[实用新型]测定冲击试样缺口显微镜无效

专利信息
申请号: 91202073.3 申请日: 1991-02-02
公开(公告)号: CN2089171U 公开(公告)日: 1991-11-20
发明(设计)人: 牟艳旗;程佐玉 申请(专利权)人: 程佐玉;牟艳旗
主分类号: G01N3/30 分类号: G01N3/30;G02B21/32
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 132011 吉林省*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 实用新型提供一种快速准确地确定冲击试样缺口尺寸是否符合国家标准的测定冲击试样缺口显微镜。属于光学测量仪器,其特征是,在镜头部分中制作装入能够比对测定五种冲击试样缺口尺寸的尺寸公差带上分划板。镜头支承部分由底座、立柱和悬臂固结组合构成,比对测定调距部分由转动丝杠手轮、转动两个螺杆、转动平台实现,本新型解决了长期存在的测定冲击试样缺口尺寸的困难,使用之可较大地提高材料抗冲击性能试验数据的真实可靠性。
搜索关键词: 测定 冲击 试样 缺口 显微镜
【主权项】:
1、一种测定冲击试样缺口显微镜,用于快速、准确地确定冲击试样缺口是否合格,由镜头部分、镜头支承部分和比对测定调距部分构成,其特征在于a,所述镜头(7)部分,由制作具有冲击试样(3)缺口尺寸公差带的上分划板(4)和其它部件组合构成;b,所述镜头(7)支承部分,以底座(10)与立柱(11)相固结,立柱(11)悬端与悬臂(12)一端相固结,其悬臂(12)另一端与镜头(7)嵌装配合,底座(10)孔与镜头(7)轴线同轴;c,所述比对测定调距部分,丝杠(9)上端径向嵌装固结一个圆环(13)呈现圆柱状并且中部开口,由螺杆(4)通过圆环(13)至开口与装入开口内的另一构件(14)下端轴颈以螺纹方式配合,当转动螺杆(4)时另一构件(14)承载其上冲击试样(3)沿转动轴线移动。另一构件(14)上端与丝杠(9)的上端形状构造相同,由螺杆(5)通过圆环(13)至开口与装入开口内的平台(1)下端轴颈以螺纹方式配合,当转动螺杆(5)时平台(1)承载冲击试样(3)圆周转动,当转动手轮(6)时可使冲击试样(3)升降。
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