专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]测量物体参数的方法及装置-CN201880087447.3在审
  • 张旭;柯政遠;王强;那柏林 - 华为技术有限公司
  • 2018-07-12 - 2020-09-04 - G06K9/62
  • 一种测量物体参数的方法及装置,其中方法包括:S101识别图像中测量物体的类别;S102确定在图像中测量物体的面积;S103确定图像中测量物体的深度,所述测量物体的深度为用于拍摄图像的设备在拍摄图像时,设备到测量物体的距离;S104根据测量物体的类别、测量物体的面积和测量物体的深度确定测量物体的参数。该测量物体参数的方法及装置能够将拍摄距离对待测量物体参数的影响纳入测量范围,根据测量物体的类别、测量物体在图像中的面积和测量物体的深度共同确定测量物体的参数,提高了测量物体参数时的准确度。
  • 测量物体参数方法装置
  • [发明专利]一种体积测量装置及质量测量系统-CN202110236644.0在审
  • 李希胜;张聪;张利欣;王晟晨;尤宝旺 - 北京科技大学
  • 2021-03-03 - 2021-06-25 - G01B11/00
  • 本发明的实施例公开一种体积测量装置及质量测量系统,涉及钢铁冶金及机械自动化领域,能够实现自动测量被测物体的体积或质量,大大提高测量效率。所述装置包括:第一测量仪,每间隔预设时间拍摄测量物体的图像;图像分析处理单元,根据各所述测量物体的图像,确定所述测量物体在每个所述预设时间内的移动距离;第二测量仪,在每个所述预设时间内测量测量物体垂直于第一方向的截面的面积,所述第一方向为所述测量物体相对于所述第一测量仪的运动方向;第一计算单元,根据所述测量物体在每个预设时间内的移动距离以及在每个所述预设时间内的截面面积,计算所述测量物体的体积。本发明适用于自动测量测量物体的体积或质量。
  • 一种体积测量装置质量系统
  • [发明专利]一种物体尺寸测量方法及装置-CN201711248378.3在审
  • 胡狄;胡攀攀;徐威 - 武汉万集信息技术有限公司
  • 2017-12-01 - 2018-05-15 - G01B11/02
  • 本发明提供一种物体尺寸测量方法及装置。所述方法包括:获取测量物体的顶部图像,所述顶部图像中包含有光斑信息以及所述测量物体的顶部轮廓信息,在所述顶部图像中确定所述光斑的像素尺寸信息、所述测量物体的顶部宽度对应的像素尺寸信息和/或所述测量物体的顶部长度对应的像素尺寸信息;根据所述光斑的实际尺寸信息,在所述顶部图像中所述光斑的像素尺寸信息以及所述测量物体的顶部对应的像素尺寸信息,确定所述测量物体的宽度信息和/或长度信息。本发明提供的物体尺寸测量方法及装置,使用方便,能快速测量物体尺寸。
  • 一种物体尺寸测量方法装置
  • [发明专利]厚度测量方法,装置,电子设备及存储介质-CN202011414592.3在审
  • 赵勇;杨宁华;林昌伟;朱立发 - 北京格灵深瞳信息技术有限公司
  • 2020-12-07 - 2022-06-07 - G01B11/06
  • 本申请实施例中提供了一种厚度测量方法,装置,电子设备及存储介质,该方法包括:获取当前测量物体和目标物体的二维图像以及深度图;获取包括所述测量物体和目标物体的标准点云;将所述标准点云与当前点云进行配准,得到目标平面方程;利用所述二维图像以及深度图定位所述当前点云中的所述测量物体,并结合所述目标平面方程,得到所述第一平面和第二平面的平面方程;根据所述平面方程计算所述测量物体的厚度。结合二维图像和深度图定位测量物体,通过配准得到目标平面方程,以获取测量物体的两个平行面对应的平面方程,可以精准定位所述测量物体,从而可以准确的计算出测量物体的厚度。
  • 厚度测量方法装置电子设备存储介质
  • [发明专利]一种测量物体尺寸的方法、系统及智能终端-CN201510742210.2在审
  • 周忠波 - 上海卓易科技股份有限公司
  • 2015-11-05 - 2016-03-16 - G01B11/00
  • 一种测量物体尺寸的方法、系统及智能终端,其中测量物体尺寸的方法包括以下步骤:摄像头测量模式初始化;摄像头拍摄物体,并成像于屏幕上的测量区域;同时拍摄与物体处于同一测量平面的参考物体,并成像于屏幕上的参考区域;根据智能终端的屏幕分辨率以及物体图像在测量方向上的长度获得物体的第一像素值,以及根据智能终端的屏幕分辨率以及参考物体图像在测量方向上的长度获得参考物体所占的第二像素值;根据获取的第一像素值、第二像素值及参考物体尺寸计算出物体尺寸,本发明的测量物体尺寸的方法、系统及智能终端能更加方便、快捷的测量物体尺寸,且测量的可靠性和准确性高。
  • 一种测量物体尺寸方法系统智能终端
  • [发明专利]物体测量方法、智能终端及计算机可读存储介质-CN201810058366.2有效
  • 陈泽滨 - 腾讯科技(深圳)有限公司
  • 2018-01-19 - 2022-10-28 - G06F3/0484
  • 本发明实施例公开了一种物体测量方法、智能终端及计算机可读存储介质,其中方法包括:获取物体测量的触发事件;调用终端的摄像组件以对待测量物体进行拍摄处理,并在终端的用户界面上显示所述测量物体的环境图像;获取物体测量指令;根据所述物体测量指令,确定在所述用户界面上设置的测量点,所述测量点包括:对所述环境图像中测量物体确定的测量起点和测量终点;根据所述测量点在终端屏幕上的位置获取所述测量点的基准坐标数据;根据所述基准坐标数据获取所述测量物体的长度测量数据;在所述用户界面中显示所述长度测量数据。可以智能化测量测量物体的长度测量数据,从而可以提高测量结果的准确性。
  • 物体测量方法智能终端计算机可读存储介质
  • [发明专利]曲面物体的光学参数的测量方法-CN202310466611.4在审
  • 肖刚;黄羿珲;张添 - 浙江大学嘉兴研究院;浙江大学
  • 2023-04-24 - 2023-08-01 - G01N21/55
  • 本发明提供一种曲面物体的光学参数的测量方法,包括以下步骤:经验曲线绘制步骤:根据不同涂料喷涂在相同参考曲面物体的参考曲面的光学参数测量数据和不同涂料的实际光学参数的对应关系绘制经验曲线;第一提供步骤:提供测曲面物体和用于喷涂测曲面物体的规定涂料,测曲面物体具有待测曲面;第一喷涂步骤:将规定涂料喷涂于测曲面;测量步骤:测量测曲面喷涂规定涂料后的光学参数,获得测曲面的光学参数测量数据;测曲面光学参数确定步骤:根据测曲面的光学参数测量数据与经验曲线得到测曲面的实际光学参数本发明测量方法,能够适用于不同曲面物体的光学参数测量,提高了曲面物体光学参数测量的便捷性与准确性。
  • 曲面物体光学参数测量方法

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