[发明专利]状态迁移图分解、遍历回路处理和测试用例自动生成方法无效

专利信息
申请号: 99124718.3 申请日: 1999-11-27
公开(公告)号: CN1151434C 公开(公告)日: 2004-05-26
发明(设计)人: 刘日昇;刘玉平;江华 申请(专利权)人: 深圳市中兴通讯股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518057广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: SDL软件测试用例自动生成方法,是通过计算机自动分解、遍历SDL状态迁移图,得到由输入消息和输出消息构成的测试用例的。首先录入SDL状态迁移图;对其进行简化分解处理;然后用数据结构表示;最后计算机自动遍历经数据结构表示的SDL状态迁移图;遍历结果即为测试用例。本发明降低了SDL状态迁移图用数据结构表示的难度,避免遍历过程中出现计算机死循环,能由SDL状态迁移图自动生成完整可靠的SDL软件测试用例。
搜索关键词: 状态 迁移 分解 遍历 回路 处理 测试 自动 生成 方法
【主权项】:
1、一种计算机遍历SDL状态迁移图中回路处理方法,包括如下步骤:(1)计算机遍历SDL状态迁移图中起始点至终了点的路径,在出现回路的路径末尾添加一个回路标志并终止计算机对当前路径的搜索;继续下一条路径的遍历;同时把计算机遍历得到的所有路径作为临时数据写入存储器中;直到SDL状态迁移图起始点至终了点间所有的路径都搜索完为止;(2)把存储器中的临时数据读入到计算机内存,并在临时数据中查找回路标志所在的路径,找出回路标志之前的状态点B,把本路径的回路标志及状态点B从路径中删除;而后在内存临时数据中查找状态点B到SDL状态迁移图终了点之间的任意一条路径,并将这一段路径追加到出现回路的路径中去;同样可以处理其它出现回路的路径。
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