[其他]无接触高分辨率扫描式激光轮廓仪无效

专利信息
申请号: 86106872 申请日: 1986-10-27
公开(公告)号: CN86106872A 公开(公告)日: 1988-05-11
发明(设计)人: 周肇飞 申请(专利权)人: 成都科技大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B9/02
代理公司: 成都科技大学专利代理事务所 代理人: 肖浚泽
地址: 四川省成都市*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 新的无接触高分辨扫描式激光轮廓仪。以两束偏振方向正交且同轴的激光束作为干涉仪的两个臂,用本发明的方法使其中一束成为直径较大的平行光束,另一束则会聚成很小的光点,一齐落到被测表面上。测量分辨率达到1,若被测表面反射性能良好可做到0.1。适用于测量各种金属与非金属的精细表面轮廓形状,如高级镀模光学表面,大功率激光器的金属反射镜,X射线天文装置的反射面,硅片材料表面,超大规模集成电路,校对轮廓仪的精细标准块等。
搜索关键词: 接触 高分辨率 扫描 激光 轮廓仪
【主权项】:
一种无接触高分辨率扫描式激光轮廓仪[1]其特征在于:1、用偏振分光器件如双折射晶体或其它偏振分光器将激光分成偏振方向互相垂直的两束,一束作为干涉仪的参考臂会聚于物镜上方,经物镜后变成直径较大并可变换的平行光束γ1,而另一束γ2作为测量臂在进入物镜前保持为平行光,经物镜会聚成极小光点落在试件表面上,此两束光中心同轴。上述可变换尺寸的大直径参考臂光束由于其光斑直径甚大,对于被测表面的细小起伏不平无反应(可忽略不计)。而测量臂由于会聚于试件表面上的光斑甚小(可达1μm),所以能够以1μm的横向分辩率测量在高(深)度方向精细到1(埃)的表面轮廓形状(极限分辩率可达0.1)。2、光束ν1和ν2照射到被测表面上时是同轴的,最理想的利用了差动干涉仪原理,具有高稳定性和抗干扰性能,为信号处理采用精细相位测量法提供了信号高信噪比条件。3、参考光束ν1的直径大小是可以通过变换物镜组来改变的,一般范围由40μm~10mm,能适应各种不同形状的试件。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都科技大学,未经成都科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/86106872/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top