[实用新型]微波场强液晶检测器无效
| 申请号： | 92226592.5 | 申请日： | 1992-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN2133848Y | 公开（公告）日： | 1993-05-19 |
| 发明（设计）人： | 丁智才;饶良仁;周学贤;何潜;杨伟民 | 申请（专利权）人： | 机械电子工业部上海电控研究所 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 上海专利事务所 | 代理人： | 沈昭坤 |
| 地址： | 200092*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供一种微波场强检测器。传统的检测微波场强的方法有金属探针法和氯化钻试纸法，它们各自存在的缺点是干扰待测场、使用麻烦、不能检测微弱场和不可重复使用等。本实用新型的微波场强检测器包括基片、变色液晶层、电阻层和保护层，变色液晶层涂覆于基片，保护层覆盖于变色液晶层上，电阻层位于相对于基片上相对变色液晶层的另一侧。本检测器克服了上述缺点，具有使用方便，显示直观、不干扰待测场和可重复使用的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 微波 场强 液晶 检测器 | ||
【主权项】：
1、一种微波场强液晶检测器，其特征在于包括基片、变色液晶层、电阻层和保护层，所述变色液晶层涂覆于所述基片上，所述保护层覆盖于所述变色液晶层上，所述电阻层位于所述基片上相对于所述变色液晶层的另一侧。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于机械电子工业部上海电控研究所，未经机械电子工业部上海电控研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/92226592.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
