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[发明专利]一种红外剩余反射率光谱测试附件及测试方法-CN201410717638.7有效
发明人：季一勤;刘丹丹;刘华松;姜承慧;赵志宏;庄克文;冷健 -专利权人：中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所
申请日： 2015-08-04 - 公布日： 2015-07-29 - 主分类号： G01J3/42 文献下载
摘要：本发明属于反射率光谱测量技术领域，具体涉及一种红外剩余反射率光谱测试附件及测试方法。本发明研制专用的红外剩余反射率光谱测试附件，将需要在被测样品上两次反射的反射率测量光路转换成在被测样品上单次反射的反射率测量光路，对减反射薄膜的剩余反射率光谱进行测量。该测试方法的优点在于可以明显提高低反射率光谱的测量精度，特别是对于减反射薄膜剩余反射率光谱的测量效果更为明显，同时该方案对测试样品尺寸没有限制，可以测试大尺寸样品。
一种红外剩余反射率光谱测试附件方法

[发明专利]一种水环境光谱库的建立方法及系统-CN201810096722.X有效
发明人：王思远;申明;游永发;马元旭;刘卫华 -专利权人：中国科学院遥感与数字地球研究所
申请日： 2018-01-31 - 公布日： 2019-11-05 - 主分类号： G01C13/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种水环境光谱库的建立方法及系统。该方法包括：获取每个测量点的多条光谱反射率曲线；剔除波形异常的曲线，得到一级光谱反射率曲线；提取一级光谱反射率曲线在预设波段范围内的光谱曲线，得到二级光谱反射率曲线；计算每个测量点的多条二级光谱反射率曲线的算术平均值，得到平均光谱反射率曲线；对平均光谱反射率曲线依次进行平滑、去除包络线和归一化处理，得到归一化后的光谱反射率曲线；计算每个河段中多个测量点的归一化后的光谱反射率曲线的平均值，得到每个河段的平均光谱反射率曲线；利用所有河段的平均光谱反射率曲线建立水环境光谱库。本发明建立了针对高原高寒河流的水环境光谱库，实现了大范围区域内水环境的准确监测。
反射率曲线光谱反射率曲线平均光谱光谱库水环境测量点河段二级光谱归一化大范围区域归一化处理光谱曲线准确监测包络线波段平滑算术预设去除剔除河流高原

[发明专利]一种基于角度特性校准的高光谱物体反射率测量方法-CN202210634072.6在审
发明人：林晓峰;张世伟 -专利权人：蔚谱光电（上海）有限公司
申请日： 2022-06-07 - 公布日： 2022-09-13 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本发明的一种基于角度特性校准的高光谱物体反射率测量方法，属于物体光谱反射率测量技术领域。通过测量若干个标准色样的物体光谱反射率拟合得到光谱映射曲线，根据拟合得到光谱映射曲线测量计算得到校准后的物体光谱反射率，使得高光谱测量系统的输出数据可以被应用于物体色测量，且大大降低了计算量提高了计算速度
一种基于角度特性校准光谱物体反射率测量方法

[发明专利]基于多光谱成像系统的纱线颜色测量装置及方法-CN201810458769.6有效
发明人：沈会良;周志敏;忻浩忠 -专利权人：浙江大学
申请日： 2018-05-14 - 公布日： 2020-05-08 - 主分类号： G01J3/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于多光谱成像系统的纱线颜色测量装置及方法。将待训练纱线紧贴且平铺地绕在纱线绕制装置上；通过多光谱成像系统测量绕在纱线绕制装置上的待训练纱线的光谱反射率；通过标准测量仪器测量待训练纱线对应纱线板的标准光谱反射率；根据光谱反射率与标准光谱反射率的映射关系，建立最优核岭回归模型；将待测纱线紧贴且平铺地绕在纱线绕制装置上，利用多光谱成像系统测量其光谱反射率，利用最优核岭回归模型将其光谱反射率映射为对应的标准光谱反射率，从而得到待测纱线颜色。本发明解决了纺织和印染工业中利用分光光度计无法测量短纱线的颜色的缺陷，为短纱线颜色的测量提供了可靠且准确的方案。
基于光谱成像系统纱线颜色测量装置方法

[发明专利]油气藏上方土壤氧化还原电位的光谱分析方法及装置-CN201510463300.8有效
发明人：邢学文;于世勇;刘松;申晋利;张强 -专利权人：中国石油天然气股份有限公司
申请日： 2015-07-31 - 公布日： 2016-11-23 - 主分类号： G01N33/24 文献下载
摘要：本发明提供了一种油气藏上方土壤氧化还原电位的光谱分析方法及装置，所述光谱分析方法包括：采集油气藏及其外围浅表设定深度的土壤样品；测量所述土壤样品的氧化还原电位；测量土壤样品的反射率光谱，消除所述土壤样品在设定波长位置的光谱跃迁，对所述反射率光谱进行再处理，生成反射率一阶导数、反射率二阶导数和反射率吸收深度三个衍生光谱指标；计算所述氧化还原电位与所述反射率光谱、反射率一阶导数、反射率二阶导数和反射率吸收深度之间的相关系数；根据所述相关系数，确定建模的最佳光谱指标及建模波长；应用偏最小二乘法建立所述氧化还原电位与最佳光谱指标之间的回归模型。
油气藏上方土壤氧化还原电位光谱分析方法装置

[发明专利]湖泊水体光谱反射率检验方法及装置-CN202010681966.1有效
发明人：陶醉;谢富泰;周翔;吕婷婷;王锦 -专利权人：中国科学院空天信息创新研究院
申请日： 2020-07-15 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种湖泊水体光谱反射率检验方法及装置，所述方法包括：利用预设的水体光谱反射率预测模型对实测水体光谱反射率进行筛选；所述水体光谱反射率预测模型是基于水体参量样本数据、环境参量样本数据和对应的水体样本光谱反射率进行训练后得到的；所述实测水体光谱反射率是通过测量设备对待测水体进行抽样检测得到的光谱反射率；根据筛选后的实测水体光谱反射率对卫星反演算法进行检验和修正，使用修正后的卫星反演算法获取待测水体光谱反射率。通过筛选后的实测水体光谱反射率对卫星反演获取的水体光谱反射率进行验证并修正，解决了现有的通过卫星获取的水体光谱反射率可信度低的缺陷，提高了待测水体的光谱反射率可靠性。
湖泊水体光谱反射率检验方法装置

[发明专利]测量薄膜光学常数的方法、系统、计算设备和存储介质-CN202110225675.6有效
发明人：范灵杰;陈昂;石磊;李同宇;殷海玮 -专利权人：上海复享光学股份有限公司
申请日： 2021-03-01 - 公布日： 2022-01-04 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本公开涉及一种用于测量薄膜光学常数的方法、系统、计算设备和存储介质，该方法包括：获取关于待测对象的第一光谱数据，第一光谱数据至少指示待测对象在入射光的多个波长下、对应于多个测量角度的反射率；基于第一光谱数据，提取预定波长下的第一光谱数据，预定波长下的第一光谱数据指示待测对象在预定波长下、对应于多个测量角度的反射率；确定预定波长下的第一光谱数据中的最大反射率和最小反射率、第一测量角度和第二测量角度；以及基于最大反射率、最小反射率、第一测量角度和第二测量角度，确定待测薄膜在预定波长下的折射率。本公开能够实现无需提前假设薄膜光学常数满足的模型，以及准确测量薄膜的光学常数。
测量薄膜光学常数方法系统计算设备存储介质

[发明专利]一种基于光学干涉的光学薄膜反射率测量系统及测量方法-CN202210385650.7在审
发明人：李成;万震;刘洋 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2022-04-13 - 公布日： 2022-07-29 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种基于光学干涉的光学薄膜反射率测量系统，包括：光纤端面反射率测试子系统，通过改变两个光纤端面之间的腔长距离，采集多组干涉光谱并计算对应腔长；基于双光束干涉公式拟合多组干涉光谱并解算光纤端面的实测反射率；将实测反射率与光谱仪直接测得的光纤端面标准反射率对比，通过多项式拟合获得反射率补偿系数‑腔长的关系式；石墨烯薄膜反射率测试子系统，通过改变对准的单模光纤与光学薄膜之间的距离，采集多组干涉光谱，基于双光束干涉公式拟合干涉光谱，从而解算光学薄膜的实测反射率；及修正子系统，基于反射率补偿系数的表达式对光学薄膜的实测反射率进行修正，获得光学薄膜的修正反射率。还公开了对应的测量方法。
一种基于光学干涉光学薄膜反射率测量系统测量方法

[发明专利]光谱反射率检测方法、系统、设备及计算机可读存储介质-CN202110286141.4在审
发明人：李星辉;白蛟;王晓浩 -专利权人：清华大学深圳国际研究生院
申请日： 2021-03-17 - 公布日： 2021-07-20 - 主分类号： G01J3/42 文献下载
摘要：本申请公开了一种光谱反射率检测方法、系统、设备及计算机可读存储介质,涉及光学测量技术领域。通过色散共焦镜头扫描标准反射镜面，获取多个第一反射光谱信号，通过色散共焦镜头扫描待测表面，获取多个第二反射光谱信号，根据多个第一反射光谱信号提取出标准噪声光谱曲线和标准反射光谱曲线，根据多个第二反射光谱信号提取出待测噪声光谱曲线和待测反射光谱曲线，根据标准噪声光谱曲线、标准反射光谱曲线、待测噪声光谱曲线、待测反射光谱曲线以及标准反射镜面的光谱反射率曲线，得到待测表面的光谱反射率曲线，能够减少对待测表面的光谱反射率的测量误差，提高测量精确度。
光谱反射率检测方法系统设备计算机可读存储介质

[发明专利]一种基于反射率光谱测量光学薄膜厚度的方法及系统-CN201610948968.6在审
发明人：彭先德;向勇 -专利权人：电子科技大学
申请日： 2016-10-26 - 公布日： 2017-02-22 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明涉及薄膜技术领域，具体涉及一种基于反射率光谱测量光学薄膜厚度的方法及系统。一种基于反射率光谱测量光学薄膜厚度的方法，提供多组已知光学薄膜厚度的标准样品，获得多组标准样品中光学薄膜厚度与光学薄膜反射率光谱的色空间坐标之间的对应关系；基于测量待测样品的反射率光谱并获取其对应的色空间坐标在测量待测样品的反射率光谱时，对于待测样品表面的光学薄膜不会造成损害，且测试时间短，因此本发明所提供的方法具有对光学薄膜无损害，且测量快速的优点。一种基于反射率光谱测量光学薄膜厚度的系统，具有对光学薄膜无损害，且测量快速的优点。
一种基于反射率光谱测量光学薄膜厚度方法系统

[发明专利]精确测量光纤光栅反射率的方法-CN201210282809.9在审
发明人：赵耀;韩正英;高业胜;李国超 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请日： 2012-08-10 - 公布日： 2012-12-19 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种精确测量光纤光栅反射率的方法，所述精确测量光纤光栅反射率的方法采用可调谐激光器等且包括以下步骤：接入一个反射率已知、近似全反射的标准反射负载并通过可调谐激光器、隔离器进行波长扫描，功率计记录标准反射负载的光谱曲线；接入被测光纤光栅通过可调谐激光器、隔离器进行波长扫描，功率计记录被测光纤光栅的光谱曲线；被测光纤光栅与标准反射负载的光谱曲线的对应数据相比，峰值点对应的纵坐标值即为反射率。本发明采用波长扫描法测量光纤光栅的反射光谱曲线，进而计算反射率的大小，解决现有方法在测量低反射率光纤光栅时误差较大的问题。
精确测量光纤光栅反射率方法

[发明专利]一种测量绝对反射率谱的装置及方法-CN202111434360.9有效
发明人：张治国;孙志洋;王永达 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2021-11-29 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G01N21/47 文献下载
摘要：本发明公开了一种测量绝对反射率谱的装置及方法，属于材料绝对反射率谱测量技术领域。本发明利用漫反射立方积分腔测量材料绝对漫反射率谱，该立方腔包括腔体和活动可拆卸的顶盖板，腔体的侧壁开有入光孔和出光孔；光源发射的光经过双凸透镜汇聚后通过入光孔进入立方腔内，然后从出光孔射出被光纤探头接收并传输给光谱仪，经光谱仪分光后的光谱数据传输给计算机进行记录。并通过调节不同的顶盖开口大小，得到不同的出射光谱，经数据处理后得到漫反射立方腔的绝对漫反射率谱。本发明通过测量不同附加开孔比条件下的立方腔的出射光谱，准确计算出了腔内壁材料的绝对漫反射率谱，实现了材料绝对漫反射率谱的准确测量。
一种测量绝对反射率装置方法

[发明专利]一种消除材质对光谱反射率测量精度影响的方法-CN201410392131.9有效
发明人：沈会良;郑芝寰 -专利权人：浙江大学
申请日： 2014-08-11 - 公布日： 2017-10-13 - 主分类号： G06F19/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种消除材质对光谱反射率测量精度影响的方法。方法包括分别采用多光谱成像系统和分光光度计得到得到样本测量的光谱反射率和标准的光谱反射率。利用自适应波段选择的方法得到参与校正的波段组合，并根据所得的波段组合二进制差分进化算法计算出光谱反射率的校正矩阵，从而实现光谱反射率的校正。本发明可以利用二进制差分进化算法从光谱反射率的所有采样波段中选择最合适的波段组合参与校正，相比于现有校正方法所采用的局部校正模型具有自适应的特点，从而提高了校正精度。
一种消除材质光谱反射率测量精度影响方法

[发明专利]一种测量弱光纤光栅反射率的方法-CN201510213700.3有效
发明人：陈伟民;张伟;雷小华;许亨艺;李竞飞 -专利权人：重庆大学
申请日： 2015-04-29 - 公布日： 2017-12-08 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种测量弱光纤光栅反射率的方法，属于光谱测量技术领域。该方法具体包括以下步骤将被测光纤光栅放置在低反射率光纤光栅反射率测试系统中；再将被测光纤光栅的UPC型光纤接头端清洁干净，并将它置于介质1中，获得被测光纤光栅的反射谱；然后保持系统固定，迅速再将UPC型光纤接头清洁干净后置于介质2中，再次获得被测光纤光栅的反射谱；最后利用两个反射光谱的峰值计算被测弱光纤光栅的反射率。本发明提供的一种测量弱光纤光栅反射率的方法，通过获取双反射光谱来计算测量弱光纤光栅反射率，消除了光纤端面及光纤接头连接对测量的影响，并且极大地减小了光源功率抖动的问题，能够满足精确测量弱光纤光栅反射率的要求
一种测量弱光光栅反射率方法

[发明专利]一种可见光漫射通信中环境表面反射率谱的测量方法-CN201610150902.2有效
发明人：丁举鹏;黄博扬;徐正元 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2016-03-15 - 公布日： 2018-08-21 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明公开了一种可见光漫射通信中环境表面反射率谱的测量方法，借助积分球以及宽光谱光源对有待测环境表面材料和无待测环境表面材料反射作用下的光谱分别进行扫测，得到该待测环境表面材料的相对反射率谱；借助积分球以及单色光光源对有待测环境表面材料和无待测环境表面材料反射作用下的光谱分别进行扫测，得到该待测环境表面材料对该单色光的绝对反射率；以所获得的单色光的绝对反射率为基准，求得宽光谱范围内其他波长光的绝对反射率；将所获得的全部波长光的绝对反射率拼合，得到整个波长范围内的绝对反射率谱。该测量方法能够准确、高效地获得环境表面材料的绝对反射率谱，提高了可见光漫射通信中反射率的测量效率。
一种可见光漫射通信环境表面反射率测量方法

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