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[发明专利]性能测试数据的处理方法和装置-CN202310100549.7在审
发明人：高怡;蒋治亿;许金园 -专利权人：江苏天合储能有限公司
申请日： 2023-02-10 - 公布日： 2023-04-21 - 主分类号： G01R31/36 文献下载
摘要：本公开实施例公开了一种性能测试数据的处理方法和装置，其方法包括：获取第一性能测试数据组和第二性能测试数据组；第一性能测试数据组和第二性能测试数据组表征的性能特性不同；第一性能测试数据组包括若干一一对应的第一时间序列和第一测试数据序列，第二性能测试数据组包括若干一一对应的第二时间序列和第二测试数据序列；基于第一时间序列和第二时间序列对第一测试数据和第二测试数据进行匹配，得到若干一一对应的第一测试数据序列和第二测试数据序列。可以解决相关技术中无法快速有效地处理性能测试数据的技术问题，通过比对第一时间序列和第二时间序列匹配第一测试数据序列和第二时间测试数据序列，以便对性能测试数据进行后续分析处理。
性能测试数据处理方法装置

[发明专利]测试方法、装置以及控制器和介质-CN201910138977.2有效
发明人：吴海兵;史兰兰;鲁坤乐;何涛;李松 -专利权人：上海蔚来汽车有限公司
申请日： 2019-02-25 - 公布日： 2022-09-06 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明涉及一种测试方法、装置以及控制器和介质，所述方法包括获取测试数据，所述测试数据包括基础测试数据、自动化测试数据和性能测试数据；接收自动化测试指令或者性能测试指令；根据所述自动化测试指令调取对应的基础测试数据和自动化测试数据，执行自动化测试；或者根据所述性能测试指令调取所述基础数据和性能测试数据，将所调取的基础数据转化为性能测试脚本，执行性能测试。本发明将性能测试与自动化测试整合，测试效率高,且对测试人员编程能力要求比较低,使用过程简单高效，成本低。
测试方法装置以及控制器介质

[发明专利]一种性能测试的方法、相关装置及存储介质-CN202011004869.5在审
发明人：宋旗胜 -专利权人：腾讯科技（成都）有限公司
申请日： 2020-09-22 - 公布日： 2020-12-11 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种性能测试的方法、相关装置及存储介质，用于提高性能检测的效率。本申请包括：获取性能测试数据，其中，性能测试数据包括目标游戏所对应的N帧测试数据，N为大于或等于1的整数；针对于N帧测试数据中的每帧测试数据，获取每帧测试数据所对应的深度性能数据集合，其中，深度性能数据集合包括垃圾回收GC数据、内存数据、渲染数据以及渲染线程数据中的至少一种；当获取到N帧测试数据中每帧测试数据所对应的深度性能数据集合时，根据每帧测试数据所对应的深度性能数据集合，生成深度性能信息文件；展示深度性能信息文件
一种性能测试方法相关装置存储介质

[发明专利]一种指控系统的性能测试方法、系统、电子设备及介质-CN202211288595.6在审
发明人：牛刚;韩宁;连云峰;郭晓冉;王天;高润冬;谢大兵;康科;孙晶 -专利权人：中国人民解放军32181部队
申请日： 2022-10-20 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： H04B17/15 文献下载
摘要：本发明公开一种指控系统的性能测试方法、系统、电子设备及介质，涉及计算机技术领域，方法包括：对第一测试数据进行第一滤波处理以得到第一滤波发射数据；对第二测试数据进行第二滤波处理以得到第二滤波发射数据；根据第一测试数据、第二测试数据、第一滤波发射数据和第二滤波发射数据，确定发射测试数据；对第三测试数据和第四测试数据进行缠绕计算，以确定接收测试数据；根据发射测试数据和接收测试数据，对第五测试数据进行解码处理，以得到解码测试数据；对发射测试数据、接收测试数据和解码测试数据进行加权处理，以得到系统性能测试最终数据。本发明提高了系统性能测试精度。
一种指控系统性能测试方法电子设备介质

[发明专利]一种基于大数据的新材料测试数据监测系统及方法-CN202310841022.X在审
发明人：赵雪楠 -专利权人：黑龙江黑格新材料科技有限公司
申请日： 2023-07-11 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G16C60/00 文献下载
摘要：本发明涉及测试数据监管技术领域。具体为一种基于大数据的新材料测试数据监测系统及方法，所述数据采集模块用于对新材料的属性特征指标范围、测试数据以及属性性能进行采集；所述数据监测模块是对新材料的测试数据进行监测，通过新材料测试数据的监测结果对新材料的性能进行测评；所述数据分析模块是基于性能测评结果对测试数据的异常情况以及测试设备的可靠性进行分析；所述告警提醒模块是当新材料的性能不合格以及新材料的测试数据出现异常时进行告警提醒。本发明是通过测试数据对新材料的性能分析并且判断测试数据的异常情况从而实现对测试设备筛选，避免因设备测试数据不准确导致性能测试结果出现误差，使得新材料的品质得到把控和保证。
一种基于数据新材料测试数据监测系统方法

[发明专利]性能测试数据的处理方法、装置、计算机设备和存储介质-CN201910913272.3有效
发明人：刘锷;杨婧;徐梅兰 -专利权人：苏宁云计算有限公司
申请日： 2019-09-25 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G06F16/14 文献下载
摘要：本申请涉及一种性能测试数据的处理方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取性能测试对应的多个第一参数文件的文件路径，各第一参数文件分别用于存储多个性能测试数据；根据多个第一参数文件的文件路径分别获取各第一参数文件中的性能测试数据；获取各第一参数文件中的性能测试数据的排列顺序；将各第一参数文件中相同排序位置的性能测试数据进行合并处理，得到合并处理后的数据集，数据集用于向性能测试提供性能测试数据。上述方法能够提高性能测试时性能测试数据准备过程中数据处理的效率。
性能测试数据处理方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]一种针对分析型数据库性能的测试方法和装置-CN202310126553.0在审
发明人：魏凯;姜春宇;马鹏玮;王超伦;田稼丰;刘思源;杨佳星 -专利权人：中国信息通信研究院
申请日： 2023-02-16 - 公布日： 2023-06-02 - 主分类号： G06F11/34 文献下载
摘要：本发明公开了一种针对分析型数据库性能的测试方法和装置，能够获取目标数据库的测试场景，其中测试场景包括测试数据表结构和与测试数据表结构相对应的测试例，根据测试数据表结构确定测试数据，并将测试数据导入目标数据库，根据测试例对导入测试数据的目标数据库进行负载测试，测试完成后，能够得到各项度量指标，并计算性能指数和性价比指数，结合性能指数和性价比指数判定目标数据库性能的优异性。
一种针对分析数据库性能测试方法装置

[发明专利]基于意图识别的性能测试方法、装置、设备及存储介质-CN202011500602.5在审
发明人：田晓姣 -专利权人：中国平安人寿保险股份有限公司
申请日： 2020-12-18 - 公布日： 2021-03-30 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明涉及云技术领域，公开了一种基于意图识别的性能测试方法、装置、设备及存储介质，用于在意图测试的同时进行测试框架的性能测试，还用于提高断言测试框架性能和计算测试框架性能时压测的稳定性。基于意图识别的性能测试方法包括：获取待测试数据，将待测试数据进行预处理，得到多个处理后的待测试数据；基于多个处理后的待测试数据和预置的配置文件进行解析，得到多个测试请求数据和多个压测配置；通过测试框架对多个测试请求数据进行意图测试，得到多个意图测试数据；基于多个压测配置、多个测试请求数据和多个意图测试数据对测试框架进行性能测试，得到测试结果，此外，本发明还涉及区块链技术，多个意图测试数据可存储于区块链中。
基于意图识别性能测试方法装置设备存储介质

[发明专利]一种集成电路测试数据分析方法及系统-CN202011328711.3在审
发明人：苏广峰;姜伟伟 -专利权人：安测半导体技术（江苏）有限公司
申请日： 2020-11-24 - 公布日： 2021-02-09 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明提供了一种集成电路测试数据分析方法及系统，该方法包括：测试机解析被测试的第一集成电路的第一测试数据，并发送给分析数据库；分析数据库接收、存储第一测试数据；分析设备从分析数据库中抓取第一测试数据，计算第一集成电路的性能参数；分析设备从分析数据库中抓取基准测试数据，计算基准性能参数，基准测试数据为第一测试数据之前的m批测试数据，m批测试数据依次相邻，且m批测试数据中有一批测试数据与第一测试数据相邻，m为正整数；分析设备根据被测试的第一集成电路的性能参数、基准性能参数确定第一集成电路是否为良品。本申请实现了对关键指标(良率，BIN别等)的动态分析，提高了芯片测试的准确度和效率。
一种集成电路测试数据分析方法系统

[发明专利]一种IO性能数据获取方法及相关装置-CN202110285352.6在审
发明人：李俊成 -专利权人：江苏芯盛智能科技有限公司
申请日： 2021-03-17 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： G06F11/34 文献下载
摘要：本申请公开了一种IO性能数据获取方法，包括：采用FIO进行性能测试，得到测试数据；根据所述测试数据的测试时间从iostat查询的数据中确定对应的读写性能数据；将所述读写性能数据导入至excel表格中。通过FIO先进行测试，然后根据测试数据的测试时间从iostat确定对应的读写性能数据，而不是直接采用FIO得到的测试数据，避免了FIO的测试数据降低可读性，采用iostat中的读写性能数据提高数据的可读性本申请还公开了一种IO性能数据获取装置、计算设备以及计算机可读存储介质，具有以上有益效果。
一种 io 性能数据获取方法相关装置

[发明专利]一种用于性能测试的测试方法及装置-CN201911406282.4在审
发明人：肖亮 -专利权人：深圳云天励飞技术有限公司
申请日： 2019-12-31 - 公布日： 2021-07-16 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请适用于数据处理技术领域，提供了一种用于性能测试的测试方法及装置，所述方法包括：获取用于对待测试系统进行性能测试的测试任务信息；基于所述测试任务信息，获取用于执行所述性能测试的多个测试数据以及确定各个所述测试数据的测试类型；根据所述测试类型，为每个所述测试数据配置测试参数；基于所述测试数据以及所述测试数据对应的所述测试参数，生成测试用例；通过所有所述测试数据对应的所述测试用例，对所述待测试系统执行所述性能测试。本申请提供的测试方法，通过测试任务的要求生产测试参数，对测试数据进行参数化，让测试用例更加接近真实，保证性能测试结果的可信度，同时使得参数化简单快捷高效，节省系统资源。
一种用于性能测试方法装置

[发明专利]系统测试方法、装置、设备及存储介质-CN202211634323.7在审
发明人：谭锦志;张延楠;王晓雪;尚璇;胡麦芳 -专利权人：杭州趣链科技有限公司
申请日： 2022-12-19 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请涉及一种系统测试方法、装置、设备及存储介质。该方法通过获取系统部署信息，基于系统部署信息，获取第一测试数据；基于第一测试数据，获取系统的理论最大并发量；基于理论最大并发量，获取第二测试数据；基于第一测试数据和第二测试数据，获取系统测试数据并停止测试，系统测试数据包括系统性能曲线和/或系统性能拐点；能够基于系统不同的部署形态下分别设置不同的基准测试数据，并计算系统支持的最大并发数，还能够在持续一段时间的测试后判定系统性能拐点并自动停止测试。
系统测试方法装置设备存储介质

[发明专利]一种性能数据处理方法、装置、设备及存储介质-CN202210557198.8在审
发明人：乔明鹤 -专利权人：北京百度网讯科技有限公司
申请日： 2022-05-20 - 公布日： 2022-09-16 - 主分类号： G06F11/34 文献下载
摘要：本公开提供了一种性能数据处理方法、装置、设备及存储介质，涉及计算机技术领域，尤其涉及云计算和测试技术领域。具体实现方案为：在对可选器件集进行性能测试的过程中，若获取到所述可选器件集中可选器件的可选性能测试数据，则确定所述可选器件中是否存在感兴趣器件；在确定所述可选器件中存在感兴趣器件的情况下，从所述可选性能测试数据中提取感兴趣器件的目标性能测试数据；向性能测试端转发所述目标性能测试数据，以使所述性能测试端对所述目标性能测试数据进行处理。通过上述技术方案，能够快速定位到感兴趣的器件的性能测试数据。
一种性能数据处理方法装置设备存储介质

[发明专利]电池测试数据展示方法、装置及存储介质-CN202010575908.0在审
发明人：毛广甫;曾剑锋 -专利权人：深圳市瑞能实业股份有限公司
申请日： 2020-06-22 - 公布日： 2020-10-23 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开一种电池测试数据展示方法，包括根据原始测试数据，生成数据列表，所述数据列表包括记录层数据列表、工步层数据列表和循环层数据列表；根据栏目设置结果，按照层级展示所述数据列表；根据所述原始测试数据生成图形信息，所述图形信息包括坐标定义和坐标数据值；根据图形设置结果及所述图形信息绘制电池性能曲线；展示所述电池性能曲线；根据所述数据列表及所述电池性能曲线，生成电池测试数据报告，所述电池测试数据报告包括电池性能优劣结果信息；展示所述电池测试数据报告。提升了用户查看电池测试数据的效率，使用户可以快速了解电池性能优劣，从而提升效率；并且不影响测试软件的正常运行。
电池测试数据展示方法装置存储介质

[发明专利]一种磁盘性能测试方法及装置-CN201811376474.0有效
发明人：吴昊 -专利权人：郑州云海信息技术有限公司
申请日： 2018-11-19 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种磁盘性能测试方法，在待测试磁盘中创建预设大小的文件；对该文件执行以下测试操作：按照预设测试数据，对该文件进行读操作和/或写操作，该预测测试数据包括预设数据块大小和预设访问跳转间隔，在满足测试结束条件时，记录测试结果数据，该测试结果数据与预设测试数据相对应，其中包括测试执行时间和测试数据量；对预设测试数据进行修改，按照修改后的预设测试数据执行上述测试操作；根据对应于各个预设测试数据的测试结果数据，确定待测试磁盘的性能。利用预设数据块大小和预设访问跳转间隔对磁盘性能的影响，对待测试磁盘相应进行性能测试，为存储系统的设计提供有价值的参考信息。
一种磁盘性能测试方法装置

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