[发明专利]防止集成电路误入测试模式的内置装置无效
| 申请号： | 98101709.6 | 申请日： | 1998-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN1125346C | 公开（公告）日： | 2003-10-22 |
| 发明（设计）人： | 陈俊雄;孙葆祥;范姜弘宇 | 申请（专利权）人： | 盛群半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/3185;G06F11/22 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 袁炳泽 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本文公开的集成电路包括：启动测试模式电路，它产生测试模式启动信号，使集成电路进入测试模式；自动复位电路，响应测试模式启动信号，防止集成电路在正常工作期间误入测试模式。 | ||
| 搜索关键词： | 防止 集成电路 测试 模式 内置 装置 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路，包括测试模式检测电路，其特征在于，测试模式检测电路包括：测试触发信号输入端，用于接收测试触发信号；数据输入端，用于接收测试数据信号；存储器，用于储存测试数据模型；比较器，与存储器和数据输入端相连，用于对测试数据信号和测试数据模型进行比较，从而产生比较信号；第一与门，与数据输入端和比较器相连，用于生成比较信号；D-触发器，具有D-输入端，并且与第一与门相连，用于延迟比较信号并且在预定时间段后在其Q-输出端再现比较信号；第二与门，与触发器的Q-输出相连，用于生成测试模式启动信号，使得集成电路进入测试模式。
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