上克服已有其它方法精度低的缺陷，实现高损耗材料微波介电性能的精确测试。同时，谐振频率主要由尺寸较大的参考试样决定，故可通过改变参考试样的介电常数或尺寸实现变频测试。
一种测试损耗电介质材料微波性能方法

[发明专利]一种CVT电容介损及电容量的测试方法-CN201810038192.3有效
发明人：朱启龙;马宏明;钱国超;邹徳旭;颜冰 -专利权人：云南电网有限责任公司电力科学研究院;云南电网有限责任公司红河供电局
申请日： 2018-01-16 - 公布日： 2020-07-17 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种CVT电容介损及电容量的测试方法，微分电流传感器钳接在CVT的高压引流端，带屏蔽测试线分别连接微分电流传感器和所述全自动抗干扰介质损耗测试仪；高压试验测试线分别连接全自动抗干扰介质损耗测试仪的高压测试端和CVT的高压端子，CVT的低压端子接地；第一CVT自激法二次加压线连接全自动抗干扰介质损耗测试仪的低压测试端和CVT的da端，第二CVT自激法二次加压线连接全自动抗干扰介质损耗测试仪的接地端和CVT的dn采用微分电流传感器采集CVT主电容的电流，结合全自动抗干扰介质损耗测试仪可以快速准确CVT的主电容和分电容的电容量及介损值。
一种 cvt 电容容量测试方法

[实用新型]一种CVT电容介损及电容量的测试装置-CN201820065036.1有效
发明人：朱启龙;马宏明;钱国超;邹徳旭;颜冰 -专利权人：云南电网有限责任公司电力科学研究院;云南电网有限责任公司红河供电局
申请日： 2018-01-16 - 公布日： 2018-08-31 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本实用新型实施例公开了一种CVT电容介损及电容量的测试装置，微分电流传感器钳接在CVT的高压引流端，带屏蔽测试线分别连接微分电流传感器和所述全自动抗干扰介质损耗测试仪；高压试验测试线分别连接全自动抗干扰介质损耗测试仪的高压测试端和CVT的高压端子，CVT的低压端子接地；第一CVT自激法二次加压线连接全自动抗干扰介质损耗测试仪的低压测试端和CVT的da端，第二CVT自激法二次加压线连接全自动抗干扰介质损耗测试仪的接地端和CVT的dn采用微分电流传感器采集CVT主电容的电流，结合全自动抗干扰介质损耗测试仪可以快速准确CVT的主电容和分电容的电容量及介损值。
抗干扰微分电流传感器介质损耗测试电容电容量介质损耗测试仪测试装置二次加压线连接主电容自激本实用新型低压测试低压端子高压测试高压端子高压试验高压引流屏蔽测试接地测试线接地端钳接采集

[发明专利]一种频域介电响应测试的温度校正方法及设备-CN201711071836.0有效
发明人：秦少瑞;张大宁;牛朝滨;丁国成;朱太云;宋东波;秦金飞;吴兴旺;张晨晨;尹睿涵 -专利权人：国家电网公司;国网安徽省电力公司电力科学研究院;西安交通大学
申请日： 2017-11-03 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明涉及一种频域介电响应测试的温度校正方法及设备。在频域介电谱FDS测试之前，测量电介质的温度。将高频信号施加到电介质上，得到电介质在高频信号下的介质损耗参数。根据FDS测试之前测量得到的电介质的温度，以及电介质在高频信号下的介质损耗参数，确定在高频信号下介质损耗参数与温度的对应关系。在对FDS测试时，将高频信号与待测频率信号合成，然后施加到电介质上，得到合成信号在各频点的介质损耗参数。根据合成信号各频点的介质损耗参数，以及根据高频信号下介质损耗参数与温度的对应关系，确定同一温度下待测频率信号的各频点的介质损耗参数。本发明实施例实现了精确的频域介电响应测试，能够应用于绝缘诊断领域。
一种频域介电响应测试温度校正方法设备

[实用新型]一种产品在线回波损耗监控及回波损耗光路调零装置-CN201820930948.0有效
发明人：智春玮;智健;杜永建;郭征东;严安全 -专利权人：广州奥鑫通讯设备有限公司
申请日： 2018-06-15 - 公布日： 2019-02-15 - 主分类号： H04B10/079 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种产品在线回波损耗监控及回波损耗光路调零装置，包括单点光源(1)、2×2耦合器(2)、光全反射器件(4)、光功率计(5)，所述单点光源(1)、所述2×2耦合器(2)、所述光全反射器件(本实用新型的有益效果是：1、通过耦合器搭建回波损耗测试光路，节约了设备成本；2、通过一种光全反射器件对搭建光路进行归零，大大提高了测试准确性并使测试参数更明确；3、通过耦合器进行回波损耗，插入损耗光源线与回波损耗测试光源线为一条光纤，免去了测试回波损耗需要重新熔接的步骤，大大提高了产品的调试效率。
回波损耗耦合器光全反射光路本实用新型单点光源调零装置光功率计测试准确性测试参数测试光路测试光源插入损耗调试效率设备成本依次相连光源线输出端输入端监控归零熔接光纤测试节约

[发明专利]光纤损耗测试装置-CN202310503472.8在审
发明人：王颖;王静;刘锐;倪志龙;王钊;毕浩;肖攀;李双;周程丽 -专利权人：武汉睿芯特种光纤有限责任公司
申请日： 2023-04-28 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种光纤损耗测试装置，该光纤损耗测试装置包括：光源；至少两个光开关，每个光开关包括一个输入端和多个输出端；至少两个光输入系统；光谱检测系统，用于根据目标待测光纤的长度和经过目标待测光纤的光束的光谱变化量，确定目标待测光纤的损耗信息；控制器，用于控制至少两个光开光与光谱检测系统按照相同的频率工作。本发明所述装置提高了对多个光纤的损耗测试效率和可靠性；降低了人工成本，且测试过程无需改变光纤位置，减少环境及人为因素带来的测试不确定性，同时支持光纤多样品同时测试，为大批量光纤损耗长期测试减少了时间成本，极大提高了测试效率。
光纤损耗测试装置