专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光谱成像-CN200980146746.0有效
  • E·勒斯尔 - 皇家飞利浦电子股份有限公司
  • 2009-11-03 - 2011-10-19 - G01T1/29
  • 一种光谱处理(118),包括:第一处理通道(120),生成从探测信号导出的第一光谱信号,其中,第一光谱信号包括关于探测信号的第一光谱信息;和第二处理通道(120),生成从探测信号导出的第二光谱信号,其中,第二光谱信号包括关于探测信号的第二光谱信息,其中,第一和第二光谱信号用于对探测信号进行光谱解析,并且其中,探测信号指示所探测的多色辐射。
  • 光谱成像
  • [实用新型]植被荧光时序自动观测系统-CN201720123648.7有效
  • 徐翔;陈绩 - 伯格森(北京)科技股份有限公司
  • 2017-02-10 - 2017-12-26 - G01N21/64
  • 本实用新型公开了植被荧光时序自动观测系统,包括工控机部、光谱仪部以及对整个系统提供电源的供电部,工控机部连接并控制光谱仪部并存储光谱仪部的测量数据;光谱仪部包括第一光谱仪和第二光谱仪,第一光谱仪通过两路光纤连接自动切换开关后,自动切换开关再通过两路光纤连接第一光谱探测和第二光谱探测;第二光谱仪通过两路光纤连接自动切换开关后,自动切换开关再通过两路光纤连接第三光谱探测和第四光谱探测;第一光谱探测和第三光谱探测用于检测大气下行辐照度,第二光谱探测和第四光谱探测用于检测植被表观辐亮度。
  • 植被荧光时序自动观测系统
  • [实用新型]光谱测量系统-CN202022997830.X有效
  • 周安萌 - 科大讯飞股份有限公司
  • 2020-12-10 - 2021-10-08 - G01J3/28
  • 本实用新型提供一种光谱测量系统,所述光谱测量系统包括:探测;测量装置,所述测量装置与所述探测电连接,所述测量装置用于驱动所述探测测量目标光谱信息;温控装置,所述温控装置与所述探测连接,所述温控装置用于控制所述探测的温度本实用新型提供的光谱测量系统,通过设置测量装置来驱动探测稳定工作,通过设置温控装置来控制探测的温度,能够降低探测的测量噪声,提高信噪比,从而提高测量精度。
  • 光谱测量系统
  • [发明专利]一种高分辨率光谱-CN202210916340.3在审
  • 胡九龙 - 深圳市欧西徳光控科技有限公司
  • 2022-08-01 - 2022-12-23 - G01J3/28
  • 本发明涉及一种高分辨率光谱仪,将光谱仪中的分光元件设置为光栅,将探测设置为多个,多个探测的传感平面分别设置在光栅的不同级衍射的光谱的成像面;每个传感平面贴合对应光谱的波段不同,从而使每个传感平面能够更加有效的贴合其对应的部分波段的光谱的成像面,有效保证每个探测在其对应的部分波段的分辨率;探测完成后,将全部探测探测信号进行拼接,由于所有传感平面贴合对应光谱的波段之和覆盖探测的全波段,从而使拼接信号等效于探测的全波段,保证探测全波段的分辩率,进而提高光谱仪的分辨率。
  • 一种高分辨率光谱仪
  • [发明专利]用于红外焦平面探测像元光谱响应测试的装置及方法-CN202310642777.7在审
  • 郭杰;张超;孙佰成;肖明燕;项永生 - 云南师范大学
  • 2023-06-01 - 2023-08-18 - G01J3/45
  • 本发明公开了一种用于红外焦平面探测像元光谱响应测试的装置及方法,包括红外焦平面探测;傅里叶变换红外光谱仪,提供红外干涉光源;图像采集卡,用于对照射到整个红外焦平面探测阵列表面的干涉光斑进行图像采集并传送至测控计算机;红外焦平面阵列探测驱动板,与红外焦平面探测和图像采集卡相连;测控模块,为不同类型的探测提供适合的工作电压及时钟,将图像采集卡采集的干涉光斑图像数据变换为光谱响应曲线,并将光谱响应曲线直观地显示在三维坐标系内,同时测试分析探测阵列所有像素光谱响应曲线。具有快速获得任意尺寸探测阵列所有像素光谱响应曲线的功能,能直观发现阵列探测空间上各个像素点光谱响应的差异的优点。
  • 用于红外平面探测器光谱响应测试装置方法
  • [发明专利]一种光电探测绝对光谱响应的校准方法及其装置-CN201210395731.1有效
  • 吕毅军;朱丽虹;陈国龙;高玉琳;陈忠 - 厦门大学
  • 2012-10-17 - 2013-02-06 - G01D18/00
  • 一种光电探测绝对光谱响应的校准方法及其装置,涉及光电探测的测试。设有光栅光谱仪、光电采集电路、计算机、待测光电探测、标准光谱辐照度探头、套筒、会聚透镜组、光源、LED温控夹具和LED稳流源。测出待测光电探测相对光谱响应得相对光谱响应曲线;把探头和光源固定在套筒里,点亮LED和开启夹具,测出不同电流下LED的光谱辐照度分布;把探头卸掉,将待测光电探测固定在套筒中,待测光电探测响应电流经光电采集电路采集不同波长光照下的响应电流值,并送给计算机;已知相对光谱响应和待测光电探测在LED光源的照射下的响应电流可计算出待测光电探测的绝对光谱响应度。
  • 一种光电探测器绝对光谱响应校准方法及其装置
  • [发明专利]一种芯片级星载高光谱成像探测及其光谱成像方法-CN202011252272.2在审
  • 李克武;王爽;王志斌 - 中北大学
  • 2020-11-11 - 2021-02-09 - G01J3/02
  • 本发明属于光谱成像遥感分析技术领域,具体涉及一种芯片级星载高光谱成像探测及其光谱成像方法,包括探测转接环、光谱透过率伪随机操控超构表面和面阵列探测,所述光谱透过率伪随机操控超构表面包括基底、介质堆叠层,所述介质堆叠层设置在基底上,所述光谱透过率伪随机操控超构表面的基底通过探测转接环固定在面阵列探测的像元上面。本发明进一步提高光谱分辨率和空间分辨率,同时兼顾高通量和多光谱探测通道数,最终实现轻量化、集成化的遥感光谱成像探测装置设计,实现高光谱分辨、高空间分辨、高灵敏度和稳定精确的光谱成像探测。本发明用于对光谱成像的探测
  • 一种芯片级星载高光谱成像探测器及其方法
  • [发明专利]光谱仪及光谱分析方法-CN201510104104.1在审
  • 张美英 - 张美英
  • 2015-03-10 - 2015-06-17 - G01J3/28
  • 光谱仪及光谱分析方法。一种光谱仪,该光谱仪包括光源发射模块、样品模块、探测模块、信号处理模块和显示模块,该探测模块包括第一探测和第二探测,所述光源发射模块发出的光一部分直接被第一探测接收,另一部分光照射在该样品模块后被第二探测接收,该信号处理模块将该第一探测和第二探测获取的信号值处理后计算出该样品模块的光谱数值,并通过显示模块显示。该光谱仪具有精确度高的优点。同时由于该光谱仪结构简单,因此有利于降低仪器成本,容易实现专用化。
  • 光谱仪光谱分析方法
  • [发明专利]一种光谱压缩的超光谱成像系统-CN201410431363.0有效
  • 李欢;贺金平;周峰 - 北京空间机电研究所
  • 2014-08-27 - 2015-01-28 - G01J3/28
  • 一种光谱压缩的超光谱成像系统,包括望远系统、掩膜、光谱成像系统、线阵探测组件、信号处理模块。掩膜位于望远系统的成像面上,对入射的光束进行调制。光谱成像系统位于掩膜后面,将通过掩膜的光束进行光谱细分,并成像在线阵探测组件上。线阵探测组件将入射光信号转化为数字信号。信号处理模块对获得的信号进行处理从而获得目标的光谱信息,本发明将压缩感知成像技术与超光谱成像技术结合,将丰富的场景光谱信息压缩采样到少量的探测数据中,对获得的图谱进行重构,利用目标的低维投影重建目标的高维数字模型,实现线阵探测的超光谱成像。本发明降低了探测规模及成像系统的复杂度和超光谱成像对面阵探测的技术依赖。
  • 一种光谱压缩成像系统
  • [发明专利]一种光电探测光谱响应分析系统-CN201410820514.1有效
  • 秦琦;吴南健 - 中国科学院半导体研究所
  • 2014-12-25 - 2018-01-12 - G01M11/02
  • 本发明公开了一种光电探测光谱响应分析系统。所述光电探测光谱响应分析系统包括可控单色光源,用于在一定波段内以连续可调的方式输出固定频率的单色光波;探测室,用于取得参考光电探测和待测光电探测对所述单色光波的光谱响应信号;以及控制装置,用于控制所述可控单色光源以及探测室,并接收光谱响应信号,以生成待测光电探测的相对光谱响应曲线。本发明的光电探测光谱响应分析系统改进光源设计,实现一定波段内出射光波的连续、窄带输出。从而解决现有技术方案中,因透射光波带宽较宽,造成累积效应从而测试精度低的技术问题。
  • 一种光电探测器光谱响应分析系统

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