[发明专利]扫描系统的校准装置和方法无效
| 申请号： | 98101655.3 | 申请日： | 1998-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN1121110C | 公开（公告）日： | 2003-09-10 |
| 发明（设计）人： | 李酉文;蔡振财;陈锡闵 | 申请（专利权）人： | 鸿友科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04N1/047 | 分类号： | H04N1/047 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 台湾省新竹科 学*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种扫描系统的校准装置，其校准板上包含至少一第一解析度分析图样，第一解析度分析图样包括一分析该透镜的水平解析度的垂直线组，垂直线组的每一垂直线距离为相等的；第二解析度分析图样，邻近于第一解析度分析图样并形成在该校准板上，该第二解析度分析图样包括每一不透明线距为相等的不透镜线组。本发明的透镜和影像感知器校准方法与过去相比较要简单得多，能够简单明显地进行边界校准与解析度分析。 | ||
| 搜索关键词： | 扫描 系统 校准 装置 方法 | ||
【主权项】：
1、一种扫描系统的校准装置，其特征在于：它包含设置于一感知器的前方以校正感知器和透镜的校准板，该透镜位于该校准板和该感知器之间；集成电路应答由该影像感知器产生一影像信号；储存该影像信号的暂存器连接集成电路；处理该影像信号的电脑连接到暂存器；显示影像信号的显示器连接到电脑；所述的校准板包含至少一种形成在该校准板上的第一解析度分析图样，第一解析度分析图样包括一垂直线组以供分析该透镜的水平解析度，该垂直线组的每一垂直线距为相等的；至少一种第二解析度分析图样，以供分析该透镜的垂直解析度，该第二解析度分析图样形成于靠近于该第一解析度分析图样并在该校准板上形成，第二解析度分析图样包括分析透镜解析度的不透明线组相对于垂直线有一角度的倾斜，该不透明线距为相等。
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