[发明专利]充气绝缘电气装置内的故障探测法和探测仪无效

专利信息
申请号: 90104434.2 申请日: 1990-06-14
公开(公告)号: CN1021136C 公开(公告)日: 1993-06-09
发明(设计)人: 石川敏雄;岩浅修藏;内海知明;远藤奎将 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/12
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利代理部 代理人: 王宪模
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种探测充气绝缘电气装置内故障的探测方法和探测仪,用以从金属外壳的外面探出在金属外壳内出现的绝缘故障的位置。若干装在金属外壳内某些位置上的探头(So-Sn)发出控测信号,从中得出在500MHz或500MHz以上的高频带频谱强度(YH),从各探头的频谱强度和安装位置的关系中算出具有最大频谱强度的位置,此位置即为部分放电的位置(X)。
搜索关键词: 充气 绝缘 电气 装置 故障 探测 探测仪
【主权项】:
1.一种在充气绝缘电气装置内探测故障的方法,其中,一高压导线(2)由一绝缘支承构件(1)支承在一充气绝缘气体的金属外壳(3)内,此方法可通过若干装在金属外壳内的一些位置上用以探测部分放电的探头(So-Sn)探出在金属外壳(3)内出现的部分放电的位置,其特征是:用探头(So-Sn)探测由部分放电发射出的电磁波,对电磁波的频谱进行分析以区另集中在500MRz以下低频带以内的外部噪声成分的频谱和由部分放电发射出的与所述外部噪声成分相比具有高频成分的电磁波的频谱并得出所区另出的由部分发电发射出的电磁波的频谱强度(YH),得出具有最大频强度的位置(X),此最大频谱强度是根据各探头的频谱强度从各探头的安装位置和金属外壳内电磁波的线性衰减特性之间的相互关系中求出的,此位置(X)是作为部分放电的位置沿金属外壳的纵向得出的。
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