[其他]表面粗糙度测量仪无效

专利信息
申请号: 85105285 申请日: 1985-07-10
公开(公告)号: CN1005790B 公开(公告)日: 1989-11-15
发明(设计)人: 水野哲 申请(专利权)人: 株式会社三丰制作所
主分类号: 分类号:
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利代理部 代理人: 吴增勇
地址: 日本国东京*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种表面粗糙度测量仪,其中,来自一个位移探测器(32)-(为用电检测测量臂(5)的一个旋转位移)的一个模拟给出信号被转换为数字信号,然后计算这一输出信号,以便测量一个待测工件(18)的表面粗糙度,这个表面粗糙度测量仪借助设置装置(42)设定取样数N,即2n等分待测长度,该测量仪还包括一个定时电路(40)用作取样控制,使每次取样时控制模/数转换器39。
搜索关键词: 表面 粗糙 测量仪
【主权项】:
1、一种表面粗糙度测量仪,其中所述的测量仪包括:一个测量仪的主体;一个探头-包括一个测量臂,由主体可旋转地支承在它的一端,并在距旋转支点一个予定距离的位置上配备一个接触元件;一个位移探测器,用于检测一个以电信号形式的测量臂的旋转位移;和一个信号处理部件,用于以一予定方式处理从位移检测器来给出信号,由此测得待测工件的表面粗糙度-该工件处于与所述接触元件接触或与其相对运动状态,特征在于:其中的位移探测器是模拟信号给出型探测器,一个模/数转换器将为此获得的模拟给出信号转换为数字信号,上述数字信号经运算电路处理,由此计算出所述工件的表面粗糙度-计算时任:何设定的测量长度被取样数N即2n所等分;一个时间电路,用于取样控制:在每次取样时,由模/数转换器将模拟给出信号转换为数字信号。
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