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[发明专利]一种防热瓦高温发射率测量试验装置及方法-CN201710270842.2有效
发明人：王飞;周丹;康宏琳;朱国祥;罗金玲 -专利权人：北京空天技术研究所
申请日： 2017-04-24 - 公布日： 2020-10-23 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本发明提出一种防热瓦高温发射率测量试验装置及方法，包括防热瓦试件、光谱发射率测量系统、法向发射率测量系统、功率温度测量系统和处理单元。本发明实现了防热瓦高温发射率的测量，填补了国内在高温状态防热瓦发射率测量领域的空白，为实现更加准确的结构热防护设计和评估提供指导依据，具有很好的科学意义与工程应用前景。
一种防热高温发射测量试验装置方法

[发明专利]一种基于光线捕获的高发射率星载黑体辐射源的设计方法-CN202210384936.3在审
发明人：郝小鹏;周晶晶;宋健 -专利权人：中国计量科学研究院
申请日： 2022-04-13 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： G01J5/53 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于光线捕获的高发射率星载黑体辐射源的设计方法，首先从光路传输模型上确定了黑体辐射源的多次反射和吸收以达到高发射率的机理。通过仿真模拟的手段研究了黑体辐射源的发射率随表面设置、位置、角度等变化的规律。通过制作两个黑体辐射源样件开展对波段发射率和光谱发射率的测量实验，比对仿真和实验结果的差异，显示实验结果与仿真结果一致，表面反射分量为近镜面反射的基于光线捕获的星载黑体辐射源具有更高的发射率和更好的发射率均匀性
一种基于光线捕获发射率星载黑体辐射源设计方法

[发明专利]一种光谱发射率的测量方法及系统-CN202110777853.6有效
发明人：吴军;马建光;刘超;李大成;王安静;李扬裕;崔方晓 -专利权人：中国科学院合肥物质科学研究院;中国人民解放军32801部队
申请日： 2021-07-09 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01J5/53 文献下载
摘要：本发明提供一种光谱发射率的测量方法及系统，所述光谱发射率的测量方法包括：采用红外光源照射目标；获取所述目标的光谱辐射亮度和环境光谱辐射亮度；获取所述目标在多个温度下的黑体辐射亮度；通过所述光谱辐射亮度、所述环境光谱辐射亮度、以及多个所述黑体辐射亮度，获取多个温度下，所述目标的光谱发射率曲线；获取每个所述光谱发射率曲线的粗糙度指标，并将所述粗糙度指标最小时的对应的温度作为最佳温度；以及获取所述最佳温度时，所述目标的光谱发射率。本发明提供的光谱发射率的测量方法，能够较的精确获取目标的光谱发射率。
一种光谱发射测量方法系统

[发明专利]一种双发射率红外测温仪及温度测量实现方法-CN202010766688.X在审
发明人：苗涛;尚会森;高帅;赵峥;郭志超;梁继东 -专利权人：洛阳万基铝加工有限公司
申请日： 2020-08-03 - 公布日： 2020-10-30 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：一种双发射率红外测温仪及温度测量实现方法，所述双发射率红外测温仪为测温仪中设置有两个红外测温模块，两个红外测温模块设置有不同的发射率；或一个红外测温仪中设置有两个发射率；用两个不同发射率测量同一被测物体的温度，测得两个不同的温度值；根据测量出的两个不同的温度值及两个不同的发射率建立联立方程组，求解后即可得到被测量被测物体的实际温度；本发明的双发射率红外测温仪在测量物体温度时，自动排除了被测物体发射率对测温结果的影响，即使在不知道被测物体发射率的情况下，仍然可以准确测得被测物体的实际温度，因此解决了当前红外测温技术领域的一大技术难题。
一种发射红外测温温度测量实现方法

[发明专利]一种基于双极化类发射率的裸露土壤含水量反演方法-CN202010833042.9有效
发明人：张涛;王光辉;齐建伟;戴海伦;郑利娟;张伟;魏海 -专利权人：自然资源部国土卫星遥感应用中心
申请日： 2020-08-18 - 公布日： 2021-05-25 - 主分类号： G01N33/24 文献下载
摘要：本发明涉及微波遥感领域，公开了一种基于双极化类发射率的裸露土壤含水量反演方法，包括步骤：模拟在不同观测条件和土壤条件下的微波辐射亮温；将微波辐射亮温分别转换为类发射率，获得微波辐射亮温类发射率数据集；根据双极化类发射率加权方程式获得双极化类发射率加权变量；建立双极化类发射率加权变量与裸露土壤含水量之间的关系式，根据双极化类发射率加权变量反演裸露土壤含水量。本发明定义了类发射率，避免了温度数据给土壤含水量反演过程造成的误差，提高了反演精度，本发明通过双极化类发射率加权消除了地表粗糙度对微波辐射信号的影响，同时避免了传统反演方法中不同地表条件采用经验的粗糙度参数带来的裸露土壤含水量反演误差问题
一种基于极化发射裸露土壤含水量反演方法

[发明专利]一种二氧化钛复合填料及其制备方法、反射隔热涂料-CN201811609531.5在审
发明人：王海平 -专利权人：江苏仁通节能科技有限公司
申请日： 2018-12-27 - 公布日： 2019-05-03 - 主分类号： C09D5/33 文献下载
摘要：本发明对中空玻璃微球进行活化改性，有效改善了中空玻璃微球表面的活性，确保二氧化钛晶体在微球表面的紧密沉积，提高了玻璃微球表面二氧化钛薄膜包覆率与薄膜包覆均匀性；通过控制四氯化钛乙醇溶液浓度、四氯化钛乙醇溶液滴加和搅拌速度，形成不同粒径的二氧化钛晶体，极大提高包覆微球对太阳光的发射率；通过二氧化钛复合填料所制备的反射隔热涂料反射隔热性能显著提高，半球发射率、太阳光反射比、近红外发射率均超过90％，具有优良的附着力、柔韧性
反射隔热涂料二氧化钛复合填料制备二氧化钛晶体中空玻璃微球四氯化钛乙醇溶液附着力二氧化钛薄膜涂料技术领域半球发射率红外发射率太阳光反射柔韧性玻璃微球反射隔热活化改性耐酸耐碱微球表面综合性能包覆率薄膜包发射率均匀性太阳光包覆滴加粒径微球沉积

[发明专利]粗糙面发射率分析方法及系统-CN202210466750.2在审
发明人：樊振宏;林佳男;李兆龙;丁大志;李猛猛;何姿 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2022-04-29 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种粗糙面发射率分析方法及系统，该方法为：首先生成粗糙面几何模型，并通过八叉树分组将其分解成若干个小组；其次利用Stratton‑Chu公式计算每个小组经相位补偿后的散射电场；然后将每个小组的散射电场进行散射俯仰角、散射方位角和入射俯仰角三个角度域的三维插值，通过相位恢复以及聚合得到整个粗糙面的散射电场；最后将计算的散射电场转换为双站散射系数并在半球空间内积分得到反射率，根据能量守恒计算每个入射角的发射率。该方法较近似解析方法，突破了粗糙面粗糙度的限制，适用于分析任何粗糙度的粗糙面发射率；较矩量法、有限差分、有限元等数值方法具有更快的计算速度。
粗糙发射分析方法系统

[发明专利]一种全固态结构的电致变发射率器件及其制备方法和应用-CN202211574085.5在审
发明人：刘东青;程柏璋;程海峰;贾岩 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2022-12-08 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G02F1/1523 文献下载
摘要：一种全固态结构的电致变发射率器件及其制备方法和应用，从上到下依次包括变发射率金属层、金属催化层、电解质层、离子储存层及对电极。本发明的全固态结构的电致变发射率器件，可通过通电的方式实现器件红外发射率的可逆变化，且不额外使用红外透明电极。该器件实现了红外透明电极和变发射率层的一体化，降低了制备成本及工艺复杂程度，并且可以一定程度上提升器件的发射率变化量。
一种固态结构电致变发射器件及其制备方法应用

[发明专利]考虑城市三维结构影响的地表温度与发射率同时反演方法-CN202210791903.0有效
发明人：段四波;茹晨;李召良;黄成;张霄羽 -专利权人：中国农业科学院农业资源与农业区划研究所
申请日： 2022-07-05 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G06F30/13 文献下载
摘要：本发明公开了一种考虑城市三维结构影响的地表温度与发射率同时反演方法，利用ECOSTRESS多波段的热红外数据，通过引入天空可视因子表征城市三维几何结构，结合分裂窗方法和温度/发射率分离方法各自的优点，利用分裂窗方法进行大气校正，在此基础上，利用温度/发射率分离方法实现地表温度与发射率分离，提出了一种考虑城市三维结构影响的地表温度与发射率同时反演的方法，该方法无需输入城市地表发射率，并且实现了地表温度与发射率的同时反演，从而提高城市地表温度反演精度
考虑城市三维结构影响地表温度发射同时反演方法

[发明专利]基于光学和红外图像融合的低发射率涂层智能探损方法-CN202011187315.3在审
发明人：魏小龙;徐浩军;武欣;李益文;李玉琴;何卫锋;裴彬彬;聂祥樊;华为卓;陈戈 -专利权人：中国人民解放军空军工程大学
申请日： 2020-10-30 - 公布日： 2021-01-22 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于光学和红外图像融合的低发射率涂层智能探损方法，首先，建立或选择卷积神经网络，并对其进行训练和优化，得到用于检测低发射率涂层损伤的卷积神经网络模型；获取待检测的低发射率涂层的光学图像以及与其同位置、同视角、同尺寸的红外图像，并对获取的光学图像及与其同位置、同视角、同尺寸的红外图像进行图像融合，得到待检测的低发射率涂层的融合图像；对待检测的低发射率涂层的融合图像进行归一化处理，得到待检测的数据样本；最后，将待检测的数据样本输入用于检测低发射率涂层损伤的卷积神经网络模型，对待检测的低发射率涂层进行损伤自动检测，实现了低发射率涂层损伤的自动、快速检测，准确率达到95％以上。
基于光学红外图像融合发射涂层智能方法

[发明专利]一种基于辐照反射法的曲面红外发射率测量方法-CN202211237072.9在审
发明人：李益文;张浦幼森;黄龙飞;李瑶;陈戈;化为卓 -专利权人：中国人民解放军空军工程大学
申请日： 2022-10-10 - 公布日： 2023-01-13 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于辐照反射法的曲面红外发射率测量方法，包括在对待测目标和参考体施加两次不同能量的主动辐照下，分别采集待测网格和参考体参考点的红外辐射亮度，通过计算得到待测网格的测量红外发射率；对三种不同类型辐射源的物理光照方程进行公式推导，得到待测网格红外发射率的修正系数，对待测网格测量计算得到的测量红外发射率进行修正，得到修正后待测网格红外发射率。本发明适用于均匀平行辐照、点源辐照、小面源辐照类型下不同曲面的红外发射率精确测量；采用辐照反射法，消去了大气透过率、环境辐射及大气辐射对红外发射率测量精度的影响；对曲面目标上所有的待测网格逐一进行修正，实现了曲面目标红外发射率的精确测量。
一种基于辐照反射曲面红外发射测量方法

[发明专利]耐高温、抗氧化红外低发射率复合薄膜及其制备方法-CN202010138304.X在审
发明人：张丽;马晓东;张敏;殷举航;代灵鹭;文静;翁小龙;陆海鹏;邓龙江 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2020-03-03 - 公布日： 2020-06-23 - 主分类号： C23C14/35 文献下载
摘要：本发明属于红外隐身技术领域，具体是涉及一种耐高温、抗氧化红外低发射率复合薄膜及其制备方法。耐高温、抗氧化的低红外发射率复合薄膜，为双功能层叠加结构，从下至上依次包括低发射率功能层、氧化隔绝层，使用时以其最下层覆着于目标物体表面；低发射率功能层为连续成膜的高温导电陶瓷薄膜，氧化隔绝层为Al发射率复合薄膜实现在750℃高温有氧环境下使用2h后，8‑14um的发射率小于0.1；发射率、高温稳定性优良，其制备方法操作简易，成本低廉。
耐高温氧化红外发射复合薄膜及其制备方法

[发明专利]一种基于MODIS数据和Transformer网络的地表热红外发射率反演方法-CN202210847111.0有效
发明人：李俊;张玥杰;盛庆红;王博 -专利权人：南京航空航天大学
申请日： 2022-07-19 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G06F30/27 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于MODIS数据和Transformer网络的地表热红外发射率反演方法，包括：获取MODIS数据；对获取的MODIS数据进行数据预处理，得到网络训练数据集；构建基于Transformer的深度学习网络，通过深度学习网络对网络训练数据集中的训练数据进行训练，生成地表热红外发射率反演模型；利用生成的地表热红外发射率反演模型反演地表热红外发射率，得到地表热红外发射率数据，并评定反演精度。本发明利用MODIS数据和Transformer网络构建一种不需大气校正的快速、高精度地表热红外发射率反演模型，有效解决了传统地表热红外发射率反演算法受大气和云干扰的问题，具有良好的准确性和普适性。
一种基于 modis 数据 transformer 网络地表红外发射反演方法

[发明专利]一种通过图像分割修正表面发射率的红外热成像测温方法-CN201310097108.2有效
发明人：徐立军;李小路;成艳亭;陈路路 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2013-03-25 - 公布日： 2013-07-10 - 主分类号： G01J5/00 文献下载
摘要：一种通过图像分割修正表面发射率的红外热成像测温方法；针对红外热像仪所拍摄目标对象表面的红外图像，利用图像分割算法，区分红外图像中发射率不同的区域；基于发射率测量仪测量不同区域的发射率，建立与红外图像像素一一对应的发射率分布矩阵，利用该发射率分布矩阵修正目标对象表面红外图像的灰度矩阵，从而得到符合目标对象表面发射率分布特征的红外图像，从而可以计算得到目标对象表面的温度场分布。现有红外热成像测温方法由于无法对目标对象表面的发射率分布进行正确设定而导致测温结果误差较大，本发明所提供的红外热成像测温方法能够有效减小误差，使得测温结果更符合目标对象表面实际的温度分布情况，该方法对设备要求简单
一种通过图像分割修正表面发射红外成像测温方法

[发明专利]热处理设备及其温度校准方法和装置-CN201110092854.3有效
发明人：任瑞龙;黄柏喻 -专利权人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
申请日： 2011-04-13 - 公布日： 2012-10-17 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：一种热处理设备的温度校准方法，适于在预定温度，通过测量标准片的校准点和第一点的温度进行温度校准，包括：校准具有第一发射率的标准片的校准点的温度；测量具有第二发射率的标准片的校准点和第一点的第二温度差值，并根据所述第二发射率和所述第二温度差值获得晶圆发射率与温度差值的线性常数；利用具有第三发射率的标准片对晶圆发射率与温度差值的线性关系进行验证，在验证结果超出预设范围时发出报警信号。利用本方法可以正确评估热处理设备的纠偏能力以及在晶圆低发射率时的温度侦测误差，从而避免了由于热处理设备的纠偏能力不足或晶圆的低发射率而影响晶圆的质量。
热处理设备及其温度校准方法装置