专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]电子内窥镜系统加速老化试验方法、装置、设备及介质-CN202310366496.3在审
  • 郭建丽 - 重庆金山医疗技术研究院有限公司
  • 2023-04-07 - 2023-07-14 - G01R31/00
  • 本申请公开了一种电子内窥镜系统加速老化试验方法、装置、设备及介质,涉及电子内窥镜系统领域,包括:确定对电子内窥镜系统进行加速老化存储试验和加速老化工作试验时分别允许的试验参数;将试验参数输入至加速老化模型以计算加速老化因子;计算电子内窥镜系统在预设使用期限内的总上电工作时长和总断电时长;根据基于加速老化因子、总上电工作时长和总断电时长计算出加速老化工作时间和加速老化存储时间,进而根据参数和时间这些试验条件对电子内窥镜系统进行加速老化试验本申请将加速老化试验分为加速老化存储和加速老化工作两部分,模拟实际临床中开机和关机的场景,使得试验更贴近电子内窥镜的实际使用情况,从而提高试验结果的准确性。
  • 电子内窥镜系统加速老化试验方法装置设备介质
  • [发明专利]加速老化试验箱-CN201810802842.7有效
  • 赵静;郑豪;迪丽热巴·阿迪力;罗宏杰 - 中国科学院上海硅酸盐研究所
  • 2018-07-20 - 2021-04-16 - G01N17/00
  • 本发明提供的加速老化试验箱用于加速模拟文物材料以及相关文物保护材料等老化加速,其能够实现实验条件与自然环境相似,同时可以实时记录。该加速老化试验箱包括:加速老化箱体;设于所述加速老化箱体内的用于承载文物样品的承载单元;对所述加速老化箱体内的温度进行控制的温度控制单元;对所述加速老化箱体内的湿度进行控制的湿度控制单元;对所述加速老化箱体内的光照进行控制的光照控制单元;向所述加速老化箱体内供给水流和/或气流的流体供给单元;实时在线记录所述文物样品的变化的记录单元;以及控制上述各单元的加速设置模块。
  • 加速老化试验
  • [发明专利]一种加速老化试验快速鉴定SCR催化剂老化程度的方法-CN202210191536.0在审
  • 王攀;吕星磊;赵虹钰;雷利利 - 江苏大学
  • 2022-02-28 - 2022-08-05 - G16C20/10
  • 本发明涉及一种加速老化试验快速鉴定SCR催化剂老化程度的方法。本发明以强酸位点数目为切入点,定量评价SCR催化剂的老化程度,将排气老化的SCR催化剂与实验室加速老化的联系起来。提出老化临界温度这个概念,忽略低于该温度时排气带来的老化效应,同时避免实验室加速老化温度高于催化剂性能崩塌点。在计算机环境下搭建了加速老化时间加速比模型,基于该模型可以计算SCR催化剂在不同排气状况下所需的实验室加速老化时间。在实验室环境下加速老化SCR催化剂,而后通过测试实验室加速老化的SCR催化剂,可以快速评价排气状况下的老化程度,极大地缩短了SCR催化剂的开发周期。
  • 一种加速老化试验快速鉴定scr催化剂老化程度方法
  • [发明专利]隔振器加速老化失效标准确定方法-CN201310499965.5在审
  • 赵艳涛;王海燕;祝捷 - 航天科工防御技术研究试验中心
  • 2013-10-22 - 2014-02-26 - G01M7/02
  • 本发明公开了一种隔振器加速老化失效标准确定方法,包括:确定隔振器的加速老化失效时间;采用相同的加速老化条件对隔振器进行加速老化处理;取经过不同加速老化时间老化的隔振器进行模拟夹具振动试验,测得经过不同加速老化时间对应的隔振器的阻尼比;取若干隔振器压缩试片进行压缩永久变形试验,测得经过不同加速老化时间对应的隔振器压缩试片的压缩永久变形保留率;分别对测得的所述隔振器的阻尼比及隔振器压缩试片的压缩永久变形保留率以及二者对应的加速老化时间进行拟合处理采用本发明提供的隔振器加速老化失效标准确定方法,得到的隔振器加速老化失效标准更具说服力和参考价值。
  • 隔振器加速老化失效标准确定方法
  • [发明专利]一种变压器使用寿命预估系统-CN201410737309.9在审
  • 秦海鹏 - 青岛泰威机床有限公司
  • 2014-12-05 - 2016-06-29 - G01R31/00
  • 本发明公开了一种变压器使用寿命估算系统,该变压器使用寿命估算系统系统包括:用于采集变压器监测数据的变压器监测数据采集模块,与变压器监测数据采集模块连接用于计算热老化加速老化因子的热老化加速老化计算模块,与变压器监测数据采集模块连接用于计算电热老化加速老化因子的电热老化加速老化计算模块,与热老化加速老化计算模块和电热老化加速老化计算模块连接用于计算变压器使用寿命的变压器使用寿命计算模块。
  • 一种变压器使用寿命预估系统
  • [发明专利]一种基于电池实际衰减机理的加速老化实验方法-CN202310026162.1在审
  • 孙涛;任心齐;郑岳久;时开彦;陆天鹏 - 上海理工大学
  • 2023-01-09 - 2023-04-11 - G01R31/392
  • 本发明公开了一种基于电池实际衰减机理的加速老化实验方法,包括:S1、在测试前让电池在C/3倍率下循环3次以获得稳定的性能,之后测试电池的初始性能;S2、以0.5C/‑1C的倍率进行充放电循环实验,模拟电池正常老化工况;S3、电池的短周期单应力加速老化对比实验,针对充放电倍率(C1、C2)、环境温度(T)以及充放电(V1、V2)的五个应力,进行不同水平的实验;S4、电池的短周期多应力加速老化正交实验;S5、分析多应力组合加速老化实验结果,选择合适的组合应力,并与正常老化对比的同时,分析老化路径误差,最终得到合理的加速工况。根据本发明,通过实验分析得到合理加速等效下的高加速比工况,在机理层面对电池正常老化过程进行加速等效,以达到合理老化路径下的高加速比。
  • 一种基于电池实际衰减机理加速老化实验方法
  • [发明专利]一种PCIE加速老化测试方法、系统、终端及存储介质-CN202310367828.X在审
  • 王云胜;刘传彬 - 苏州浪潮智能科技有限公司
  • 2023-04-07 - 2023-08-04 - G06F11/22
  • 本发明涉及老化测试领域,具体公开一种PCIE加速老化测试方法、系统、终端及存储介质,为每个PCIE加速卡申请各自的直接读写缓冲区;将老化测试数据拷贝到各个直接读写缓冲区;触发直接存储器访问控制器将直接读写缓冲区中到老化测试数据传输到对应的PCIE加速卡的内存,以同时对各个PCIE加速卡进行老化测试;响应于直接读写缓冲区中的老化测试数据到PCIE加速卡内存传输完成,触发PCIE加速卡进行老化测试校验;接收各个PCIE加速卡的老化测试结果,本发明基于直接存储器访问技术,实现在不影响CPU性能的基础上同时对多个PCIE设备进行老化测试,有效提高测试效率,进而提高企业产能,降低产品成本。
  • 一种pcie加速卡老化测试方法系统终端存储介质

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