[发明专利]防伪商标或标志的制造方法无效

专利信息
申请号: 94104555.2 申请日: 1994-05-03
公开(公告)号: CN1033191C 公开(公告)日: 1996-10-30
发明(设计)人: 黄正德;刘永辉;侯龙;杨毅 申请(专利权)人: 黄正德;刘永辉;侯龙;杨毅
主分类号: G09F3/10 分类号: G09F3/10
代理公司: 北京申翔知识产权服务公司专利代理部 代理人: 邓定机
地址: 102413*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 防伪商标或标志的制法。使高能重离子或裂变碎片通过成像模具后辐照在透明塑料薄膜上,辐照后可在薄膜上形成具有鲜明对比度的乳白色图案。该图案可作为商标或商品标志使用。由于薄膜上经过辐照的区域具有很多微孔,可以透气透水,故消费者易于鉴别真伪。这样制成的商标或标志不易仿造,而且制造成本低廉。
搜索关键词: 防伪 商标 标志 制造 方法
【主权项】:
1、一种利用重离子成像来制造防伪商标或标志的方法,其特征在于,利用厚度为5-30μm的透明塑料薄膜为原材料,利用重离子发生器产生的重离子为辐照能源,用重离子加速器将重离子加速至其能量达到80MeV以上,以能穿透塑料薄膜为准,在重离子的通道上安装有成像模具,使成像后的重离子束辐照在塑料薄膜上,辐照时间为0.5-2秒,然后用NaOH溶液对薄膜进行蚀刻显像处理1小时以上,以干燥后能显出清晰的图像为准,最后用水清洗并将其干燥。
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