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[发明专利]液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置-CN200810117992.0有效
发明人：唐剑;王大巍;李新国;梁珂;董友梅 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2008-08-19 - 公布日： 2010-02-24 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明提供了一种液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置，其中检测方法包括：步骤1.采集所要检测的液晶显示面板的样本图像；步骤2.根据所述样本图像，利用B样条最小二乘法拟合出所述样本图像所对应的背景图像；步骤3.将所述样本图像和背景图像进行比较，获取云纹缺陷图像。液晶显示面板云纹缺陷的检测装置包括样本图像采集模块、背景图像拟合模块、缺陷图像获取模块。本发明提供的液晶显示面板云纹缺陷的检测方法和检测装置能够提高液晶显示面板云纹缺陷检测的效率和准确率，能够获得理想的云纹缺陷图像。
液晶显示面板缺陷检测方法装置

[发明专利]一种LCD屏幕云纹缺陷检测系统及方法-CN201610379080.5在审
发明人：林彬;张俊 -专利权人：上海微电子装备（集团）股份有限公司
申请日： 2016-05-31 - 公布日： 2017-12-08 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明提出一种LCD屏幕云纹缺陷检测系统及方法，该系统包括平面反射镜，设置于待检测LCD屏幕的侧面；机器视觉系统，包括摄像头，根据不同角度对LCD待检测屏幕以及平面反射镜中的LCD屏幕成像进行拍摄；图像处理模块，对所述机器视觉系统获取的图像进行处理，识别云纹缺陷。本发明提出的LCD屏幕云纹缺陷检测系统及方法，可以实现从不同角度对屏幕进行观察，极大程度地模拟人眼观测，本发明使得图像采集系统的观测方式更加丰富，从而可以更加全面地检测云纹缺陷，可以满足多角度观测的需求
一种 lcd 屏幕缺陷检测系统方法

[发明专利]一种基于光栅成像的缺陷检测成像方法-CN201810927474.9在审
发明人：许照林;董鹏举 -专利权人：苏州富鑫林光电科技有限公司
申请日： 2018-08-15 - 公布日： 2019-01-11 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于光栅成像的缺陷检测成像方法，包括光源、光栅、图像采集装置和图像处理系统；所述光源发出平行光；所述光栅为相位光栅，所述光源发出的平行光经相位光栅衍射，并在物体的表面形成明暗相间的云纹图像；所述图像采集装置采集物体的表面形成的云纹图像；所述图像处理系统接收图像采集装置所采集的云纹图像，判断物体表面是否具有缺陷。其其能够检测物体表面缺陷，检测精度高，检测效率高。
云纹图像光源图像采集装置图像处理系统光栅表面形成光栅成像缺陷检测物体表面相位光栅平行光成像检测采集采集装置接收图像明暗相间衍射

[发明专利]基于相位图像处理的玻璃缺陷检测方法-CN201310168070.3有效
发明人：金永;王召巴;赵霞;陈友兴 -专利权人：中北大学
申请日： 2013-05-08 - 公布日： 2013-10-09 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：本发明涉及基于相位图像处理的玻璃缺陷检测方法，采用基于相位图像处理的玻璃缺陷检测系统，光源发出的光透过光栅，在待检测玻璃的表面形成光强呈余弦分布的云纹，高速线阵摄像机采集玻璃表面的云纹图像，通过图像采集卡传输至工控机，安装在工控机上的缺陷检测处理软件及时处理云纹图像，得到二值化的缺陷图像，其特点是：首先将含有玻璃缺陷和无缺陷的参考相位主值图像对应点相减，利用跳变误差校正算法来消除相减结果中的跳变，再通过数学形态学与高、低阈值相结合的分割算法分割成玻璃缺陷的二值化图像，最后根据二值化图像的数据判断玻璃缺陷；能够大大降低系统噪声的影响，提高运算速度，可实现玻璃缺陷的快速准确检测。
基于相位图像处理玻璃缺陷检测方法

[发明专利]一种非标高反射曲面工件的缺陷检测装置及方法-CN201811630476.8在审
发明人：徐韶华;张文涛;张丽娟;石红强;秦祖军;王伟 -专利权人：桂林电子科技大学
申请日： 2018-12-29 - 公布日： 2019-04-02 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供了一种非标高反射曲面工件的缺陷检测装置及方法，包括第一光路、第二光路、云纹面光源、半透半反透镜、工业相机及计算机，所述云纹面光源发出的云纹条纹光束沿着所述第一光路到达所述半透半反透镜，所述半透半反透镜将所述云纹条纹光束反射至一非标高反射曲面工件表面以形成信号光，所述信号光沿着所述第二光路到达所述半透半反透镜，所述半透半反透镜将所述信号光透射至所述工业相机上以形成检测图像，所述计算机对所述检测图像进行处理以判断出所述非标高反射曲面工件的表面是否有缺陷及缺陷的位置，以精确的检测非标高反射曲面工件表面的缺陷，且解决了在图像采集的时候容易发生眩光导致采集的图像过饱和以及检测的分辨率不可控的问题。
透镜半透半反反射曲面标高光路信号光缺陷检测装置工件表面工业相机检测图像云纹条纹面光源云纹光束反射图像采集过饱和分辨率计算机检测透射眩光采集图像

[实用新型]一种非标高反射曲面工件的缺陷检测装置-CN201822244083.5有效
发明人：徐韶华;张文涛;张丽娟;石红强;秦祖军;王伟 -专利权人：桂林电子科技大学
申请日： 2018-12-29 - 公布日： 2019-10-11 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种非标高反射曲面工件的缺陷检测装置，包括第一光路、第二光路、云纹面光源、半透半反透镜、工业相机及计算机，所述云纹面光源发出的云纹条纹光束沿着所述第一光路到达所述半透半反透镜，所述半透半反透镜将所述云纹条纹光束反射至一非标高反射曲面工件表面以形成信号光，所述信号光沿着所述第二光路到达所述半透半反透镜，所述半透半反透镜将所述信号光透射至所述工业相机上以形成检测图像，所述计算机对所述检测图像进行处理以判断出所述非标高反射曲面工件的表面是否有缺陷及缺陷的位置，以精确的检测非标高反射曲面工件表面的缺陷，且解决了在图像采集的时候容易发生眩光导致采集的图像过饱和以及检测的分辨率不可控的问题。
透镜半透半反反射曲面标高光路信号光缺陷检测装置工件表面工业相机检测图像云纹条纹面光源云纹本实用新型光束反射图像采集过饱和分辨率计算机检测透射眩光采集图像

[发明专利]图像显示系统以及云纹缺陷消除方法-CN200710301925.X无效
发明人：王硕晟;彭杜仁 -专利权人：统宝光电股份有限公司
申请日： 2007-12-20 - 公布日： 2009-06-24 - 主分类号： G09G3/20 文献下载
摘要：本发明提供一种图像显示系统及云纹缺陷消除方法，所述图像显示系统包括一像素矩阵、一存储器、一参数选取器、以及一补偿逻辑运算器。该存储器存储需要进行云纹补偿的像素的云纹补偿参数组。该参数选取器根据该像素矩阵的驱动信号判断正要驱动的一目标像素为何，并且判断该目标像素是否需要云纹补偿。于该目标像素需要云纹补偿时，该参数选取器输出该目标像素的云纹补偿参数组位于该存储器的一存储器地址。根据该存储器地址所存储的云纹补偿参数组，该补偿逻辑运算器产生一补偿后灰度值驱动该目标像素。
图像显示系统以及缺陷消除方法

[发明专利]可调式缺陷定级的定量方法-CN200510085092.9有效
发明人：温照华;范纲政;黄国忠;郭升宗;黄光永 -专利权人：台湾薄膜电晶体液晶显示器产业协会;中华映管股份有限公司;友达光电股份有限公司;广辉电子股份有限公司;瀚宇彩晶股份有限公司;奇美电子股份有限公司;财团法人工业技术研究院;统宝光电股份有限公司
申请日： 2005-07-20 - 公布日： 2007-01-24 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明为一种可调式缺陷定级的定量方法，用以解决在云纹检测上所遭遇的困难，以及现有忽略提升现存以人眼检测效率的可能性及优点，本发明提出一种可调式缺陷定级的定量方法以架构在人眼视觉模型的人因基础，并辅以一可调式装置以达到量化云纹的目的
调式缺陷定级定量方法

[实用新型]玻璃缺陷检测装置-CN201721263407.9有效
发明人：郭向阳;刘文泰;刘贵产;彭飞;郭锋 -专利权人：芜湖东旭光电装备技术有限公司;东旭光电科技股份有限公司;东旭集团有限公司
申请日： 2017-09-28 - 公布日： 2018-03-30 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：本公开涉及一种玻璃缺陷检测装置。光源柜的上表面开设有狭缝，狭缝与待检测玻璃相对设置；透射光栅，设置于光源柜和待检测玻璃之间；图像采集装置，设置于待检测玻璃的上方，用于采集光源通过狭缝发射出的光透过透射光栅后，在待检测玻璃的表面形成的云纹的图像信息；处理单元，与图像采集装置连接，用于接收图像采集装置采集到的云纹的图像信息，并根据云纹的图像信息，确定待检测玻璃的缺陷信息。由此，可有效避免光源被灰尘污染，从而保证玻璃缺陷检测的光照强度，进而提升了玻璃缺陷检测的精度。
玻璃缺陷检测装置

[发明专利]图像显示系统与其云纹缺陷消除方法-CN200710105727.6有效
发明人：王硕晟;彭杜仁 -专利权人：统宝光电股份有限公司
申请日： 2007-05-28 - 公布日： 2008-12-03 - 主分类号： G09G3/36 文献下载
摘要：本发明提供一种图像显示系统，其中不仅揭露一种收集测试数据的方法，更揭露多种消除云纹缺陷的算法。本发明不仅不需要改变像素的结构，更不需要大存储器空间。在消除云纹缺陷的同时，本发明所揭露的算法更可以同时根据不同使用者或使用环境的要求，针对伽马参数(Gamma setting)、白点设定(white point)、以及峰值亮度(peak brightness
图像显示系统与其缺陷消除方法

[发明专利]一种基于光栅成像的缺陷及三维形貌检测方法-CN201810930045.7在审
发明人：许照林;朱文龙 -专利权人：苏州富鑫林光电科技有限公司
申请日： 2018-08-15 - 公布日： 2018-11-13 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于光栅成像的缺陷及三维形貌检测方法，包括以下步骤：步骤一、学习并建立标准模版；步骤二、采集待检产品在光栅成像下的云纹图像；步骤三、对云纹图像进行预处理，得到待检产品的真正的待检区；步骤四、找到所有可能的缺陷位置；步骤五、进行三维形貌检测分析并还原待检产品缺陷的三维信息；步骤六、根据待检产品缺陷的三维信息对待检产品分类处理。本发明的方法利用光栅成像技术解决了产品多样性、差异性带来的问题，结合缺陷检测算法及三维形貌检测算法能够满足目前市场上绝大多数的柔性产品的缺陷检测需求，快速、精准、稳定地检测被测物表面高度微弱不同变化缺陷并还原三维形貌特征
三维形貌检测光栅成像产品缺陷三维信息云纹图像还原预处理缺陷检测算法被测物表面产品多样性标准模版产品分类缺陷检测缺陷位置人工检测柔性产品三维形貌差异性待检区算法采集检测替代分析学习

[发明专利]一种封装模块翘曲变形及缺陷的在线监测方法和装置-CN201910985678.2在审
发明人：刘胜;陈志文;王力成 -专利权人：武汉大学
申请日： 2019-10-17 - 公布日： 2020-01-03 - 主分类号： G01B11/16 文献下载
摘要：本发明属于封装模块监测技术领域，公开了一种封装模块翘曲变形及缺陷的在线监测方法和装置，装置包括投影云纹模块、红外成像模块、监测分析模块；方法包括：通过投影云纹模块获得待测封装模块样品的第一翘曲信息；通过红外成像模块获得待测封装模块样品的第二翘曲信息本发明解决了现有技术中无法对封装模块的翘曲变形及缺陷进行在线监测的问题，能够对实际工业生产过程中的电子器件的封装模块的失效情况进行在线监测。
封装模块翘曲在线监测红外成像模块翘曲变形投影云纹工业生产过程监测分析模块方法和装置电子器件监测结果模块获得信息获得监测

[发明专利]一种实空间云纹条纹的反演方法-CN202310284864.X在审
发明人：张宏业;崔波;赵东;李淼 -专利权人：北京林业大学
申请日： 2023-03-22 - 公布日： 2023-06-09 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明提出的一种实空间云纹条纹的反演方法，可以利用云纹区域的二值图像，及对云纹区域分析后得到的试件栅晶面和参考栅晶向反演得到云纹区域，是对云纹区域参数的验证以及对云纹区域其他参数的进一步计算，它是TEM云纹反演法的延伸。本发明在验证TEM云纹反演法对云纹区域参数的同时，也可以计算出云纹区域存在的一些其他的参数，是对云纹区域的全场测量方法的有一次丰富，在光测力学领域，是对新生成小晶粒的参数计算方法的一次开发。
一种实空间云纹条纹反演方法

[发明专利]一种封装模块翘曲变形及缺陷的三维在线监测方法及装置-CN201910986034.5在审
发明人：陈志文;刘胜;王力成 -专利权人：武汉大学
申请日： 2019-10-17 - 公布日： 2020-01-03 - 主分类号： G01B11/16 文献下载
摘要：本发明属于封装模块监测技术领域，公开了一种封装模块翘曲变形及缺陷的三维在线监测方法及装置，装置包括投影云纹模块、X射线模块、监测分析模块；方法包括：通过投影云纹模块获得待测封装模块样品的第一翘曲信息；通过本发明解决了现有技术中无法对封装模块的翘曲变形及缺陷进行三维在线监测的问题，能够对实际工业生产过程中的电子器件的封装模块的失效情况进行三维在线监测。
封装模块翘曲在线监测三维翘曲变形投影云纹工业生产过程监测分析模块电子器件监测结果模块获得信息获得监测

[发明专利]液晶面板的云纹缺陷排除方法-CN201810870605.4在审
发明人：薛雅哲 -专利权人：薛雅哲
申请日： 2018-08-02 - 公布日： 2019-03-05 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：一种液晶面板的云纹缺陷排除方法，该液晶面板包含两个间隔相对的基板、位于所述基板间并且含有液晶的液晶层，以及位于所述基板间并固定于该液晶层周围的黏胶层，该黏胶层具有朝向并环绕该液晶层的内侧面，以及相反于该内侧面的外侧面该液晶面板的云纹缺陷排除方法包含步骤A：在该黏胶层形成穿孔，该穿孔由该黏胶层的该内侧面延伸至该外侧面，该穿孔的尺寸为0.1mm～0.3mm。本发明利用简单的方法步骤来排除液晶面板的缺陷，该方法容易进行，操作方便。
液晶面板液晶层黏胶层穿孔基板云纹缺陷外侧面液晶侧面延伸间隔相对施加压力穿孔的黏着剂密封流出环绕施加侧面

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