[发明专利]测试固定在引线架上的电子器件的方法无效
| 申请号： | 94118825.6 | 申请日： | 1994-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN1104647C | 公开（公告）日： | 2003-04-02 |
| 发明（设计）人： | 劳尤坎;陈金同;李琶梭;余洪新;霍阔宽 | 申请（专利权）人： | 摩托罗拉公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 陆立英 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 测试固定在引线架上的多个电子器件的方法包括将固定在一个公共引线架上的一个以上的电子器件(42、44、46)置位于测试夹具(50)下方，并与测试夹具(50)接触以实施电气测试。因同时可测试一个以上的器件，故明显地提高测试效率并减少可能积存在测试夹具上的污物。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 固定 引线 架上 电子器件 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试集成电路组件(42、44、46)的方法，提供多个引线架(20)，其上固定有集成电路组件(42、44、46)，该集成电路组件(42、44、46)具有电接触体(16、18)；该方法其特征在于包括以下步骤：提供相应的多个测试设备(72、74、76)；在相应的测试设备(72、74、76)上电气测试每个引线架(20)上的集成电路组件(42、44、46)，该测试包括将引线架置于测试夹具(50)下方和使测试夹具(50)与电接触体(16、18)接触；以及将多个引线架(20)提供给一个修整成形设备(78)，在第一预定时间间隔内对这些集成电路组件(42、46、48)进行修整、成形、并将其分为单个组件。
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