专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]磁性器件绕组仿真方法、装置、终端设备和存储介质-CN202110715115.9在审
  • 任文;廖胜峰 - 广州视源电子科技股份有限公司
  • 2021-06-26 - 2022-12-27 - G06F30/20
  • 本发明实施例公开了磁性器件绕组仿真方法、装置、终端设备和存储介质,该方法通过在仿真界面接收目标磁性器件的基础参数,所述基础参数中的一个为待定参数;根据所述目标磁性器件对应的损耗模型,在仿真界面显示所述目标磁性器件关于待定参数损耗曲线,以及所述损耗曲线上最低损耗对应的待定参数数值;在仿真界面接收备选待定参数数值,根据所述损耗模型,在所述损耗曲线标识所述备选待定参数数值对应的损耗。通过在仿真界面接收基础参数,基于损耗模型绘制目标磁性器件关于待定参数损耗曲线,直观准确地呈现了待设计的目标磁性器件的损耗,便于用户快速准确地确认目标磁性器件的设计参数
  • 磁性器件绕组仿真方法装置终端设备存储介质
  • [发明专利]一种天线产品性能数据获取方法及系统-CN201510862982.X有效
  • 曹振华;缪昌春;马晓娜;石宪庆;陈芳 - 歌尔股份有限公司
  • 2015-11-30 - 2019-02-15 - G06F17/24
  • 本发明涉及天线产品检测技术领域,提供一种天线产品性能数据获取方法及系统,方法包括:读入回波损耗表;对每列天线产品回波损耗参数列进行遍历,获取回波损耗参数数值最小的一个;查找与每列天线产品回波损耗参数列中回波损耗参数数值最小的一个所对应的天线频率值;对数值最小的回波损耗参数、每列天线产品回波损耗参数列中数值最小的回波损耗参数数值所对应的天线频率值以及每列天线产品回波损耗参数列中数值最小的回波损耗参数数值所对应的天线频率值所对应的频率索引行进行记录,生成回波损耗参数最小值列表,并显示,实现天线频率数据的获取,提高了GRR报告和CPK报告的制作效率,自动化程度高,同时能直观反映天线的整体性能。
  • 一种天线产品性能数据获取方法系统
  • [发明专利]基于动态路径损耗估计的功率余量报告-CN202180015557.0在审
  • A·C·希里克;Y·伊;E·迪南;周华 - 欧芬诺有限责任公司
  • 2021-01-11 - 2022-11-01 - H04W52/24
  • 一种无线装置接收包括一个或多个配置参数的消息。所述一个或多个配置参数指示多个功率控制参数集,其中所述多个功率控制参数集中的每个功率控制参数集由相应的功率控制参数集索引来标识;并且包括使得激活命令能够更新上行链路信道的路径损耗参考信号的路径损耗参考信号更新参数基于包括所述路径损耗参考信号更新参数的所述一个或多个配置参数,针对功率余量报告进行确定映射到所述多个功率控制参数集中的具有功率控制参数集索引中的最低功率控制参数集索引的功率控制参数集的路径损耗参考信号。传输基于所述路径损耗参考信号的路径损耗估计计算的所述功率余量报告。
  • 基于动态路径损耗估计功率余量报告
  • [发明专利]线路损耗测试方法、装置、系统、设备及存储介质-CN202310608804.9在审
  • 靳爽 - 飞腾信息技术有限公司
  • 2023-05-26 - 2023-08-29 - G01R27/26
  • 本申请提出一种线路损耗测试方法、装置、系统、设备及存储介质,该方法包括:获取第一信号链路在不同损耗参数下输出的信号,所述第一信号链路包括主板、与所述主板连接的信号引出板、与所述信号引出板连接的损耗板;所述主板上装设有处理器,所述损耗板输出的信号为所述第一信号链路输出的信号,所述损耗板的损耗值可调;通过检测所述第一信号链路在不同损耗参数下输出的信号的完整性,从所述不同损耗参数中,确定出临界损耗参数;其中,所述临界损耗参数,是使得所述第一信号链路输出的信号的完整性满足预设的第一完整性要求的最大损耗参数。该方法实现了对主板走线能够承担的最大损耗的测试,从而能够为设计走线提供参考。
  • 线路损耗测试方法装置系统设备存储介质
  • [发明专利]铜箔粗糙度损耗建模方法和板材电气参数提取方法及装置-CN201310366722.4有效
  • 王博;李孝群 - 杭州华三通信技术有限公司
  • 2013-08-21 - 2013-12-04 - G06F17/50
  • 本发明公开了一种铜箔粗糙度损耗建模方法和板材电气参数提取方法及装置。本发明通过将至少一种板材测试板未代入铜箔粗糙度损耗的电气参数测量频变曲线与其赋予粗糙度参数的电气参数仿真频变曲线进行比对,能够估算出铜箔粗糙度损耗对各频点下的电气参数所产生的离散偏差,并且,通过对离散偏差的曲线拟合所实现的统计建模,能够得到为铜箔粗糙度损耗频变曲线。相比于数学建模,利用统计建模得到的铜箔粗糙度损耗频变曲线能够相对真实地反映出铜箔的粗糙度对板材实际产生的损耗。相应地,在提取板材电气参数时,就能够利用统计建模得到的铜箔粗糙度损耗频变曲线来确定所代入的铜箔粗糙度损耗,因而能够得到更为准确的电气参数
  • 铜箔粗糙损耗建模方法板材电气参数提取装置
  • [发明专利]一种查看S参数模型的差分损耗的方法以及设备-CN201910056475.5在审
  • 余华国 - 郑州云海信息技术有限公司
  • 2019-01-22 - 2019-05-28 - G06F17/50
  • 本发明公开了一种查看S参数模型的差分损耗的方法,包括步骤:S1、读取S参数模型;S2、选择若干个端口对应关系中的一个;S3、根据选择的所述端口对应关系,计算所述S参数模型的差分损耗并得到差分损耗曲线;S4、根据预设条件判断所述差分损耗曲线的正确性;S5、响应于所述差分损耗曲线错误,返回步骤S2以选择下一个端口对应关系,以及响应于差分损耗曲线正确,输出该正确的差分损耗曲线。本发明公开的方法能够在无法确定S参数模型的实际端口对应关系的情况下,依然可以查看S参数模型的差分损耗
  • 读取实际端口预设条件响应输出返回

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