专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]监视厚度均匀-CN201611144367.6有效
  • A·佩查尔斯基;F·努塞贝 - 霍尼韦尔国际公司
  • 2016-10-01 - 2022-11-18 - G01S13/46
  • 监视厚度均匀。本文描述了用于监视厚度均匀的设备、方法和系统。一种系统包括发射器,其被配置成在材料正在移动时发射信号通过材料的一部分,衰减器,其被配置成吸收发射信号的第一部分,反射器,其被配置成反射发射信号的第二部分,接收器,其被配置成接收反射信号,以及计算设备,其被配置成基于信号的发射和反射信号的接收之间的时间延迟来确定该部分材料的厚度。
  • 监视厚度均匀
  • [发明专利]轮胎均匀试验机及轮胎均匀测定方法-CN201580046332.6有效
  • 藤原英人 - 株式会社神户制钢所
  • 2015-07-23 - 2019-11-12 - G01M1/16
  • 被提供的轮胎均匀试验机具备主轴、转鼓、推压机构、均匀测定部、控制装置,前述主轴能够在保持轮胎的同时旋转,前述推压机构将转鼓旋转自如地支承,并且通过使转鼓和主轴的相对移动,能够将被装配于主轴的轮胎推压至转鼓,前述均匀测定部测定正向旋转时及反向旋转时的轮胎的均匀,控制装置进行主轴的旋转控制与主轴和转鼓的相对位置的控制,使得在使主轴的旋转方向倒转时,使主轴和转鼓互相远离,在使转鼓的外周面和轮胎的胎面呈非接触的状态下
  • 轮胎均匀试验测定方法
  • [发明专利]一种多晶硅薄膜层的均匀检测装置-CN201810846315.6有效
  • 王琦 - 上海和辉光电股份有限公司
  • 2018-07-27 - 2021-08-24 - G01M11/00
  • 本发明涉及显示器件检测领域,特别涉及一种多晶硅薄膜层的均匀检测装置。上述检测装置包括:信号发射模块、信号检测模块、电压信号产生模块、分析模块;分析模块用于根据信号检测模块检测到的信号以及电压信号产生模块反馈的电压信号确定待测面板内部多晶硅薄膜层的均匀。上述信号发射模块发射的检测信号可以穿过待测面板,检测待测面板的多晶硅薄膜层内部结构的均匀信号检测模块自待测面板的另一侧检测穿过待测面板后的信号;电压信号产生模块向待测面板提供相应的电压信号,分析模块确定待测面板内部多晶硅薄膜层的均匀上述装置能够对待测面板内部多点位的多晶硅薄膜层进行检测,对多晶硅薄膜层的均匀检测更加准确。
  • 一种多晶薄膜均匀检测装置

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