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[发明专利]K荧光X射线辐射装置-CN201510388993.9在审
发明人：吴金杰;陈成;姚馨博;陈法君 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2015-07-03 - 公布日： 2015-10-21 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明实施例涉及一种K荧光X射线辐射装置,包括：X射线光机，产生X射线；荧光发生装置，接收所述X射线光机射出的X射线，并对所述X射线进行过滤，得到辐射质荧光射线；次级光阑，装设于所述荧光发生装置内，对所述辐射质荧光射线的射束发射角进行限定，使出射的辐射质荧光射线的射束为锥形。
荧光射线辐射装置

[实用新型]K荧光X射线辐射装置-CN201520477792.1有效
发明人：吴金杰;陈成;姚馨博;陈法君 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2015-07-03 - 公布日： 2015-11-18 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本实用新型实施例涉及一种K荧光X射线辐射装置,包括：X射线光机，产生X射线；荧光发生装置，接收所述X射线光机射出的X射线，并对所述X射线进行过滤，得到辐射质荧光射线；次级光阑，装设于所述荧光发生装置内，对所述辐射质荧光射线的射束发射角进行限定，使出射的辐射质荧光射线的射束为锥形。
荧光射线辐射装置

[发明专利]一种非同步辐射微束X射线荧光CT成像系统及方法-CN201610181077.2在审
发明人：蒋上海;冯鹏;魏彪;何鹏;陈绵毅;邓露珍 -专利权人：重庆大学
申请日： 2016-03-28 - 公布日： 2016-08-10 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明提出一种X射线源荧光CT成像系统，包括X射线源、多毛细管聚焦透镜、两个X射线强度探测器、样品控制台、荧光探测器以及数据处理系统。X射线管源发出的X射线光经过多毛细管聚焦透镜聚焦成微束平行光，照射到被检测样品，通过样品控制台控制被检测样品平移和转动，X射线光与被检测样品中的物质相互作用而产生荧光，利用荧光探测器对X射线荧光进行探测，数据处理系统将荧光探测器测得的X射线荧光光谱经分析处理得到X射线荧光CT的投影数据，将X射线强度探测器记录入射、出射X射线的强度进行计算得到透射CT投影数据，再通过透射CT投影数据以及X射线荧光CT投影数据对所述样品中元素分布和含量进行重建
一种同步辐射射线荧光 ct 成像系统方法

[实用新型]一种X射线衍射仪用X射线荧光测试附件-CN202321315591.2有效
发明人：张吉东;宋新月;张楠;韩昕彤 -专利权人：苏州锂影科技有限公司
申请日： 2023-05-29 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本实用新型公开一种X射线衍射仪用X射线荧光测试附件，涉及X射线测试领域，包括转接块、样品台和探测器；其中转接块用于将X射线衍射仪用X射线荧光测试附件固定在X射线衍射仪的测角仪上，样品台可拆卸地设置在所述转接块上，用于盛放待测样品，位于样品台正上方的探测器用于探测待测样品被X射线衍射仪发出的X射线照射后产生的荧光。本实用新型的X射线衍射仪用X射线荧光测试附件结构紧凑简单，利用X射线衍射仪的X射线源完成X射线荧光光谱的测试，实现同一位置同一线源测试物质和X射线衍射与X射线荧光光谱同步测试。
一种射线衍射荧光测试附件

[发明专利]可调X射线源-CN201710050479.3有效
发明人：徐涛;王峰;梅雨;苏明;刘慎业 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2017-01-23 - 公布日： 2018-04-10 - 主分类号： H05G1/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种可调X射线源，包括防护箱以及设置在该防护箱内的X射线管，在所述防护箱内设有可转动的托盘和可移动的光阑，在所述防护箱上设有准直部件，所述X射线管上具有出射窗口，在所述托盘上设有至少两块荧光片，出射窗口出射的X射线依次经过荧光片、光阑和准直部件后向防护箱外出射，所述荧光片均为单质金属材料，从其中一块荧光片出射的荧光X射线的能点大于或小于从其余任一块荧光片出射的荧光X射线的能点。采用本发明提供的可调X射线源，结构新颖，易于实现，能够出射能点可调的单能荧光X射线，并且近似呈点出射，空间分布均匀，荧光X射线的发散角及强度均可调。
可调射线

[发明专利]X射线荧光分析仪器及用于其的样品容器-CN201610330739.8有效
发明人：徐章程 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2016-05-18 - 公布日： 2020-09-25 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：本发明提供一种用于测量粉末样品或轻质材料样品的X射线荧光分析仪器以及用于X射线荧光分析仪器的样品容器，X射线荧光分析仪器包括X射线发生装置、X射线探测装置和样品容器，样品容器由容器盖、容器侧壁和容器底部构成初级X射线穿透样品后会被样品容器中的多晶粉末衍射，部分衍射X射线会返回样品中再次激发荧光X射线，因此，从样品射出的荧光X射线信号会得到加强，从而提高了X射线荧光分析仪器的灵敏度。
射线荧光分析仪器用于样品容器

[发明专利]无人飞行器-CN201880012823.2在审
发明人：青山朋树;中村龙人 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 2018-05-01 - 公布日： 2019-10-15 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明提供一种无人飞行器，能够在空中移动并对规定的测量对象进行荧光X射线分析，所述无人飞行器的特征在于包括：飞行器主体；荧光X射线分析装置，具有：X射线照射装置，与所述飞行器主体连接，向所述测量对象照射X射线；以及荧光X射线检测装置，检测通过所述X射线的照射从所述测量对象产生的荧光X射线；以及测距装置，测量所述测量对象与所述荧光X射线检测装置之间的距离。
测量对象无人飞行器荧光X射线分析荧光X射线检测飞行器主体荧光X射线照射X射线测距装置空中移动照射测量检测

[发明专利]荧光X射线分析设备-CN200710091970.7有效
发明人：深井隆行;的场吉毅 -专利权人：精工电子纳米科技有限公司
申请日： 2007-03-30 - 公布日： 2007-10-03 - 主分类号： G01N23/225 文献下载
摘要：提供了荧光X射线分析设备，其中通过降低附加地生成的且被检测到的X射线而改进了检测下限。荧光X射线分析设备包括照射初级X射线的X射线源，以及检测器，其中在前面内放置了在其中心部分内具有通孔的准直器，且其中通过检测器检测到因以初级X射线照射到样本而从样本生成的且通过准直器的通孔的初级荧光X射线X射线源和检测器布置为邻接样本，且X射线源或检测器的被因在样本内初级X射线散射的事实生成的初级散射射线和从样本生成的初级荧光X射线所照射到的被照射面被覆盖以次级X射线降低层，从而降低了由初级散射射线和初级荧光X射线的照射生成的次级散射射线和次级荧光X射线。
荧光射线分析设备

[发明专利]一种X射线发射低温荧光探测系统及方法-CN202011347937.8在审
发明人：蔡碎女;刘良军;刘如海 -专利权人：蔡碎女
申请日： 2020-11-26 - 公布日： 2021-03-19 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明涉及X射线领域，尤其涉及一种X射线发射低温荧光探测系统及方法。该系统包括工作台和固定在工作台上的射线发射调整装置和低温荧光探测装置；射线发射调整装置输出端与试样相对齐，并且射线发射调整装置输出端与射线接收装置输入端位于相同的衍射仪圆周上；低温荧光探测装置固定在工作台上，并且低温荧光探测装置输出端与试样相衔接；射线发射调整装置用于在衍射仪圆周上不同位置输出X射线；低温荧光探测装置用于探测接收试样受到X射线激发后产生的荧光；该部件通过设置射线发射调整装置减少对准试样时的累积误差，保证X射线和试样检测部位精确对准；通过设置低温荧光探测装置提高试样分析效率，保证试样检测后的质量。
一种射线发射低温荧光探测系统方法

[发明专利]荧光X射线分析装置及其中使用的光谱显示方法-CN201580082847.1有效
发明人：古川博朗 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2015-07-03 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：为了不变更装置结构而以软件方式识别荧光X射线与衍射X射线、并在光谱中的波峰处显示荧光X射线信息与衍射X射线信息，本发明的荧光X射线分析装置具备将X射线射出到试样的X射线管(10)以及检测来自试样的X射线的检测器(30)，该荧光X射线分析装置根据由检测器(30)检测到的X射线，制作并显示表示X射线能量与元素的含量的关系的光谱，其中，荧光X射线分析装置具备：识别信息制作部(61c)，其制作对基于衍射X射线的波峰位置进行确定的识别信息，该衍射X射线根据试样的晶体结构而产生；以及显示控制部(61d)，其根据识别信息，在光谱中的波峰处显示衍射X射线信息。
荧光射线分析装置其中使用光谱显示方法

[发明专利]射线透射和荧光CT成像系统和成像方法-CN201710616773.6在审
发明人：李亮;陈志强;张丽;赵自然;邢宇翔;张思远 -专利权人：清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请日： 2017-07-25 - 公布日： 2017-11-03 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种射线透射和荧光CT成像系统和成像方法。该系统包括射线源，发出射线束；旋转扫描设备，对被检查对象执行旋转CT扫描；透射CT探测器，接收射线源发出的穿过被检查对象的射线束；荧光CT探测器，接收射线源发出的射线束照射在被检查对象内所激发产生的荧光光子；数据采集单元，分别采集来自透射CT探测器的透射数据信号和来自荧光CT探测器的荧光数据信号；以及控制和数据处理单元，控制所述射线源发出射线束，控制旋转扫描设备对被检查对象执行旋转CT扫描，并且基于所述透射数据信号和荧光数据信号，同时获得透射CT图像和荧光CT图像。利用上述技术方案，能够通过单次圆周扫描即可实现对检查对象的同时透射CT和荧光CT成像，大大提高了现有的荧光CT成像的速度。
射线透射荧光 ct 成像系统方法

[实用新型]多能点准单能X射线源-CN201720088861.9有效
发明人：徐涛;王峰;梅雨;苏明;刘慎业 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2017-01-23 - 公布日： 2017-09-29 - 主分类号： H05G1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种多能点准单能X射线源，包括防护箱以及设置在该防护箱内的X射线管，在所述防护箱内设有可转动的托盘和可移动的光阑，在所述防护箱上设有准直部件，所述X射线管上具有出射窗口，在所述托盘上设有至少两块荧光片，出射窗口出射的X射线依次经过荧光片、光阑和准直部件后向防护箱外出射，所述荧光片均为单质金属材料，从其中一块荧光片出射的荧光X射线的能点大于或小于从其余任一块荧光片出射的荧光X射线的能点。采用本实用新型提供的多能点准单能X射线源，结构新颖，易于实现，能够出射能点可调的单能荧光X射线，并且近似呈点出射，空间分布均匀，荧光X射线的发散角及强度均可调。
多能点准单能射线

[发明专利]浓度测量方法和荧光X射线分析装置-CN201010535977.5有效
发明人：大泽澄人 -专利权人：株式会社堀场制作所
申请日： 2010-11-03 - 公布日： 2011-05-25 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明提供一种浓度测量方法和荧光X射线分析装置。在本发明中，对含有硫等对象成分的液体燃料等试样进行荧光X射线分析。从通过荧光X射线分析获得的光谱求出的对象成分的荧光X射线强度，减去与散射X射线及系统峰有关的背景噪声。对减去背景噪声后的荧光X射线强度进行与试样的组成对应的修正。预先确定表示对减去背景噪声后的荧光X射线强度进行修正后的值与对象成分浓度的关系的标准曲线。根据标准曲线计算试样中的对象成分浓度。
浓度测量方法荧光射线分析装置

[发明专利]X射线成像设备和荧光图像显示设备-CN200710144185.3有效
发明人：林梅;李寰中 -专利权人： GE医疗系统环球技术有限公司
申请日： 2007-12-28 - 公布日： 2009-07-01 - 主分类号： A61B6/02 文献下载
摘要：本发明实现一种X射线成像设备和荧光图像显示设备，它们能够通过显示荧光图像容易地获得受检对象的姿势信息。该X射线成像设备和荧光图像显示设备是这样一种X射线成像设备，其探测从X射线辐射器辐射出且经过受检对象的X射线来拍摄荧光图像，包括：在X射线入射平面的一角具有可视指示器的X射线探测器；显示装置，用于显示基于X射线探测器的探测信号的荧光图像和与所述指示器对应的定位标记；和书写装置，用于将指示受检对象姿势的标记书写在显示的荧光图像上。
射线成像设备荧光图像显示

[发明专利]放射线图像检测装置和放射线摄影装置-CN201280009797.0无效
发明人：金子泰久;中津川晴康 -专利权人：富士胶片株式会社
申请日： 2012-02-20 - 公布日： 2013-11-06 - 主分类号： G01T1/20 文献下载
摘要：公开了一种放射线图像检测装置，所述放射线图像检测装置配置为当使得放射线图像检测装置的传感器面板弯曲以提高图像的锐度时，抑制对荧光体的破坏。所述放射线图像检测装置(3)包括：荧光体(60)，所述荧光体含有通过放射线暴露而发射荧光的荧光材料；和传感器面板(61)，所述传感器面板设置为与所述荧光体紧密接触，并且检测从所述荧光体发射的荧光。所述荧光体包括柱状部，所述柱状部由一组柱状晶体(82)形成，所述柱状晶体通过以柱的形状生长所述荧光材料的晶体而形成，放射线入射面在所述荧光体的相反侧设置在所述传感器面板中，并且所述传感器面板具有柔韧性并且是弯曲的，以使曲率中心位于所述放射线入射面的那一侧。
放射线图像检测装置摄影

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