专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果9186046个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [实用新型]一种热成像领域光学成像系统-CN201620768108.X有效
  • -
  • 2016-07-21 - 2017-01-04 - G02B13/14
  • 本申请公开了一种热成像领域光学成像系统,包括沿光线入射方向设置的镜片组和像面,所述镜片组包括沿光线入射方向依次设置的第一透镜、第二透镜和第三透镜,所述第一透镜和第二透镜的光焦度为负,所述第三透镜的光焦度为正该热成像领域光学成像系统可以有效的改善红外线热成像,提高系统的成像质量,并且结构大大简化。
  • 一种成像领域光学系统
  • [发明专利]代码领域-CN201880078781.2在审
  • 詹森·帕克;马丁·魏德曼;加雷斯·里斯·斯托克韦尔;马修·卢西恩·埃文斯 - ARM有限公司
  • 2018-11-09 - 2020-07-24 - G06F12/14
  • 领域管理单元(RMU)(20)管理领域对存储器区域的所有权,每个领域与由处理电路执行的软件过程的至少一部分相对应。存储器存取电路(26)实施区域的所有权权限,其中拥有者领域具有排除其他领域存取存储在其拥有的区域中的数据的权限。当具有并非当前领域的拥有者领域的目标存储器区域由代码领域拥有,并且存储在当前领域所拥有的至少一个存储器区域中的代码领域授权表(908)指示执行目标存储器区域的程序代码被当前领域允许时,存储器存取电路(26)允许从当前领域内执行存储在目标存储器区域中的程序代码。
  • 代码领域
  • [发明专利]一种多功能集成光学器件-CN202210997906.X在审
  • 刘嫱;黄寅明;杨柳妮 - 广西大学
  • 2022-08-19 - 2022-11-04 - G02F1/035
  • 本发明涉及光学器件技术领域,具体涉及一种多功能集成光学器件,包括光学组件和散热组件,光学组件包括壳体和光学器件本体,散热组件包括导热台、散热杆和散热风扇,壳体对导热台提供安装条件,光学器件本体具有分光、相位调制、起偏等功能,用于光纤陀螺、光纤传感等领域,散热组件用于对光学器件本体快速散热,防止光学器件本体散热不及时发生损坏,具体的,通过导热台吸收光学器件本体底部的热量,并将热量传递给散热杆散热,散热风扇往壳体内吹风,对光学器件本体进行风冷散热,加快光学器件本体的散热速度,解决现有光学器件散热效果不佳,易导致光学器件损坏的问题。
  • 一种多功能集成光学器件
  • [发明专利]一种光学-CN202010217207.X在审
  • 洪莘;刘立冬;高育龙 - 昇印光电(昆山)股份有限公司
  • 2020-03-25 - 2021-05-28 - B32B3/30
  • 本发明揭示一种光学革,包括压纹革层和光学层;压纹革层包括可视的视觉侧和相对设置的内侧或视觉侧,所述压纹革层在所述视觉侧具有皮质视感和触感的复数纹理结构;光学层设置于所述压纹革层的内侧,所述光学层包括具有光学效果的微纳结构层光学层的光学效果可使压纹革层的皮质更加亮丽,颜色更加明亮,或者呈现随视觉变化的光影条纹,从而光学革呈现的皮质视感更为出众。光学革可应用于手机壳、电子设备壳体、防伪领域、鞋服领域、皮包面料、汽车内饰、化妆品等包装盒等领域
  • 一种光学
  • [发明专利]材料微区光学性质测量装置-CN202111549338.9在审
  • 孙竞博;刘元峰;文永正;周济 - 清华大学
  • 2021-12-17 - 2022-03-25 - G01N21/01
  • 本发明涉及材料光学性质测量技术领域,具体涉及一种材料微区光学性质测量装置,该装置包括第一光源、反射光学通道、透射光学通道、信号测量通道和信号处理系统;第一光源,用于为反射光学通道和透射光学通道提供入射光;反射光学通道,用于传输材料微区的反射光信号;透射光学通道,用于传输材料微区的透射光信号;信号测量通道,用于获取材料微区的反射信号和透射信号的光谱和成像信息;信号处理系统,基于反射信号和透射信号的光谱和成像信息,对材料微区的原位成像‑原位光谱进行分析,完成材料微区光学性质测量。本发明能够准确获取材料微区的光学信息,在材料微区测试分析领域具有广阔的应用领域和发展前景。
  • 材料光学性质测量装置

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top