[发明专利]一种用于电流驱动光器件性能测试的电路和方法在审
| 申请号： | 202311206737.4 | 申请日： | 2023-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN116930671A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 熊伟霖;许远忠;张强;刘伟;姚娜 | 申请（专利权）人： | 成都光创联科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R19/25;G05B19/042 |
| 代理公司： | 北京市领专知识产权代理有限公司 11590 | 代理人： | 潘镜如;林辉轮 |
| 地址： | 610000 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于电流驱动光器件性能测试的电路和方法，包括步骤：微控制单元向电流驱动单元输出使能控制信号；电流驱动单元根据使能控制信号向负载接口输出测试电流；电流监控单元采集电流驱动单元输出的测试电流，并向微控制单元反馈与测试电流对应的监控电流；微控制单元对比使能控制信号和监控电流，当使能控制信号与监控电流不匹配时，对使能控制信号进行校准，直到使能控制信号与监控电流匹配。本发明通过闭环监控对负载接口输出的测试电流，提高实际输出的测试电流的精度，从而对负载接口处连接的光器件进行准确的电流性能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 电流 驱动 器件 性能 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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