专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种关联成像系统-CN201410125688.6有效
  • 李明飞;吴令安 - 中国科学院物理研究所
  • 2014-03-31 - 2014-07-30 - G02B27/00
  • 本发明提供了一种关联成像系统,用于利用热光源对待成像物体进行关联成像,包括:物臂光路,其中设有第一桶探测和待成像物体,第一桶探测采样物臂光路中经过待成像物体后的总光场强度信号Sm;第一参考臂光路,其中设有采样第一参考臂光路的光场强度分布信息的参考探测装置;参考探测装置包括至少一个参考探测单元,每一参考探测单元包括时序控制和由其控制的多个具有空间分辨能力的参考探测,在时序控制控制下多个参考探测能依次进行曝光以进行采样。本发明采用多个参考探测按时间顺序交替曝光,使得曝光帧率可迭加起来,突破了现有参考探测在采样速度上的限制,从而大大提高了采样速度,缩短了成像时间。
  • 一种关联成像系统
  • [发明专利]微波探测及其副波瓣抑制方法-CN202010663500.9在审
  • 邹高迪;邹新 - 深圳迈睿智能科技有限公司
  • 2020-07-10 - 2020-10-16 - H01Q15/00
  • 本发明公开了一微波探测及其副波瓣抑制方法,其中所述微波探测包括一探测本体和一抑制本体。所述抑制本体具有一第一表面和对应于所述第一表面的一第二表面。所述探测本体包括一参考地和被邻近地设置于所述参考地的一辐射源以及具有形成于所述辐射源和所述参考地之间的一辐射间隙,其中所述探测本体被邻近地设置于所述抑制本体,并且所述探测本体的所述参考地朝向所述抑制本体的所述第一表面当所述探测本体的所述参考地和所述辐射源相耦合而产生和发射探测微波时,所述抑制本体抑制探测微波的副波瓣而仅使探测微波具有主波瓣,从而减小所述微波探测的自激干扰。
  • 微波探测器及其副波瓣抑制方法
  • [实用新型]微波探测-CN202021361399.3有效
  • 邹高迪;邹新 - 深圳迈睿智能科技有限公司
  • 2020-07-10 - 2021-02-09 - H01Q15/00
  • 本实用新型公开了一微波探测,其包括一探测本体和一抑制本体。所述抑制本体具有一第一表面和对应于所述第一表面的一第二表面。所述探测本体包括一参考地和被邻近地设置于所述参考地的一辐射源以及具有形成于所述辐射源和所述参考地之间的一辐射缝隙,其中所述探测本体被邻近地设置于所述抑制本体,并且所述探测本体的所述参考地朝向所述抑制本体的所述第一表面当所述探测本体的所述参考地和所述辐射源相耦合而产生和发射探测微波时,所述抑制本体抑制探测微波的副波瓣而仅使探测微波具有主波瓣,从而减小所述微波探测的自激干扰。
  • 微波探测器
  • [发明专利]一种参考与测量一体化的双功能光电探测及检测系统-CN202010646278.1在审
  • 宋子毅 - 宋子毅;武汉市翎风光电科技有限公司
  • 2020-07-07 - 2020-10-30 - G01N21/39
  • 本发明涉及一种参考与测量一体化的双功能光电探测及检测系统,包括参考光电探测、测量光电探测和分光光纤准直;所述参考光电探测内设有参考气室,且所述参考气室内填充有被测气体;所述分光光纤准直包括光入射接头、平行光出光头、反射光出光头和光纤组件;所述平行光出光头通过所述光纤组件分别与所述光入射接头和所述反射光出光头光路连接;所述参考光电探测与所述平行光出光头光路连接,所述测量光电探测与所述反射光出光头光路连接本发明将参考功能的光电探测、测量功能的光电探测和分光功能的光分路集成在一体,大大减少了整个检测系统的体积和重量,提高了气体检测灵敏度的稳定性和可靠性,并大大降低了成本。
  • 一种参考测量一体化功能光电探测器检测系统
  • [实用新型]一种内置分光参考气室光电探测-CN202221146939.5有效
  • 许请 - 武汉市翎澜光电科技有限公司
  • 2022-05-12 - 2023-06-16 - G01N21/39
  • 本实用新型涉及一种内置分光参考气室光电探测,包括第一参考光电探测、光纤分光准直;所述光纤分光准直通过耦合固定组件耦合固定在所述第一参考光电探测上;所述第一参考光电探测包括TO封装的光电探测参考气室,参考气室内填充有参考气体;光纤分光准直包括入射光纤、第一反射光纤、自聚焦透镜;所述自聚焦透镜出光端面镀制有分光用的半透半反膜;所述入射光纤和第一反射光纤穿过所述光纤固定玻璃管耦合固定在自聚焦透镜入光端面附近本实用新型通过集成分光进行分束或分波,以方便、灵活地实现参考测量一体化探测、多气体检测用带参考气室探测
  • 一种内置分光参考光电探测器
  • [发明专利]雪崩光电平衡探测-CN202210718970.X在审
  • 宋俊峰;李雪童;刘小斌;李盈祉;陈柏松;李雪妍;郜峰利 - 吉林大学
  • 2022-06-23 - 2022-11-01 - H01L31/107
  • 本发明提供一种雪崩光电探测,包括:光混合分束、第一雪崩光电探测和第二雪崩光电探测;将信号光和参考光分别通过光纤输入至光混合分束,光混合分束器用于将信号光和参考光进行混合后再输出均带有信号光和参考光信息的第一光束和第二光束;第一雪崩光电探测和第二雪崩光电探测分别包括探测区和雪崩区;第一光束和第二光束通过光纤分别进入第一雪崩光电探测和第二雪崩光电探测探测区后形成电子或空穴传输至雪崩区中;第一雪崩光电探测和第二雪崩光电探测的雪崩区为直接连接本发明所需的本地参考光光功率得到降低,同时差频电信号功率得到大幅度提升,降低了后续放大电路的压力。
  • 雪崩光电平衡探测器
  • [发明专利]气体传感的温度补偿-CN201580020053.2有效
  • E·P·格雷蒂 - 皇家飞利浦有限公司
  • 2015-04-02 - 2019-07-23 - G01N21/3504
  • 采用辐射源(20)和辐射传感(30)的目标气体传感包括参考辐射探测(31)、目标辐射探测(32)、温度传感(34)、温度控制(35)、以及目标气体探测处理(37)。在操作中,辐射源(20)控制辐射(RAD)传播通过由气道(10)所容纳的气体混合物(GM)至辐射传感(30)。参考辐射探测(31)生成参考探测信号(RD),所述参考探测信号指示辐射的参考波长(λREF)的被测幅值,并且目标辐射探测(32)生成目标探测信号(TD),所述目标探测信号指示辐射的目标波长温度传感(34)感测辐射探测(31,32)的温度,其中,温度控制(35)相对于经调节的探测温度(TREG)调节辐射探测(31,32)的加热。目标气体探测处理(37)根据吸收光谱响应比率(SRRA)和温度补偿(TPC)来测量气体混合物(GM)样本中的目标气体浓度。
  • 气体传感器温度补偿
  • [发明专利]一种参考气室光电探测及其制造方法-CN202210520766.7在审
  • 许请 - 武汉市翎澜光电科技有限公司
  • 2022-05-12 - 2023-05-23 - G01N21/39
  • 本发明涉及一种参考气室光电探测及其制作方法,其包括第一参考光电探测、光纤分光准直;所述光纤分光准直通过耦合固定组件耦合固定在所述第一参考光电探测上;所述第一参考光电探测包括TO封装的光电探测参考气室,所述参考气室内填充有参考气体;所述光纤分光准直包括入射光纤、N个反射光纤、自聚焦透镜;所述自聚焦透镜出光端面设置有N个分光用的半透半反膜层;所述入射光纤和所述N个反射光纤穿过所述光纤固定玻璃管耦合固定在自聚焦透镜入光端面附近本发明可以方便、灵活地实现参考测量一体化探测、多气体检测用带参考气室探测
  • 一种参考光电探测器及其制造方法

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