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[发明专利]瓷外壳功率型电阻器开封分析方法-CN202111460764.5在审
发明人：范士海 -专利权人：航天科工防御技术研究试验中心
申请日： 2021-12-02 - 公布日： 2022-04-29 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本申请提供一种瓷外壳功率型电阻器开封分析方法，所述方法包括：失效点位置及失效原因分析方法；失效点位置及失效原因分析方法包括：获取电阻器的问题外观图像和问题内部图像；根据问题外观图像和问题内部图像确定疑似失效点位置；对电阻器的外壳进行化学溶解暴露出电阻膜；获取电阻膜的问题图像；结合问题图像和疑似失效点位置确定失效点位置；根据问题图像确定失效点位置的疑似失效原因；对电阻膜进行能谱分析得到能谱分析结果；结合能谱分析结果和疑似失效原因确定失效原因通过结构定位、物理测试和化学腐蚀相结合的方式进行开封分析，解决了瓷外壳功率型电阻器的失效分析问题，具有针对性强，操作简单的特点。
外壳功率电阻器开封分析方法

[发明专利]嵌入在FMEA系统中的失效分析方法及装置-CN202110067723.3在审
发明人：曹旭峰;熊竹琴;杨莉萍;赵群峰;钟瑞玉 -专利权人：聪脉（上海）信息技术有限公司
申请日： 2021-01-19 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本申请公开了一种嵌入在FMEA系统中的失效分析方法及装置，方法包括：采集目标企业的问题数据并存入企业失效问题库，分析企业失效问题库的问题数据以生成经验内容，并基于经验内容生成经验库；利用鱼骨图和产品设计原因图对问题数据分析，得到失效原因，并根据失效原因生成至少一个失效措施；调用经验库的经验内容，生成待分析FMEA项目中的失效模式及失效原因，并将与失效原因对应的至少一个失效措施带入FMEA项目中，经验内容可被横向展开到产品族该方法解决了在做FMEA时，仅针对当前项目产品进行分析，历史经验教训难被识别应用在新项目中，导致生产问题、质量问题重复再发，造成质量损失，影响企业声誉的问题，从而可以有效防止问题再发。
嵌入 fmea 系统中的失效分析方法装置

[发明专利]一种从问题数据中提取失效模式的方法及系统-CN200410055191.8有效
发明人：辛小红;姚益民;周平平;毛慧;陈亿发 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2004-08-12 - 公布日： 2006-02-15 - 主分类号： G06F17/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种从问题数据中提取失效模式的方法，用于分析产品运行时产生的问题数据，包括步骤：获取产品运行产生的问题数据；判断所述问题数据是否符合失效模式描述标准，如果否，则将所述问题数据转换成符合失效模式描述标准的问题数据；如果是，则将前述符合失效模式描述标准的问题数据作为失效模式进行存储。本发明还公开了一种从问题数据中提取失效模式的系统。
一种问题数据提取失效模式方法系统

[发明专利]电子产品失效分析方法-CN201010137027.7无效
发明人：游永兴 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2010-03-31 - 公布日： 2011-10-05 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明提供一种电子产品失效分析方法，该方法包括如下步骤：从存储装置中获取失效电子产品的失效信息；根据所获取的失效信息进行失效复制验证，以验证所获取的失效信息对应的失效现象能否复制；当所获取的失效信息对应的失效现象不能复制时，对失效电子产品进行测试以判断所述失效电子产品的失效原因是否属于不能复制问题；当所述失效电子产品不属于不能复制问题时，判断所述失效电子产品是否未出故障。
电子产品失效分析方法

[发明专利]一种raid卡保险失效分析的方法-CN201710640338.7在审
发明人：李刚 -专利权人：郑州云海信息技术有限公司
申请日： 2017-07-31 - 公布日： 2017-11-28 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开一种raid卡保险失效分析的方法，涉及FA分析技术，面向量产raid板卡保险失效，从保险失效机理分析、保险失效因子分析、保险失效因子验证、保险失效预防及改进对策的多方面FA分析，通过不断的分析验证，直接找到问题的根源所在，简单快捷地完成raid卡保险失效分析。本发明解决量产raid卡自检异常，有利于raid卡保险失效分析的规范化，提升了raid卡保险失效问题的分析思路和分析效率，提高了量产raid卡良率。
一种 raid 保险失效分析方法

[发明专利]一种晶圆良率问题数据库的搜索方法和装置-CN202110407543.5有效
发明人：徐文丞;易丛文;林孟喆;戴静安 -专利权人：筏渡（上海）科技有限公司
申请日： 2021-04-15 - 公布日： 2022-05-31 - 主分类号： G06F16/245 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种晶圆良率问题数据库的搜索方法和装置，晶圆良率问题数据库为预先建立的，其中包括多个失效类别及其相关的失效特征和对应的指证性数据，该方法包括：在多个第一晶圆图中确定存在预定的失效模式的若干第二晶圆图；提取第二晶圆图的第一失效特征，据以确定第二晶圆图的第一失效类别；根据第一失效类别和多个失效类别的失效特征的相似度，确定多个失效类别中的若干第二失效类别、以及第一失效类别与第二失效类别的失效特征匹配数量；根据第一失效类别和第二失效类别的指证性数据的相似度，确定第一失效类别与各第二失效类别的指证性数据匹配数量；根据失效特征和指证性数据匹配数量，对若干第二失效类别进行第一排序并展示。
一种晶圆良率问题数据库搜索方法装置

[发明专利]软件定义网络中分布式控制平面的鲁棒性验证方法及装置-CN201910306391.2有效
发明人：郭得科;谢俊杰;郭杨;夏俊旭;谷思远 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2019-04-16 - 公布日： 2021-06-08 - 主分类号： H04L12/933 文献下载
摘要：本发明提供了一种网络控制领域的软件定义网络中分布式控制平面的鲁棒性验证方法及装置，包括：构建鲁棒性验证框架，鲁棒性验证框架容纳了失效场景集和失效恢复策略集；选定失效恢复策略，查找失效恢复策略下的最差失效场景；验证最差失效场景与失效恢复策略组合下控制平面中最大控制器的利用率；根据利用率对控制平面的鲁棒性进行验证。本发明将分布式控制平面的验证问题作为一个各种不同失效情形以及失效恢复策略下的鲁棒优化问题，通过选定失效恢复策略以后，找到最差的失效场景，来判断控制平面的性能是否符合需求。
软件定义网络分布式控制平面鲁棒性验证方法装置

[实用新型]一种失效检测电路及电子设备-CN201921765885.9有效
发明人：刘武;唐文龙;张恩利 -专利权人：深圳创维数字技术有限公司
申请日： 2019-10-21 - 公布日： 2020-09-15 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种失效检测电路及电子设备，失效检测电路包括检测模块和开关控制模块，开关控制模块分别与检测模块和待检测元件电连接；开关控制模块用于控制检测模块与待检测元件的通断，检测模块用于检测待检测元件是否失效本实用新型公开的失效检测电路结构简单，成本低，改善了失效检测电路结构复杂，成本较高的问题，且失效检测电路利用开关控制模块进行了隔离电路的设计，在能够有效检测待检测元件是否失效的同时，避免了引入寄生参数影响失效检测电路的电气性能的问题
一种失效检测电路电子设备

[发明专利]一种基于多系统集成的产品设计风险分析方法及系统-CN202110610950.6在审
发明人：李和众;常娟;严鉴铂;刘义;樊波涛;王曼利;杨乐 -专利权人：西安法士特汽车传动有限公司
申请日： 2021-06-01 - 公布日： 2021-09-07 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于多系统集成的设计风险分析方法及系统，包括以下步骤：实验委托信息、实验报告信息、试制问题、生产问题和售后问题得到经验信息；物料清单数据建立产品设计失效模式及后果分析结构树并以产品设计失效模式及后果分析结构树为基础，参考技术标准信息和经验信息，给出产品设计失效模式及后果分析报告；根据工艺过程清单数据建立过程设计失效模式及后果分析结构树并以过程设计失效模式及后果分析结构树为基础，参考工艺资源库数据和经验信息，给出过程设计失效模式及后果分析报告；根据产品设计失效模式及后果分析报告和过程设计失效模式及后果分析报告得出产品设计风险分析结果。
一种基于系统集成产品设计风险分析方法系统

[发明专利]失效图形的获取方法和获取装置-CN202010730179.1在审
发明人：林家圣 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2020-07-27 - 公布日： 2022-02-01 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：一种失效图形的获取方法和获取装置，其中失效图形的获取方法，包括：包括：获得一晶圆内的芯片测试结果图像，所述芯片测试结果图像中标记有若干失效测试点；计算所有失效测试点间每两点的向量；将具有相同向量的若干失效测试点定为同一群体；从每一个群体中分出若干种待定失效图形；基于所述若干种待定失效图形获得失效图形。通过前述步骤可以准确和快速的获得失效图形，所述失效图形用于判断测试机台是否存在问题，如果获得了失效图形，则可判断所述测试机台的测试环境存在问题，从而测试人员可以对测试机台的测试环境(比如对测试程序进行修改
失效图形获取方法装置

[发明专利]一种晶圆允收测试结构-CN201310703869.8在审
发明人：钟怡;陈文磊;宋春 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2013-12-19 - 公布日： 2015-06-24 - 主分类号： H01L23/544 文献下载
摘要：本申请公开了一种晶圆允收测试结构，该结构将两套测试图案结合起来，不但能够监控金属互连层失效问题，而且能够监控金属互连层之间的连接孔的失效问题，因此能够更有效、全面地监控金属-氧化物-金属（MOM）器件的失效问题
一种晶圆允收测试结构

[发明专利]一种基于RE的齿轮失效部位特征重构方法-CN202010773588.X在审
发明人：姜兴宇;张超;刘傲;高云;张凯;卞宏友;刘伟军 -专利权人：沈阳工业大学
申请日： 2020-08-04 - 公布日： 2021-01-15 - 主分类号： G06F30/17 文献下载
摘要：本分明涉及一种基于RE的齿轮失效部位特征重构方法,属于逆向工程技术领域和齿轮再制造领域。步骤如下：1：对失效齿轮进行线切割处理，去除其残余应力层以及对失效齿轮着色处理2：通过扫描失效齿轮表面特征获取点云数据；3：对失效齿轮表面点云数据进行去除异常点、降噪、封装、简化并填充孔洞；4：基于逆向工程原理对失效齿轮进行重建本发明解决了现阶段齿轮再制造中失效部位模型重构的精度问题，为齿轮失效部位的特征重构提供了一种有效方法，以解决齿轮失效部位重构模型精度低的问题，为提高齿轮再制造修复质量打下基础。
一种基于 re 齿轮失效部位特征方法

[发明专利]柔性阳极阴极保护系统失效原因排查和恢复方法及装置-CN202310311386.7有效
发明人：刘瑶;陈涛涛;陈飞;赵钊;车子萍;李彦爽;邢琳琳;罗辰;刘莹莹;赵陈捷;葛彩刚;孙燕;杜艳霞;李暹;马帅杰 -专利权人：北京市燃气集团有限责任公司
申请日： 2023-03-28 - 公布日： 2023-09-26 - 主分类号： G01N17/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种柔性阳极阴极保护系统失效原因排查和恢复方法及装置，可以解决燃气管道行业内采用柔性阳极的阴极保护系统失效问题排查和处理，提供柔性阳极阴极保护系统失效原因的排查和恢复方法，具有针对性和可操作性强的优点；可有效的排查燃气管道行业内柔性阳极阴极保护系统失效的问题，并准确的提出失效恢复的方法，对失效的柔性阳极阴极保护系统的管理提供指导。
柔性阳极阴极保护系统失效原因排查恢复方法装置

[发明专利]晶圆区域性问题的分析系统及方法-CN202110310750.9有效
发明人：杨恭乾;路峰;高大会;闻国涛;骈文胜 -专利权人：上海伟测半导体科技股份有限公司
申请日： 2021-03-24 - 公布日： 2021-06-08 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明揭示了一种晶圆区域性问题的分析系统及方法。本发明提供的晶圆区域性问题的分析系统包括失效抓取模块，抓取每个测试点的失效情况；失效模型模块，具有设定的失效模型；失效模型匹配模块，根据所抓取的每个测试点的失效情况，与所述失效模型进行匹配，当获得匹配时，输出对应的多个测试点的位置和失效代码；待处理模块，根据所述多个测试点的位置，获得在所述多个测试点周围区域测试通过的点的位置，列为有风险的测试点。
区域性问题分析系统方法

[发明专利]一种半导体器件失效分析的方法-CN201410469022.2有效
发明人：张宇飞;罗旭;仝金雨;苏捷峰 -专利权人：武汉新芯集成电路制造有限公司
申请日： 2014-09-15 - 公布日： 2018-08-03 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明涉及半导体可靠性分析领域，尤其涉及一种半导体器件失效分析的方法。本发明建立一种针对存储器的失效分析的方法，通过对失效区域及其周围区域的连接通孔进行电压对比分析并对电压对比分析结果剖析，以检测出快闪存储器由于冗余替换的存储区域缺陷经过可靠性测试或实际使用后造成的临近区域的失效问题在可靠性失效中对冗余替换的信息进行分析，为冗余电路的替换造成的可靠性失效问题提供有力的分析依据，并对可靠性失效率的降低提供了分析及改善的方向。
一种半导体器件失效分析方法

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