专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]漏洞扫描策略匹配模型的训练方法、装置及设备-CN202211262654.2在审
  • 卢敏;沈传宝;吴璇;马涛 - 北京华云安软件有限公司
  • 2022-10-14 - 2023-01-24 - H04L9/40
  • 本发明的实施例提供了一种漏洞扫描策略匹配模型的训练方法、装置及设备,涉及网络安全技术领域。该方法包括:获取漏洞扫描设备上传的网络设备的漏洞扫描记录,包括:网络设备的属性信息、漏洞扫描设备扫描网络设备所采用的漏洞扫描策略参数及其对应的漏洞扫描结果;根据漏洞扫描策略参数及其对应的漏洞扫描结果,确定网络设备对应的漏洞扫描策略目标参数;根据属性信息,生成设备属性样本,并根据对应的漏洞扫描策略目标参数,生成对应的标签;根据样本及标签,生成训练集;采用该训练集对预设的漏洞扫描策略匹配模型进行训练,得到匹配能力较强的模型,进而基于该模型快速地匹配待扫描网络设备对应的漏洞扫描策略参数,即漏洞扫描策略
  • 漏洞扫描策略匹配模型训练方法装置设备
  • [发明专利]一种激光直写设备的扫描控制方法、控制系统及相关设备-CN202310384752.1在审
  • 陈乃奇;胡学艳;徐虎 - 深圳市先地图像科技有限公司
  • 2023-04-07 - 2023-06-23 - G03F7/20
  • 本申请实施例提供了一种激光直写设备的扫描控制方法、控制系统及相关设备,用于提高激光成像的精度、效率和控制程序的兼容性。本申请实施例方法包括:获取原始栅格图像的图像数据,所述图像数据至少包括各个像素行中的像素曝光点的位置参数;获取扫描策略选择指令,所述扫描策略选择指令指示从多个扫描策略中选中的目标扫描策略,每个扫描策略指示各个像素行的扫描顺序;按照所述目标扫描策略中的扫描顺序读取各个像素行中的像素曝光点的位置参数,并控制激光阵列按照所述目标扫描策略中的扫描顺序在感光涂层上扫描各个像素行的映射区域,并在扫描过程中对各个像素行的像素曝光点的位置进行曝光
  • 一种激光设备扫描控制方法控制系统相关
  • [发明专利]一种扫描检测方法及装置-CN201711241924.0有效
  • 谭杰;蔡少君;苗辉 - 贵州白山云科技股份有限公司
  • 2017-11-30 - 2020-03-13 - G06F11/36
  • 本发明公开了一种扫描检测方法及装置,此方法包括:从基础扫描策略中选择部分或全部子项,根据选择出的子项重新构建基础扫描策略;从业务项动态扫描策略中选择部分或全部子项,根据选择出的子项重新构建业务项动态扫描策略;根据重新构建的基础扫描策略和重新构建的业务项动态扫描策略生成扫描检测程序;通知边缘服务器使用所述扫描检测程序进行扫描,获取各边缘服务器上报的扫描结果。本发明可以自定义式的添加服务器扫描检测的子项,根据应用需要设置出个性化的检测策略扫描覆盖率高,既可以针对所有使用大集群的应用场景,也可以运用到小集群的运用场景。
  • 一种扫描检测方法装置
  • [发明专利]一种扫描器的调用方法和装置-CN202010313721.3有效
  • 杨圣华 - 杭州迪普科技股份有限公司
  • 2020-04-20 - 2023-02-28 - H04L9/40
  • 本申请提供一种扫描器的调用方法及装置。一种扫描器的调用方法,预先设有扫描项目与扫描策略的对应关系,所述扫描策略包括对应扫描项目使用的扫描器,所述方法包括:接收扫描任务,所述扫描任务中携带扫描项目;按照所述对应关系,查找所述扫描项目对应的扫描策略;将所述扫描任务分别下发给查找到的扫描策略中的各个扫描器,以调用各个扫描器。本申请所述扫描器的调用方法,相比于现有技术可以提高扫描效率。
  • 一种扫描器调用方法装置
  • [发明专利]一种自动扫描缺陷的方法-CN201811595214.2有效
  • 王洲男 - 上海华力微电子有限公司
  • 2018-12-25 - 2021-07-27 - H01L21/66
  • 本发明提供一种自动扫描缺陷的方法,应用于缺陷扫描工艺中,包括步骤S1,确定多个预设的缺陷扫描策略,并根据扫描精度由上至下对多个缺陷扫描策略进行排列;步骤S2,根据扫描精度最大的缺陷扫描策略对晶圆进行扫描,并持续监控以得到晶圆上晶粒的已扫描数量以及缺陷数量;步骤S3,根据缺陷数量和已扫描数量,依照一预设的计算策略计算得到于本次选择的缺陷扫描策略下的预测缺陷数量;步骤S4,判断预测缺陷数量是否超出一预设的对应于本次选择的缺陷扫描策略的缺陷数量阈值;步骤S2‑S4循环进行,直至对晶圆上所有晶粒均扫描完毕为止。本发明的有益效果在于:通过进行实时预测来更换缺陷扫描策略来得到完整的缺陷晶圆缺陷分布图,从而降低人力物力。
  • 一种自动扫描缺陷方法
  • [发明专利]一种病毒查杀方法、装置及电子设备-CN201511005920.3有效
  • 王辰汐 - 北京金山安全软件有限公司
  • 2015-12-29 - 2018-11-20 - G06F21/56
  • 本发明实施例公开了一种病毒查杀方法,针对电子设备中处于不同生命状态的应用程序采用不同的扫描策略,所述方法包括:在接收到病毒扫描指令时,确定所述病毒扫描指令的扫描对象,若所述扫描对象为应用程序安装包,则通过SD卡扫描策略扫描所述扫描对象,若所述扫描对象为正在安装的应用程序,则通过安装监控扫描策略扫描所述扫描对象,若所述扫描对象为已安装的应用程序,则通过一键扫描策略扫描所述扫描对象。相应地,本发明实施例还公开了一种病毒查杀装置及电子设备,可以针对不同生命状态的应用程序采用了不同的扫描策略,增强电子设备的安全保障。
  • 一种病毒方法装置电子设备

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